一种用于光时域反射仪的光信号采样装置及其方法和光时域反射仪制造方法及图纸

本发明专利技术涉及光时域反射仪领域，具体涉及一种用于光时域反射仪的光信号采样装置及其方法和光时域反射仪。该光信号采样装置包括光信号接收模块，用于接收从待测光纤返回的光信号，并将其转换为对应的电信号；数据采样模块，与所述光信号接收模块连接对转换后的电信号进行采样；以及控制模块，与所述数据采样模块连接调整数据采样模块的采样时钟相位，并控制其在不同采样时钟相位下多次对转换后的电信号进行采样，获取数据采样模块的采样数据。本发明专利技术能实现无需采用高成本的采样芯片，在不增加硬件成本的情况下，通过错相位的采样方法，大大提高光时域反射仪的分辨率，提高光路中事件点的定位精度。

【技术实现步骤摘要】
一种用于光时域反射仪的光信号采样装置及其方法和光时域反射仪
本专利技术涉及光时域反射仪领域，具体涉及一种用于光时域反射仪的光信号采样装置及其方法和光时域反射仪。
技术介绍
OTDR(OpticalTimeDomainReflectometer，光时域反射仪)通过向被测光纤发射光脉冲，检测光纤中返回的瑞利散射和菲涅尔反射数值，得到被测光纤的长度及损耗等物理特性，并借助数据分析功能，精确定位光路中的事件点及故障点。OTDR主要用于光缆工程施工和光缆线路维护工作，主要用途有测量光纤长度，分析链路损耗及故障定位。分辨率,亦可称之为1点分辨率,是指OTDR的数据采样间隔，它确定了背向散射曲线上的事件点的定位精度。光时域反射仪在测试时，沿光纤长度方向以固定的间隔进行数据采样，采样间隔越短，采样数据点越多，意味着定位精度越高。分辨率的主要影响因素包括抽样距离，时基准确性，折射率设置等。在光纤折射率一定的情况下，为提高分辨率，传统方法一般采用提高AD芯片的采样频率来实现，即使用高采样率的AD芯片，但高采样率的AD芯片成本高，且易受政治因本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于光时域反射仪的光信号采样装置，其特征在于，包括：/n光信号接收模块，用于接收从待测光纤返回的光信号，并将其转换为对应的电信号；/n数据采样模块，与所述光信号接收模块连接对转换后的电信号进行采样；以及/n控制模块，与所述数据采样模块连接调整数据采样模块的采样时钟相位，并控制其在不同采样时钟相位下多次对转换后的电信号进行采样，获取数据采样模块的采样数据。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于光时域反射仪的光信号采样装置，其特征在于，包括：
光信号接收模块，用于接收从待测光纤返回的光信号，并将其转换为对应的电信号；
数据采样模块，与所述光信号接收模块连接对转换后的电信号进行采样；以及
控制模块，与所述数据采样模块连接调整数据采样模块的采样时钟相位，并控制其在不同采样时钟相位下多次对转换后的电信号进行采样，获取数据采样模块的采样数据。


2.根据权利要求1所述的光信号采样装置，其特征在于，所述控制模块包括主控单元和时钟锁相环单元，所述主控单元配置时钟锁相环单元输出不同时钟相位的第一时钟信号，所述时钟锁相环单元将第一时钟信号传输至数据采样模块，以调整数据采样模块的采样时钟相位。


3.根据权利要求2所述的光信号采样装置，其特征在于，所述主控单元为FPGA芯片，所述时钟锁相环单元设置于FPGA芯片中。


4.根据权利要求2所述的光信号采样装置，其特征在于，所述时钟锁相环单元为分别与主控单元和数据采样模块连接的时钟锁相环芯片。


5.根据权利要求1所述的光信号采样装置，其特征在于，所述光信号接收模块包括用于接收从待测光纤返回的光信号的光检测器和放大器，所述光检测器将接收到的光信号转化为电信号并传输至放大器，光信号经所述放大器放大后传输至数据采样模块。


6.根据权利要求1所述的光信号采样装置，其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘邦，鲍驰，怀波，
申请(专利权)人：昂纳信息技术深圳有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44