一种图形处理芯片GPU老化试验装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种图形处理芯片GPU老化试验装置，具体涉及计算机硬件检测技术领域，包括将GPU本体底部插口与PCIE插座插接，CIE插座通过PCIE延长线与PC主机内部主板PCIE连接，通过带动固定板移动调整GPU本体的对应高度，能够模拟GPU装配在机箱内的对应高度，通过对进尘管内撒入粉尘，电热丝网工作风扇吹动鼓风将热量通入GPU本体，且密封箱内腔两侧与散热机构对应位置开设有通风孔。本发明专利技术通过设置测试机构和升降机构，使得GPU本体能够在高温高尘环境下进行压力老化测试，提高数据准确度，确保产品出厂可靠耐用性，与现有技术相比有效避免密封箱内高温环境以及灰尘情况下对PC主机硬件的损耗，有效延长本发明专利技术整体使用寿命。

【技术实现步骤摘要】
一种图形处理芯片GPU老化试验装置
本专利技术涉及计算机硬件检测
，更具体地说，本专利技术涉及一种图形处理芯片GPU老化试验装置。
技术介绍
图形处理器，缩写：GPU，又称显示核心、视觉处理器、显示芯片，是一种专门在个人电脑、工作站、游戏机和一些移动设备(如平板电脑、智能手机等)上做图像和图形相关运算工作的微处理器，GPU使显卡减少了对CPU的依赖，并进行部分原本CPU的工作，尤其是在3D图形处理时GPU所采用的核心技术有硬件T&L(几何转换和光照处理)、立方环境材质贴图和顶点混合、纹理压缩和凹凸映射贴图、双重纹理四像素256位渲染引擎等，而硬件T&L技术可以说是GPU的标志。为了保证图像处理芯片工作状态的稳定性，在设计投产后需要对不同型号的GPU进行老化测试以保证耐用性和寿命，现有的GPU老化试验多只能够通过加载电流进行长时间工作测试，耗时较久的同时在模拟高温灰尘场景下会对其他计算机硬件造成不利的影响，整体测试平台使用寿命较低，并且无法完全模拟使用环境，导致老化试验数据有误。
技术实现思路
为了克服现有技术的上述缺陷，本专利技术的实施例提供一种图形处理芯片GPU老化试验装置，本专利技术所要解决的技术问题是：GPU老化试验多只能够通过加载电流进行长时间工作测试，耗时较久的同时在模拟高温灰尘场景下会对其他计算机硬件造成不利的影响，整体测试平台使用寿命较低的问题。为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种图形处理芯片GPU老化试验装置，包括底座和密封箱，所述底座顶部与密封箱底部固定连接，所述底座顶部滑动连接有滑动机构，所述滑动机构顶部固定连接有升降机构，所述升降机构一侧固定连接有测试机构，所述密封箱两侧均设有散热机构，且密封箱内腔一侧两端均固定连接有安装座，且两侧安装座内固定安装有电热丝网，且密封箱内腔两侧与散热机构对应位置开设有通风孔；所述滑动机构包括滑座，所述滑座一侧固定连接有第二把手，所述底座顶部开设有滑槽，所述滑座滑动连接在滑槽内，所述滑座两侧均开设有限位槽，所述滑槽内腔一端固定连接有凸块，所述凸块与限位槽一侧相贴合，所述滑座顶部固定连接有连接板，所述升降机构包括固定座，所述固定座底部与连接板顶部固定连接，所述固定座内腔滑动连接有滑动块，所述滑动块顶部嵌设有螺纹帽，所述螺纹帽内螺纹连接有螺纹柱，所述螺纹柱两端均固定连接有转轴，所述转轴外侧壁套设有轴承，且两个轴承分别嵌设于固定座内腔两侧，且位于顶部的转轴顶端固定连接有第一把手；所述测试机构包括固定板，所述固定板一侧与滑动块一侧固定连接，所述固定板一侧固定连接有PCIE插座，所述PCIE插座插接有GPU本体，所述PCIE插座顶部连接有PCIE延长线，所述密封箱内腔一侧开设有第一通孔和第二通孔，所述底座顶部放置有PC主机，所述PC主机一侧与密封箱一侧相贴合，所述PCIE延长线另一端穿过第一通孔与PC主机相连接；所述散热机构包括两个限位板，且两侧限位板分别相对固定连接在密封箱外壁两侧，且对应位置一侧的两个限位板之间卡接有风扇，所述限位板顶部嵌设有滑套，所述滑套内滑动连接有滑杆，所述滑杆顶端固定连接有顶块，所述滑杆底端固定连接有挤压垫，所述挤压垫与风扇相贴合，所述滑杆外侧壁套设有弹簧，所述弹簧两端分别与顶块和滑套对应位置固定连接。通过拉动第二把手带动滑座在滑槽内滑动并带动限位槽与凸块分离，滑座一侧拉动连接板和固定座以及固定板向密封箱一侧开口处移动，将GPU本体底部插口与PCIE插座插接，推动滑座复位后，PCIE插座通过PCIE延长线与PC主机内部主板PCIE连接，在对有外接供电的GPU本体安装时，通过将外接电源线与GPU本体连接后通过第二通孔与PC主机电源相连接，通过拧动第二把手能够带动转轴和螺纹柱转动，螺纹柱转动带动螺纹连接的螺纹帽和滑动块带动固定板上下移动，固定板移动调整GPU本体的对应高度，能够模拟GPU装配在机箱内的对应高度，提高测试准确度，降低因安装位置导致的电流变化，滑座的拉动抽出有效方便对GPU本体进行装配，同时方便对密封箱和底座进行清理，GPU本体的信号输出线能够穿过排线孔与外部显示屏连接以保证数据输出，并且两侧风扇转动能够在同时对密封箱内空气进行散发，能够模拟在机箱通风正常状态下对GPU本体进行老化测试，在需要进行恶劣环境测试时，通过对进尘管内撒入粉尘，风扇转动保证灰尘分散堆积后，打开电热丝网工作，风扇吹动鼓风将热量通入GPU本体，使得GPU本体能够在高温高尘环境下进行压力老化测试，通过多种测试环境有效模拟老化试验，提高数据准确度，确保产品出厂可靠耐用性，同时通过PCIE延长线与外部PC主机连接，有效避免密封箱内高温环境以及灰尘情况下对PC主机硬件的损耗，并且只需要定期对PCIE插座以及PCIE延长线更换即可满足对GPU本体单独的老化测试，有效延长本专利技术整体使用寿命。在一个优选的实施方式中，所述GPU本体一侧连接有外接电源线，所述外接电源线穿过第二通孔与PC主机相连接，满足不同功率的GPU本体测试需要，能够进行辅助供电。在一个优选的实施方式中，所述密封箱和底座一侧贴合有盖板，且密封箱与盖板对应位置开设有开口，所述盖板一侧设有合页，所述盖板通过合页与密封箱铰接，在高温灰尘环境下避免热量和灰尘散发。在一个优选的实施方式中，所述盖板一侧开设有观察窗，实时观察GPU本体状态。在一个优选的实施方式中，所述密封箱内腔靠近GPU本体一侧开设有排线孔，所述GPU本体一侧连接有信号输出线，所述信号输出线穿过排线孔与外部显示屏相连接，保证GPU本体工作下的数据输出。在一个优选的实施方式中，所述通风孔内固定连接有滤网，避免外部灰尘进入影响到数据精确度。在一个优选的实施方式中，所述密封箱顶部连通有进尘管，方便快速模拟灰尘堆积分布。在一个优选的实施方式中，所述限位板的横截面形状为L形，提高对风扇的限位效果。1、本专利技术通过设置测试机构和升降机构，将GPU本体底部插口与PCIE插座插接，CIE插座通过PCIE延长线与PC主机内部主板PCIE连接，通过带动固定板移动调整GPU本体的对应高度，能够模拟GPU装配在机箱内的对应高度，通过对进尘管内撒入粉尘，电热丝网工作风扇吹动鼓风将热量通入GPU本体，使得GPU本体能够在高温高尘环境下进行压力老化测试，提高数据准确度，确保产品出厂可靠耐用性，与现有技术相比有效避免密封箱内高温环境以及灰尘情况下对PC主机硬件的损耗，有效延长本专利技术整体使用寿命；2、本专利技术通过设置弹簧和风扇，风扇卡接在限位板内，弹簧利用自身拉力带动滑杆和挤压垫对风扇进行挤压固定，当风扇需要清理维护时，通过拉动两侧顶块带动滑杆在滑套内移动并带动挤压垫与风扇分离，风扇能够从限位板内抽出，有效方便工作人员对风扇进行拆卸清理。附图说明图1为本专利技术的正视剖面结构示意图。图2为本专利技术的图1中A部分放大示意图。图3为本专利技术的图1中B部分放大示意图。图4为本专利技术的图1中C部分放大示意图。图5为本专利技术的正视结构示意图。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种图形处理芯片GPU老化试验装置，包括底座(1)和密封箱(2)，其特征在于：所述底座(1)顶部与密封箱(2)底部固定连接，所述底座(1)顶部滑动连接有滑动机构(6)，所述滑动机构(6)顶部固定连接有升降机构(7)，所述升降机构(7)一侧固定连接有测试机构(8)，所述密封箱(2)两侧均设有散热机构(9)，且密封箱(2)内腔一侧两端均固定连接有安装座(4)，且两侧安装座(4)内固定安装有电热丝网(5)，且密封箱(2)内腔两侧与散热机构(9)对应位置开设有通风孔(10)；/n所述滑动机构(6)包括滑座(601)，所述滑座(601)一侧固定连接有第二把手(606)，所述底座(1)顶部开设有滑槽(602)，所述滑座(601)滑动连接在滑槽(602)内，所述滑座(601)两侧均开设有限位槽(603)，所述滑槽(602)内腔一端固定连接有凸块(604)，所述凸块(604)与限位槽(603)一侧相贴合，所述滑座(601)顶部固定连接有连接板(605)，所述升降机构(7)包括固定座(701)，所述固定座(701)底部与连接板(605)顶部固定连接，所述固定座(701)内腔滑动连接有滑动块(706)，所述滑动块(706)顶部嵌设有螺纹帽(705)，所述螺纹帽(705)内螺纹连接有螺纹柱(704)，所述螺纹柱(704)两端均固定连接有转轴(703)，所述转轴(703)外侧壁套设有轴承(702)，且两个轴承(702)分别嵌设于固定座(701)内腔两侧，且位于顶部的转轴(703)顶端固定连接有第一把手(707)；/n所述测试机构(8)包括固定板(801)，所述固定板(801)一侧与滑动块(706)一侧固定连接，所述固定板(801)一侧固定连接有PCIE插座(802)，所述PCIE插座(802)插接有GPU本体(803)，所述PCIE插座(802)顶部连接有PCIE延长线(804)，所述密封箱(2)内腔一侧开设有第一通孔(805)和第二通孔(806)，所述底座(1)顶部放置有PC主机(808)，所述PC主机(808)一侧与密封箱(2)一侧相贴合，所述PCIE延长线(804)另一端穿过第一通孔(805)与PC主机(808)相连接；/n所述散热机构(9)包括两个限位板(901)，且两侧限位板(901)分别相对固定连接在密封箱(2)外壁两侧，且对应位置一侧的两个限位板(901)之间卡接有风扇(907)，所述限位板(901)顶部嵌设有滑套(902)，所述滑套(902)内滑动连接有滑杆(904)，所述滑杆(904)顶端固定连接有顶块(905)，所述滑杆(904)底端固定连接有挤压垫(906)，所述挤压垫(906)与风扇(907)相贴合，所述滑杆(904)外侧壁套设有弹簧(903)，所述弹簧(903)两端分别与顶块(905)和滑套(902)对应位置固定连接。/n...

【技术特征摘要】
1.一种图形处理芯片GPU老化试验装置，包括底座(1)和密封箱(2)，其特征在于：所述底座(1)顶部与密封箱(2)底部固定连接，所述底座(1)顶部滑动连接有滑动机构(6)，所述滑动机构(6)顶部固定连接有升降机构(7)，所述升降机构(7)一侧固定连接有测试机构(8)，所述密封箱(2)两侧均设有散热机构(9)，且密封箱(2)内腔一侧两端均固定连接有安装座(4)，且两侧安装座(4)内固定安装有电热丝网(5)，且密封箱(2)内腔两侧与散热机构(9)对应位置开设有通风孔(10)；
所述滑动机构(6)包括滑座(601)，所述滑座(601)一侧固定连接有第二把手(606)，所述底座(1)顶部开设有滑槽(602)，所述滑座(601)滑动连接在滑槽(602)内，所述滑座(601)两侧均开设有限位槽(603)，所述滑槽(602)内腔一端固定连接有凸块(604)，所述凸块(604)与限位槽(603)一侧相贴合，所述滑座(601)顶部固定连接有连接板(605)，所述升降机构(7)包括固定座(701)，所述固定座(701)底部与连接板(605)顶部固定连接，所述固定座(701)内腔滑动连接有滑动块(706)，所述滑动块(706)顶部嵌设有螺纹帽(705)，所述螺纹帽(705)内螺纹连接有螺纹柱(704)，所述螺纹柱(704)两端均固定连接有转轴(703)，所述转轴(703)外侧壁套设有轴承(702)，且两个轴承(702)分别嵌设于固定座(701)内腔两侧，且位于顶部的转轴(703)顶端固定连接有第一把手(707)；
所述测试机构(8)包括固定板(801)，所述固定板(801)一侧与滑动块(706)一侧固定连接，所述固定板(801)一侧固定连接有PCIE插座(802)，所述PCIE插座(802)插接有GPU本体(803)，所述PCIE插座(802)顶部连接有PCIE延长线(804)，所述密封箱(2)内腔一侧开设有第一通孔(805)和第二通孔(806)，所述底座(1)顶部放置有PC主机(808)，所述PC主机(808)一侧与密封箱(2)一侧相贴合，所述PCIE延长线(804)另一端穿过第一通孔(805)与PC主机(808)相连接；
所述散热...

【专利技术属性】
技术研发人员：马卫东，杜秋平，陈惠玲，胡斌，李亚飞，
申请(专利权)人：成都思科瑞微电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：四川;51