阵列基板及其制作方法、显示面板技术

技术编号:25955710 阅读:22 留言:0更新日期:2020-10-17 03:48
一种阵列基板及其制作方法、显示面板,所述阵列基板包括沿第一方向依次层叠设置的衬底基板、第一金属层、第一绝缘层、非晶硅有源层、N+非晶硅层、第二金属层、钝化层以及像素电极;其中,所述非晶硅有源层正对于所述N+非晶硅层进行设置,且所述非晶硅有源层与所述N+非晶硅层在第二方向正投影的长度相等;有益效果为:当背光亮度发生变化时,耦合电容Cpd上下极板的交叠面积始终不发生变化,即耦合电容Cpd的电容值不发生变化,进而减小了显示面板显示时出现水波纹影响显示质量的情况。

【技术实现步骤摘要】
阵列基板及其制作方法、显示面板
本申请涉及显示领域,特别是涉及一种阵列基板及其制作方法、显示面板。
技术介绍
现有的液晶显示面板(LCD,LiquidCrystalDisplay)在显示时出现水平亮暗纹,即水波纹(waterfall);随着背光模组亮度的变化而发生变化,即当将所述背光模组的亮度值发生变化时,水波纹的宽度也随之变得不同。经研究发现,水波纹的产生也与电容的变化有关。当电容发生变化时,有水波纹产生;当电容不发生变化时,无水波纹产生。由公式:C=εS/d知,电容的变化与电容上下极板之间的接触面积S以及上下极板之间的高度差d有关。现阶段的液晶显示面板为了节省电量,背光采用一种调光(dimming)模式,即电流信号为脉冲式的给入亮、暗信号,当背光亮时,所述非晶硅有源层Astail是半导体,受到光照后,变为导体开始导电,相当于增加了第二金属层的宽度,所以耦合电容Cpd(由像素电极和数据线构成,此处由像素电极与第二金属层构成)的下电极板为所述非晶硅有源层,耦合电容Cpd上下极板的交叠面积S即为所述非晶硅有源层与像素电极之间的交叠面积;当背光暗时,所述非晶硅有源层是半导体,无光照射时不导电,但所述N+非晶硅层N+tail是导体,无论有光或是无光是一直导电的,因此此时耦合电容Cpd的下基板为所述N+非晶硅层,耦合电容Cpd上下极板的交叠面积S即为所述N+非晶硅层与所述像素电极之间的交叠面积;当所述N+非晶硅层与所述非晶硅有源层的长度不同时,所述耦合电容Cpd在有光和无光时的电容值是不同的,因此,会导致显示面板在显示时出现水波纹的现象。因此,现有的液晶显示面板技术中,还存在着液晶显示面板在有光与无光时,电容上下极板的接触面积的变化使得显示面板在显示时出现水波纹的问题,急需改进。
技术实现思路
本申请涉及一种阵列基板及其制作方法、显示面板,用于解决现有技术中存在着液晶显示面板在有光与无光时,电容上下极板的接触面积的变化使得显示面板在显示时出现水波纹的问题。为解决上述问题,本申请提供的技术方案如下:本申请提供的阵列基板,所述阵列基板包括沿第一方向依次层叠设置的衬底基板、第一金属层、第一绝缘层、非晶硅有源层、N+非晶硅层、第二金属层、钝化层以及像素电极;其中,所述非晶硅有源层正对于所述N+非晶硅层进行设置,且所述非晶硅有源层与所述N+非晶硅层在第二方向正投影的长度相等。根据本申请提供的一种实施例,所述第一方向垂直于所述第二方向。根据本申请提供的一种实施例,所述非晶硅有源层沿所述第一方向的正投影长度大于所述N+非晶硅层沿所述第一方向的正投影长度。根据本申请提供的一种实施例,所述像素电极沿所述第二方向的部分区域的正投影面积与所述N+非晶硅层沿所述第二方向的部分区域的正投影面积重叠。根据本申请提供的一种实施例,所述第一金属层与所述第二金属层的材料为钼、钛、铝、铜、镍中的一种或多种的堆栈组合。本申请还提供一种阵列基板的制作方法,采用上述所述的阵列基板,该方法包括以下步骤:S10,提供衬底基板,并在所述衬底基板一侧沿第一方向依次形成第一金属层、第一绝缘层、非晶硅有源层、N+非晶硅层、第二金属层以及光刻胶层;S20,对所述第二金属层进行第一次湿法刻蚀;S30,对所述光刻胶层进行灰化处理,此时所述光刻胶层沿第二方向的长度大于所述第二金属层沿第二方向的长度;S40,所述光刻胶层作为掩膜板,采用干法刻蚀所述非晶硅有源层与所述N+非晶硅层,使得所述非晶硅有源层与所述N+非晶硅层沿第二方向的正投影长度相等;S50,对所述第二金属层进行第二次湿法刻蚀;S60,对所述第一绝缘层进行第二次干法刻蚀;S70,剥离掉所述光刻胶层,再在所述第二金属层背离所述衬底基板的一侧形成钝化层以及像素电极。根据本申请提供的一种实施例,所述光刻胶层为等腰梯形。根据本申请提供的一种实施例,所述等腰梯形有两个边平行于所述第二方向,分别为:第一边和第二边,所述第一边的长度小于所述第二边的长度。根据本申请提供的一种实施例,所述非晶硅有源层平行且正对于所述光刻胶层第二边设置,且所述非晶硅有源层沿所述第二方向的长度等于所述光刻胶层第二边的长度。本申请还提供一种显示面板,所述显示面板包括:上述所述的阵列基板,平行且正对于所述阵列基板设置的彩膜基板以及设置在所述阵列基板与所述彩膜基板之间的液晶层。与现有技术相比,本申请提供的一种阵列基板及其制作方法、显示面板的有益效果为:本申请提供的阵列基板,所述阵列基板包括沿第一方向依次层叠设置的衬底基板、第一金属层、第一绝缘层、非晶硅有源层、N+非晶硅层、第二金属层、钝化层以及像素电极;其中,所述非晶硅有源层正对于所述N+非晶硅层进行设置,且所述非晶硅有源层与所述N+非晶硅层在第二方向正投影的长度相等,当背光亮度发生变化时,耦合电容Cpd上下极板的交叠面积始终不发生变化,即耦合电容Cpd的电容值不发生变化,进而减小了显示面板显示时出现水波纹影响显示质量的情况。附图说明为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本申请实施例提供的阵列基板的第一制作工艺结构示意图。图2为本申请实施例提供的阵列基板的第二制作工艺结构示意图。图3为本申请实施例提供的阵列基板的第三制作工艺结构示意图。图4为本申请实施例提供的阵列基板的第四制作工艺结构示意图。图5为本申请实施例提供的阵列基板的第五制作工艺结构示意图。图6为本申请实施例提供的阵列基板的第六制作工艺结构示意图。图7为本申请实施例提供的阵列基板的制作方法的流程示意图。具体实施方式下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然,所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。在本申请的描述中,需要理解的是,术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本申请和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本申请的限制。此外,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述特征。在本申请的描述中,“多个”的含义是两本文档来自技高网
...

【技术保护点】
1.一种阵列基板,其特征在于,所述阵列基板包括沿第一方向依次层叠设置的衬底基板、第一金属层、第一绝缘层、非晶硅有源层、N+非晶硅层、第二金属层、钝化层以及像素电极;其中,/n所述非晶硅有源层正对于所述N+非晶硅层进行设置,且所述非晶硅有源层与所述N+非晶硅层在第二方向正投影的长度相等。/n

【技术特征摘要】
1.一种阵列基板,其特征在于,所述阵列基板包括沿第一方向依次层叠设置的衬底基板、第一金属层、第一绝缘层、非晶硅有源层、N+非晶硅层、第二金属层、钝化层以及像素电极;其中,
所述非晶硅有源层正对于所述N+非晶硅层进行设置,且所述非晶硅有源层与所述N+非晶硅层在第二方向正投影的长度相等。


2.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,所述第一方向垂直于所述第二方向。


3.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,所述非晶硅有源层沿所述第一方向的正投影长度大于所述N+非晶硅层沿所述第一方向的正投影长度。


4.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,所述像素电极沿所述第二方向的部分区域的正投影面积与所述N+非晶硅层沿所述第二方向的部分区域的正投影面积重叠。


5.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,所述第一金属层与所述第二金属层的材料为钼、钛、铝、铜、镍中的一种或多种的堆栈组合。


6.一种阵列基板的制作方法,其特征在于,采用上述所述的阵列基板,该方法包括以下步骤:
S10,提供衬底基板,并在所述衬底基板一侧沿第一方向依次形成第一金属层、第一绝缘层、非晶硅有源层、N+非晶硅层、第二金属层以及光刻胶;
S20,对所述第二金属层...

【专利技术属性】
技术研发人员:孙圣
申请(专利权)人:TCL华星光电技术有限公司
类型:发明
国别省市:广东;44

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1