【技术实现步骤摘要】
标准单元时序模型的抽取方法、装置、设备及存储介质
本专利技术涉及集成电路
,特别涉及一种标准单元时序模型的抽取方法、装置、设备及存储介质。
技术介绍
随着集成电路工艺特征尺寸不断减小,特别是进入鳍式场效晶体管(FinFET,FinField-EffectTransistor)工艺以后,片上制造性偏差(on-chipvariation)造成的片上不同区域的器件特性不确定性问题越来越明显,工艺加工扰动给精确的静态时序分析带来了挑战。在半定制设计中,集成电路的逻辑功能是通过标准单元实现的,因此标准单元的性能将直接关系电路性能的好坏,标准单元库的时序模型的精确性成为芯片设计中时序分析的基础。在目前常用的单元库设计方法中,通常认为不考虑确定工艺角下标准单元的时序特性是不变的,忽略单元所受周围单元、所处位置等外部条件的影响。然而,基于从真实版图提取寄生参数和模型的精确的晶体管级仿真证明,版图中不同位置的标准单元的时序信息是不完全相同的。标准单元库时序信息提取的一般方法是在标准单元周围添加一圈填充结构(filler) ...
【技术保护点】
1.一种标准单元时序模型的抽取方法,其特征在于,包括:/n步骤1,根据版图的尺寸,将需抽取时序模型的第一标准单元放置于所述版图的中心位置;/n步骤2,从标准单元库中随机选择需添加于所述第一标准单元周围的多个第二标准单元;/n步骤3,在所述版图中对所述多个第二标准单元进行布局摆放,得到版图文件;在所述版图文件中所述多个第二标准单元位于所述第一标准单元周围;/n步骤4,对所述版图文件中的电源线的连接方式、第一标准单元的引脚连接方式以及第二标准单元的引脚连接方式进行处理,使所述版图文件通过版图与原理图一致性验证;/n步骤5,对所述版图文件中的寄生参数进行提取,生成时序建模需要的寄 ...
【技术特征摘要】
1.一种标准单元时序模型的抽取方法,其特征在于,包括:
步骤1,根据版图的尺寸,将需抽取时序模型的第一标准单元放置于所述版图的中心位置;
步骤2,从标准单元库中随机选择需添加于所述第一标准单元周围的多个第二标准单元;
步骤3,在所述版图中对所述多个第二标准单元进行布局摆放,得到版图文件;在所述版图文件中所述多个第二标准单元位于所述第一标准单元周围;
步骤4,对所述版图文件中的电源线的连接方式、第一标准单元的引脚连接方式以及第二标准单元的引脚连接方式进行处理,使所述版图文件通过版图与原理图一致性验证;
步骤5,对所述版图文件中的寄生参数进行提取,生成时序建模需要的寄生参数网表,并根据所述寄生参数网表,抽取所述第一标准单元的时序信息;
步骤6,重复执行步骤1至步骤5,直至得到预设数量的时序信息,并将预设数量的时序信息的平均值作为所述第一标准单元的时序模型。
2.根据权利要求1所述的抽取方法,其特征在于,所述步骤2包括:
步骤2.1,调用随机函数生成一个随机数;
步骤2.2,根据预先存储的随机数与标准单元标号之间的对应关系,确定生成的随机数对应的标准单元标号,并从标准单元库中确定出该标准单元标号对应的标准单元;
步骤2.3,计算所述第一标准单元的面积与从标准单元库中确定出的所有标准单元的面积的和值;
步骤2.4,重复执行步骤2.1至步骤2.3,直至所述和值达到所述尺寸对应的面积限制条件,并将从标准单元库中确定出的每一标准单元作为一第二标准单元。
3.根据权利要求1所述的抽取方法,其特征在于,所述步骤3包括:
调用布局布线工具,在所述版图中对所述多个第二标准单元进行布局摆放,得到版图文件。
4.根据权利要求1所述的抽取方法,其特征在于,所述步骤4包括:
步骤4.1,通过金属电源线对所述版图文件中的电源线VDD和电源线VSS进行连接,并给所述版图文件中不同行的电源线VNW添加相同的标签,以及给所述版图文件中不同行的电源线VPW添加相同的标签;
步骤4.2,建立所述第一标准单元的引脚与所述版图文件的顶层设计的端口的连接关系;
步骤4.3,将所述版图文件中所有第二标准单元的输入引脚均连接到所述版图文件的电压钳位单元。
5.根据权利要求1所述的抽取方法,其特征在于,所述步骤5包括:
利用电子设计自动化工具,对所述版图文件中的寄生参...
【专利技术属性】
技术研发人员:马卓,赵悦,薛彤,田金峰,丁军锋,周朝旭,王春雷,宋佳利,刘登龙,郭御风,张明,张少华,
申请(专利权)人:天津飞腾信息技术有限公司,
类型:发明
国别省市:天津;12
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