集成电路一次可程序化内存的程序化方法技术

本发明专利技术公开了集成电路一次可程序化内存的程序化方法，系统内存能够以两种写入模式，分别写入指令集或标准参数，使集成电路的内部结构简化；且标准参数写入于系统内存内，充分利用了系统内存的有效空间；使集成电路厂商无需针对不同应用提前写入各种校正参数；集成电路厂商可以藉以提高生产效率，降低生产成本。本发明专利技术的测量电路不需要额外外接存储组件，节省最终系统产品的组件，降低最终的电子测量装置的成本。由于本发明专利技术提供的测量电路具有自我烧录校正参数的功能，可在最终系统产品制造完成后，直接进行自我校正，使其校正程序简化，对于应用厂商或集成电路厂商均可以藉以降低生产成本。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种集成电路，特别涉及其中的一次可程序化内存(OTPMemory)的程序化方法。
技术介绍
目前，公知的测量用集成电路结构包括模数转换器(ADC)、微处理器(MCU)和系统内存等。而MCU则包含有随机存储器(RAM)、中央计算单元(CPU)、程序化接口等。集成电路在应用于测量装置时，将压力、重量等传感器(sensor)与待测信号接触，传感器将待测信号的物理量转换成电信号(电压量或是电流量)，该电信号被集成电路的模数转换器转换成数字信号，被MCU计算、处理或是进一步转换，并显示在外接的显示器上。然而促使MCU计算、处理或是进一步转换的根源，就是来自于系统内存内所储存的指令集，指令的总和及顺序便成为程序。但是，上述应用中，很多包含有ADC的集成电路在能够正确显示测量值之前，都必须经过校正手续，如此ADC及MCU方可正确无误地将该待测信号的物理量转换成相对应的数字结果显示出来。在电子测量装置之校正程序中，使用具有标准物理量之标准量测物，传感器接触标准量测物后发出一标准量测讯号，经转换成数字讯号后成为标准参数并储存于内存之中，当微处理器执行一般量测程序时，从内存中取出校正用的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种集成电路一次可程序化内存的程序化方法，至少包含步骤：经由第一程序化接口写入指令集至该一次可程序化内存；运行该指令集中的自我程序化指令，经由第二程序化接口写入该集成电路之校正参数至该一次可程序化内存。

【技术特征摘要】
1.一种集成电路一次可程序化内存的程序化方法，至少包含步骤经由第一程序化接口写入指令集至该一次可程序化内存；运行该指令集中的自我程序化指令，经由第二程序化接口写入该集成电路之校正参数至该一次可程序化内存。2.如权利要求1所述之程序化方法，其特征是其中写入该指令集至该一次可程序化内存系由外部设备经由该第一程序化接口写入至该一次可程序化内存。3.如权利要求1所述之程序化方法，其特征是其中该校正参数的写入系由集成电路之微处理器经由该第二程序化接口，将该校正参数写入至该一次可程序化内存，该第二程序化接口系内建于该微处理器之中。4.如权利要求1所述之程序化方法，其特征是其中该第一程序化接口与该第二程序化接口经由一多工器耦接至该一次可程序化内存，以该多工器切换该第一程序化接口与该第二程序化接口至该可一次可程序化内存的连接。5.如权利要求1所述之程序化方法，其特征是其中该微处理器写入该校正参数至该一次可程序化内存所需的时间长度，系根据该一次可程序化内存的规格而定。6.如权利要求1所述之程序化方法，其特征是其中该微处理器写入该校正参数至该一次可程序化内存所需的时间长度，被记录于该指令集之中。7.一种集成电路一次可程序化内存的程序化方法，至少包含写入一指令集至该集成电路的一次可程序化内存；该集成电路之微处理器执行该指令集的程序化程序；该微处理器根据该程序化程序之写入指令，写入校正参数至该一次可程序化内存。8.如权利要求7所述之程序化方法，其特征是其中该写入指令...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵伯寅，林祥民，袁国元，
申请(专利权)人：富享微电子深圳有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]