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本发明公开了一种测量物体直径的方法及其设备。这种方法是在同一光路中用扫描激光束分别垂直扫过被测物体和标准挡光件，以获取二个光信号，二个光信号经放大、半峰检波、波形处理后分离，分别经Ａ／Ｄ变换后由计算机进行相除运算后乘以预置常数即可取得测量数...
该专利属于电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过电子科技大学授权不得商用。

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