一种电路长期时序可靠性分析方法及系统技术方案

本公开提供了一种电路长期时序可靠性分析方法及系统，方法包括：S1，建立电路单元的特征化时序数据与有效受压工作时间的对应关系；S2，建立有效受压工作时间与上层电路工作时间之间的对应关系；S3，建立以上层电路工作时间为变量的电路时序可靠性关系式；S4，根据电路时序可靠性关系式获取上层电路工作时间的最大值。在对电路进行长期时序可靠性分析过程中，考虑了电路中各电路单元的老化状态，使得电路单元特征化数据更加精确丰富，更加精准的表征老化过程中电路单元的特征，使得电路长期时序可靠性分析更加准确。

【技术实现步骤摘要】
一种电路长期时序可靠性分析方法及系统
本公开涉及电路长期时序可靠性分析
，尤其涉及一种电路长期时序可靠性分析方法和系统。
技术介绍
电路时序分析是集成电路设计流程中的重要步骤，目前的电路时序分析所依赖的电路单元特征化数据为固定数据，与器件老化状态无关。对于长期工作的电路，其中的半导体器件因为热载流子注入(HCl)和栅偏置温度不稳定性(BTI)效应的累积使得相关器件的阈值电压和载流子迁移率发生比较明显的漂移，进而导致器件性能退化，电路单元的性能也随之出现退化，原理表征电路单元特征化的固定数据自然不能精确表征老化过程中的电路单元的特征。因此，目前的电路单元特征化固定数据不能支持精确的进行电路长期时序可靠性分析。对电路单元不同老化状态进行特征化，在进行不同老化状态的时序分析，时间开销很大，在用于对片上系统的集成电路设计进行长期时序可靠性分析时，路径数量规模很大，分析时需要花费很长的时间。
技术实现思路
(一)要解决的技术问题本公开提供了一种电路长期时序可靠性分析方法和系统，至少解决集成电路设计过程中长期时序可靠性分析本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电路长期时序可靠性分析方法，包括：/nS1，建立电路单元的特征化时序数据与有效受压工作时间的对应关系；/nS2，建立所述有效受压工作时间与上层电路工作时间之间的对应关系；/nS3，建立以所述上层电路工作时间为变量的电路时序可靠性关系式；/nS4，根据所述电路时序可靠性关系式获取所述上层电路工作时间的最大值。/n

【技术特征摘要】
1.一种电路长期时序可靠性分析方法，包括：
S1，建立电路单元的特征化时序数据与有效受压工作时间的对应关系；
S2，建立所述有效受压工作时间与上层电路工作时间之间的对应关系；
S3，建立以所述上层电路工作时间为变量的电路时序可靠性关系式；
S4，根据所述电路时序可靠性关系式获取所述上层电路工作时间的最大值。


2.根据权利要求1所述的电路长期时序可靠性分析方法，还包括：
S5，将所述上层电路工作时间的最大值与设计所要求的工作时间进行比较，若所述上层电路工作时间的最大值大于或等于设计所要求的工作时间，则所检测的电路路径符合电路长期时序可靠性要求；否则，所检测的电路路径不符合电路长期时序可靠性要求。


3.根据权利要求1所述的电路长期时序可靠性分析方法，所述步骤S2中建立所述有效受压工作时间与上层电路工作时间之间的对应关系，包括：
S21，对上层电路进行逻辑仿真，获得仿真结果；
S22，根据所述仿真结果获得预设时间内上层电路中各器件的有效受压工作时间；
S23，获得上层电路工作时间与所述各器件的有效受压工作时间。


4.根据权利要求1所述的电路长期时序可靠性分析方法，还包括对所述电路进行热分析，以确定所述电路各位置的温度。


5.根据权利要求4所述的电路长期时序可靠性分析方法，所述对所述电路进行热分析包括：
对所述电路进行逻辑仿真，获得仿真结果；
根据所述仿真结果获得所述电路的热源；
根据逻辑仿真获得的热源位置在电路中对应位置设置热源；
对电路进行热仿真分析，获得电路中各电路单元及器件位置处的温度。


6.根据权利要求4或5所述的电路长期时序可靠性分析方法，所述电路单元的...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴玉平，陈岚，
申请(专利权)人：中国科学院微电子研究所，
类型：发明
国别省市：北京;11