测试治具机架组制造技术

技术编号:2590311 阅读:171 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术涉及一种测试治具机架组,包括有基架本体、测试仪器、数个测试架及切换器,其中测试仪器设置于基架本体与测试架电连接,且各测试架供一测试治具设置,以电连接一受测物,切换器电连接测试仪器以及各测试治具,以选择任一测试治具与测试仪器电连接,藉以使测试仪器对所选择的测试治具上的受测物进行电测试,之后,令切换器使另一受测物作测试,当然,先前经过测试的受测物,也可在另一受测物作测试的同时,更换成其它受测物,而节省测试时间及提升测试效率,并且减少所需耗费的测试机器成本。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种测试治具机架组,应用于工厂的测试在线,以对受测物作测试。
技术介绍
当工厂有测试机件的需求时,都是设置测试线以做测试,且测试在线设有许多用以对机件作相异功能测试的工作站,如图1所示,为工厂中公知测试线的示意图,L1、L2及L3皆为公知的生产线,所示的方块为工作站,因而在测试机件的流程中,机件会经过多个工作站,才能够完成一个完整的测试,通常为了减少测试所耗费的时间,多选择在同一工作站中,设有多个相同测试功能的机器,然而,这样却无法节省测试时间及提升测试效率,并且增加所需耗费的测试机器成本。
技术实现思路
本专利技术的主要目的即为提供一种测试治具机架组,以节省测试时间及提升测试效率,并且减少所需耗费的测试机器成本。根据本专利技术所揭示的测试治具机架组,包括有基架本体、测试仪器、数个测试架及切换器,其中测试仪器设置于基架本体上,且可具有显示器(当然其可为液晶模块或是阴极映像管显示器),测试架以可活动的关系设置于基架本体,与测试仪器电连接,且各测试架供一测试治具设置,并分别具有连接器,用以电连接受测物,测试架并供受测物设置,切换器电连接测试仪器以及各测试治具,以选择任一测试治具与测试仪器电连接,藉以使测试仪器对所选择的测试治具上的受测物进行电测试。当然,在做完受测物的测试后,可更换成其它受测物而继续做测试,且在更换的同时亦可继续做另一个受测物的测试,所以可以节省测试时间及提升测试效率,并且减少所需耗费的测试机器成本。为使对本专利技术的目的、构造特征及其功能有进一步的了解,兹配合附图详细说明如下。附图说明图1为工厂中公知测试线的示意图;及图2为本专利技术的示意图。其中,附图标记说明如下10基架本体20测试仪器21显示器22输入器23处理器30数个测试架31测试治具311 连接器40切换器具体实施方式如图2所示,本专利技术为一种测试治具机架组,此测试治具机架组包括有基架本体10、测试仪器20、数个测试架30及切换器40,测试仪器20设置于基架本体10,并包括有用以显示测试结果的显示器21、用以输入测试指令的输入器22及用以处理数据的处理器23,当然,显示器21可为阴极映像管显示器抑或是液晶模块显示器,测试架30以可活动的关系设置于基架本体10,与测试仪器20电连接,且各测试架30供一测试治具31设置,并分别具有连接器311,用以电连接受测物(图中未示),测试架30并供受测物设置,切换器40电连接测试仪器20以及各测试治具31,以选择任一测试治具31与测试仪器20电连接,藉以使测试仪器20对所选择的测试治具31上的受测物进行电测试。因此,在对受测物做测试时,可将受测物电连接于相异的连接器311,再以测试仪器20的输入器22输入测试指令,以经由测试仪器20的处理器23对切换器40做切换,而使测试仪器20与其一连接器311作电连接,以致使与此连接器311电连接的受测物作测试,并将此受测物的测试结果显示于显示器21(当然,其可为阴极映像管显示器抑或是液晶模块显示器),另外,可继续再做另一受测物的测试,也就是再以测试仪器20的输入器22输入测试指令,并经由测试仪器20的处理器23对切换器40做切换,而使测试仪器20与此另一连接器311作电连接,以致使与此另一连接器311电连接的受测物作测试,并将此另一受测物的测试结果显示于显示器21。当然,在受测物做完测试之后,可将其它的受测物电连接于此连接器311,以继续进行测试,所以可以节省相当的测试时间,且工厂测试在线,同一工作站中并不须设置多个相同测试功能的机器,所以可以节省测试时间及提升测试效率,并且减少所需耗费的机器成本。当然,上述各个测试治具可为相同,以进行相同的测试工作;测试治具可为相异,以进行相异的测试工作,并且各测试治具可根据单一产品的测试流程依序排列。以上所述仅为本专利技术其中的较佳实施例而已,并非用来限定本专利技术的实施范围;即凡依本专利技术申请专利范围所作的均等变化与修饰,皆为本专利技术专利范围所涵盖。权利要求1.一种测试治具机架组,其中包括有一基架本体;一测试仪器,设置于该基架本体;数个测试治具,与该测试仪器电连接,并分别用以电连接一受测物;及一切换器,电连接该测试仪器以及各该测试治具,以选择任一该测试治具与该测试仪器电连接,藉以使该测试仪器对所选择的该测试治具上该受测物进行电测试。2.如权利要求1所述的测试治具机架组,其中还包括有数个测试架,设置于该基架本体,且各该测试架供一该测试治具设置。3.如权利要求2所述的测试治具机架组,其中该测试架以可活动的关系设置于该基架本体。4.如权利要求1所述的测试治具机架组,其中该测试仪器包括有一显示器、一输入器及一处理器。5.如权利要求4所述的测试治具机架组,其中该显示器是选自阴极映像管显示器及液晶模块显示器所成组合之一。6.如权利要求1所述的测试治具机架组,其中该测试治具设置有一与该受测物电连接的连接器。7.如权利要求1所述的测试治具机架组,其中各该测试治具为相同,以进行相同的测试工作。8.如权利要求1所述的测试治具机架组,其中各该测试治具为相异,以进行相异的测试工作。9.如权利要求8所述的测试治具机架组,其中各该测试治具是根据单一产品的测试流程依序排列。全文摘要本专利技术涉及一种测试治具机架组,包括有基架本体、测试仪器、数个测试架及切换器,其中测试仪器设置于基架本体与测试架电连接,且各测试架供一测试治具设置,以电连接一受测物,切换器电连接测试仪器以及各测试治具,以选择任一测试治具与测试仪器电连接,藉以使测试仪器对所选择的测试治具上的受测物进行电测试,之后,令切换器使另一受测物作测试,当然,先前经过测试的受测物,也可在另一受测物作测试的同时,更换成其它受测物,而节省测试时间及提升测试效率,并且减少所需耗费的测试机器成本。文档编号G01N27/00GK1641344SQ200410001260公开日2005年7月20日 申请日期2004年1月5日 优先权日2004年1月5日专利技术者陈文亮 申请人:英业达股份有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试治具机架组,其中包括有:一基架本体;一测试仪器,设置于该基架本体;数个测试治具,与该测试仪器电连接,并分别用以电连接一受测物;及一切换器,电连接该测试仪器以及各该测试治具,以选择任一该测试治具与该测试 仪器电连接,藉以使该测试仪器对所选择的该测试治具上该受测物进行电测试。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:陈文亮
申请(专利权)人:英业达股份有限公司
类型:发明
国别省市:71[中国|台湾]

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