便于实现自校正功能的集成电路、测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种集成电路、应用该集成电路的测量装置，该集成电路包含：微处理器、一次可程序化内存、电荷泵、开关电路，该电荷泵使能端与该微处理器连接，该开关电路控制端与该微处理器连接；该开关电路一输入端与该电荷泵输出端连接，另一输入端与该微处理器电源连接，该开关电路输出端与该一次可程序化内存连接，以提供该一次可程序化内存工作电压及烧录电压。由于集成电路内的系统内存具有可选择的工作电压、烧录电压，可根据工作状态作对应选择，使最终应用的测量装置不需要再额外多连接一个５．８ｖｏｌｔ的ＶＤＤ电压，在烧录校正的标准参数时，可以减少外接的电压源，简化校正程序；可以简化生产时的校正程序所需的电压，节省能源消耗。（*该技术在2016年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种作为测量应用领域的集成电路、应用该集成电路的电子测量装置。
技术介绍
目前，公知的电子测量装置的电路构造是由待测信号如压力、重量等传感器(sensor)、模数转换器(ADC)、MCU和校正系数储存器组成。而MCU则包含有程序内存、数据存储器、以及中央计算单元等。在进行测量时，将传感器与待测信号接触，传感器将待测信号的物理量转换成电信号(电压量或是电流量)，该电信号被模数转换器转换成数字信号，被MCU计算、处理或是进一步转换，并显示在显示器上。然而促使MCU计算、处理或是进一步转换的根源，就是来自于程序内存内所储存的指令，指令的总和及顺序便成为程序。但是，很多包含有ADC的集成电路在能够正确显示测量值之前，都必须经过校正手续，如此ADC及MCU方可正确无误地将该待测信号的物理量转换成相对应的数字结果显示出来。在电子测量装置之校正程序中，使用具有标准物理量之标准量测物，传感器接触标准量测物后发出一标准量测信号，经转换成数字信号后成为标准参数并储存于内存之中，当微处理器执行一般量测程序时，从内存中取出校正用的标准参数，并根据量测信号计算实际量测值。因此，经过校正之后，会产生本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种便于实现自校正功能的集成电路，至少包含：一微处理器；一次可程序化内存，直接连接该微处理器，其特征是：还包含一电荷泵、一开关电路，该电荷泵使能端与该微处理器连接，该开关电路控制端与该微处理器连接；该开关电路一输入端与该电荷泵输出端连接，另一输入端与该微处理器电源端共接，该开关电路输出端与该一次可程序化内存连接，以提供该一次可程序化内存工作电压及烧录电压。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：赵伯寅，林祥民，袁国元，
申请(专利权)人：富享微电子深圳有限公司，
类型：实用新型
国别省市：94[中国|深圳]