一种测量物体直径的方法及其设备技术

技术编号:2511815 阅读:389 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术公开了一种测量物体直径的方法及其设备。这种方法是在同一光路中用扫描激光束分别垂直扫过被测物体和标准挡光件,以获取二个光信号,二个光信号经放大、半峰检波、波形处理后分离,分别经A/D变换后由计算机进行相除运算后乘以预置常数即可取得测量数据。本发明专利技术公开的专用设备较之现有的测量设备是在光路中安置了一个以获取标准信号的标准挡光件,以及在电路系统中新加入了计算机数据处理设备以补偿环境变化和系统设备所造成的误差。所以采用本发明专利技术可大大提高测量精度、降低设备成本、提高产品质量,是管材、线材生产的新方法、新设备。(*该技术在2011年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种测量物体直径的方法及其设备,它特别适用于应用激光技术来测量线材、管材直径的方法及其设备。众所周知,应用激光技术测量线材、管材直径的方法及其设备已在工业生产中应用。其中之一就是被称之为“扫描型激光测径”的方法及设备。这种仪器设备的工作原理(测量方法)如附图说明图1所示。它是将激光束照射到电机带动的旋转镜上使激光束以匀角速度运动,当激光束通过线性扫描透镜〔F(θ)透镜〕,扫描激光线即由匀角速度变为匀线速度。其后光线再通过积分透镜会聚于光电探测器上。这时,在两透镜之间如置入一线材、管材或其他物体的被测件,那么在光电探测器的输出端就可得到如图2所示的时间波形。其中△t2为被测件的挡光时间。设激光扫描速度为V,则被测件直径D=K·V·△t2(式中K为比例常数)。所以只要通过信号处理电路测得挡光时间△t2的宽度,再经校正,即可在终端设备上打印或显示出被测件的直径。电子科技大学1987年研制生产的LMD-I型激光测径仪就是采用此种方法测量线性直径的专用设备。但是,应用此种方法测量线材直径对测量设备要求甚高,测量设备中电机的抖晃、电路元器件温度的漂移都能对测试精度产生较大的不本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测量物体直径的方法,它是用扫描激光束以均线速度垂直扫过被测物体,以测得被测物体的挡光时间--即测量信号△t↓[2],其特征在于:在扫描光路上另设置有一标准挡光件,同一光路中以测得另一挡光时间--标准信号△t↓[1];标准信号△t↓[2]测量信号△t↓[2]经放大、半峰检波、波形处理后分离,各自经A/D变换为数字信号;经计算机数据处理实现△t↓[2]/△t↓[1],运算后乘以予置常数之值即为被测物体直径。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:曾昭信何舜华
申请(专利权)人:电子科技大学
类型:发明
国别省市:51[中国|四川]

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