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本公开提供了一种电路长期时序可靠性分析方法及系统，方法包括：S1，建立电路单元的特征化时序数据与有效受压工作时间的对应关系；S2，建立有效受压工作时间与上层电路工作时间之间的对应关系；S3，建立以上层电路工作时间为变量的电路时序可靠性关系式...
该专利属于中国科学院微电子研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院微电子研究所授权不得商用。

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