光学位移检测装置制造方法及图纸

技术编号:2511452 阅读:170 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种光学编码器,包括主刻度、发光装置和第二部件。主刻度是具有一光栅的第一部件。发光装置向主刻度发射平行光。第二部件检测与主刻度和第二部件之间的相对移动相应的明象和暗象的变化。第二部件包括一玻璃基片和一光接收集成电路片。玻璃基片具有薄膜极。光接收集成电路片具有一共用作指示光栅的光接收装置阵列,它通过焊料凸起用倒装焊接法设置在玻璃基片的反面。在集成电路片与玻璃基片之间的间隙中充有封住光接收集成电路片前表面的透明树脂。(*该技术在2017年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种检测由第一部件和第二部件的相对移动所造成的明象和暗象的变化,从而检测该第一和第二部件之间的变位的光学位移检测装置,尤其是涉及一种可用作小型手工工具长度测量装置的光学位移检测装置。用作线性编码器或旋转编码器的传统光学编码器包括刻度、指示器、光源和光接收装置。刻度具有一预定栅距的光栅。指示器具有一预定栅距的光栅,它距离刻度一预定的间隙而设置在其对面。光源向刻度发射平行光。光接收装置检测因刻度的移动而造成的、由刻度的光栅件与指示器的光栅件重叠所形成的明象和暗象的变化。该光学编码器具有两种类型,一种是透射型,一种是反射型。在透射型中,检测的是刻度的透射图案。在反射型中,检测的是刻度的反射图案。光接收装置的一个实例是一种具有光接收装置阵列的系统,该光接收装置阵列可共用作指示器。当这种光学编码器被运用在手工工具长度测量装置上时,必须减小光源部分和光接收部分的尺寸。为减小光源部分的尺寸,本专利技术的专利技术人在日本专利公开No.1-136021中提出了如下技术。在该相关技术中,发光二极管用半球形的透明树脂模塑而成,树脂的前表面上形成有一反射膜。这样,就提供了一平行光源。光接本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学位移检测装置,包括: 一具有第一光栅的第一部件;将光发射到所述第一部件的第一光栅上的一发光装置;和 一具有第二光栅的第二部件,它通过一个间隙设置在所述第一部件的对面,使得所述第一部件和所述第二部件能够相对移动,用于接收由所述发光装置发出的、穿过第一光栅和第二光栅的光,从而检测所述第一部件和所述第二部件之间的相对位移, 其特征在于,所述第二部件具有一透明的基片,该基片的前表面隔一间隙而与第一部件相对,其反面上设置有薄膜极,所述第二部件还具有一光接收片,该光接收片有一接收光的光检测装置和形成于该光接收片上的、与透明基片反面上的薄膜极相对应的焊料凸起,所述光接收片通过焊料凸...

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员:小见利洋
申请(专利权)人:株式会社三丰
类型:发明
国别省市:JP[日本]

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1