结合X射线检验和视觉检验的印刷电路板检验系统技术方案

一种结合Ｘ射线检验和视觉检验的电路板检验系统，包括：　　　　传送单元，用于使检验对象安全地搁置于其上并将检验对象传送到预定位置；　　　　光产生单元，安装在传送单元下方，并向检验对象发射具有预定波长的光；　　　　光放大单元，安装在光产生单元的相对一侧，用于将透射通过检验对象的预定光转换并放大为可见光；　　　　光学单元，对检验对象进行光学照射，以创建视觉图像；和　　　　照相机，用于接收通过光放大单元放大的Ｘ射线图像或者光学单元的视觉图像，以获得信息。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种结合X射线检验和视觉检验的电路板检验系统，更具体地讲，涉及这样一种电路板检验系统，该检验系统通过由一个照相机处理通过透射X射线源而形成的X射线图像和光学投射的视觉图像来实现结合X射线检验和视觉检验，从而尝试简化系统。
技术介绍
最近，电子器件趋向于更小、更轻和多功能，印刷电路板及安装于其上的电子元件的集成度快速提高。即，印刷电路板变得多层化，形成于其上的图案变得更密。此外，同样对于电子元件，由于集成度变得更高并且尺寸变得更小，因此除非在制作印刷电路板或在印刷电路板上安装元件的过程中非常小心，否则出现缺陷的可能性变得更大。因此，在制作印刷电路板以及安装和焊接元件的过程中，非常需要以精确和及时的方式来检测在每一单元处理期间出现的缺陷。这种用于检验元件的安装状态的检验系统依赖于元件的特性，该检验系统一般使用X射线图像、视频照相机和激光器作为获得关于检验对象的信息的检测单元。所述X图像表示通过将从X射线源照射的X射线束向着检验对象发射而形成的放大的光，其在对检验对象的隐藏缺陷进行检测的过程中比较有用。视觉图像是通过捕捉检验对象的视觉频率范围而形成的，其在对检验对象的视觉缺陷，如焊料不足(异常焊接)、遗漏(遗漏元件)、错误插入、未对准的元件，进行检测的过程中比较有用。因此，最近，已使用了集成这两种功能的检验系统。该配置大致分为检验系统，用于获得关于检验对象的信息；和处理系统，获得的信息被输入该处理系统，该处理系统执行预定的处理以确定是否存在缺陷。该检验系统包括板支持器，用于固定检验对象；传送组件，用于将板支持器传送到预定位置；X射线源，用于向检验对象发射X射线；X射线照相机，用于获得透射通过检验对象的X射线图像；光学照相机，用于向检验对象照射光并通过反射的光来获得光学图像。然而，在如上所述的传统检验系统中，由于X射线照相机和光学照相机单独地安装，因此检验系统复杂，并且制造成本增加。
技术实现思路
因此，提出本专利技术以解决上述问题，本专利技术的目的在于提供一种电路板检验系统，该检验系统通过由一个照相机接收关于X射线图像和视觉图像的信息来结合X射线检验和视觉检验，从而不仅尝试简化检验系统而且降低了制造成本。为了实现上述目的，本专利技术包括传送单元，用于使检验对象安全地搁置于其上并将检验对象传送到预定位置；光产生单元，安装在传送单元下方，并向检验对象发射具有预定波长的光；光放大单元，安装在光产生单元的相对一侧，用于将透射通过检验对象的预定光转换并放大为可见光；光学单元，对检验对象进行光学照射，以创建视觉图像；和照相机，用于接收通过光放大单元的X射线图像或者光学单元的视觉图像，以获得信息。所述光放大单元和光产生单元被放置在照相机的正下方；所述光学单元与光放大单元横向并排放置；在光产生单元和照相机之间的光轴上，半透半反镜以预定角度布置；在光学单元的发射光轴上，反射镜被布置在这样的位置，该位置位于半透半反镜所处的水平方向的同一线上。所述光产生单元是发射X射线束的X射线源，所述照相机是CCD(电荷耦合器件)照相机。附图说明图1是示出根据本专利技术实施例的结合X射线检验和视觉检验的检验系统的配置的示意图。具体实施例方式下面，将参照图1描述本专利技术的实施例的配置和操作。如图1中所示，本专利技术的实施例包括传送单元3，用于使检验对象1安全地搁置在其上并将检验对象向预定方向传送；光产生单元5，安装在传送单元3下方，向着检验对象1发射具有预定波长的光；光放大单元7，安装在光产生单元5的相对一侧，用于将透射通过检验对象1的预定光转换并放大为可见光；光学单元9，用于对检验对象1进行光学照射以创建视觉图像；和照相机11，用于接收通过光放大单元7放大的X射线图像或者光学单元9的视觉图像，以获得图像。光产生单元5最好是发射X射线束的X射线源，照相机11最好是CCD照相机。光产生单元5被置于照相机11的正下方，光学单元9与光产生单元5并排地放置，在光产生单元5和照相机11之间的光轴上，半透半反镜(halfmirror)13以预定角度倾斜地安装。此外，在光学单元9的发射光轴上，反射镜15被安装在这样的位置，该位置在半透半反镜13所处的同一线上，并且反射镜15保持与倾斜的半透半反镜13的角度相同的角度。光学单元9包括发光器9a，用于向检验对象1照射光；和透镜9b，用于调整照射到检验对象9a并被反射的反射光的焦点。如上所述，由于以这样的方式实现本专利技术，即通过使用一个照相机来同时获得关于X射线图像和视觉图像的信息，因此可简化检验系统，同时降低制造成本。如上，尽管已参照优选实施例描述了本专利技术，但是本领域的技术人员应理解，在不脱离本专利技术的范围的情况下，可对本专利技术进行各种修改。因此，本专利技术的范围不应由所示出的实施例限定，而应该由权利要求及其等同物来限定。权利要求1.一种结合X射线检验和视觉检验的电路板检验系统，包括传送单元，用于使检验对象安全地搁置于其上并将检验对象传送到预定位置；光产生单元，安装在传送单元下方，并向检验对象发射具有预定波长的光；光放大单元，安装在光产生单元的相对一侧，用于将透射通过检验对象的预定光转换并放大为可见光；光学单元，对检验对象进行光学照射，以创建视觉图像；和照相机，用于接收通过光放大单元放大的X射线图像或者光学单元的视觉图像，以获得信息。2.如权利要求1所述的电路板检验系统，其中，所述光放大单元和光产生单元被放置在照相机的正下方，其中，所述光学单元与光放大单元横向地并排放置，其中，在光产生单元和照相机之间的光轴上，半透半反镜以预定角度布置，其中，在光学单元的发射光轴上，反射镜被布置在这样的位置，该位置位于半透半反镜所处的水平方向的同一线上。3.如权利要求1所述的电路板检验系统，其中，所述光产生单元是发射X射线束的X射线源。4.如权利要求1所述的电路板检验系统，其中，所述照相机是CCD照相机。全文摘要一种结合X射线检验和视觉检验的电路板检验系统，包括传送单元(3)，用于使检验对象(1)安全地搁置于其上并将检验对象(1)传送到预定位置；光产生单元(5)，安装在传送单元(3)下方，并向检验对象(1)发射具有预定波长的光；光放大单元(7)，安装在光产生单元(5)的相对一侧，用于将透射通过检验对象(1)的预定光转换并放大为可见光；光学单元(9)，对检验对象(1)进行光学照射，以创建视觉图像；和照相机(11)，用于接收通过光放大单元(7)放大的X射线图像或者光学单元(9)的视觉图像，以获得信息。文档编号G01N21/956GK1860361SQ200380110532 公开日2006年11月8日 申请日期2003年10月14日 优先权日2003年10月14日专利技术者金钟元, 李东玹, 洪性哲 申请人:美陆技术株式会社 本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员：金钟元，李东玹，洪性哲，
申请(专利权)人：美陆技术株式会社，
类型：发明
国别省市：