一种微小位移放大方法技术

技术编号:8321490 阅读:251 留言:0更新日期:2013-02-13 20:56
本发明专利技术公开了一种微小位移放大方法,包括聚焦光源、形变物体、透镜和角度测量仪,利用测量形变物体对透镜产生位移,透镜角度的变换使得穿过透镜的光线折射角度发生变换,通过角度的变化来测量形变的微小位移。本发明专利技术通过测角度的方式实现测距,从而测量物体形变的微小位移,具有工具简单、方法简便的特点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于机械形变测量领域,特别涉及。
技术介绍
传统的弹性形变测量方法主要采用拉伸法,通过测距的方式来测量弹性形变,该方法的缺陷在于。测量工具和测量过程比较复杂,而通过透镜角度的变换和形变成函数关系的特性,可以通过测角度的方式实现测距,从而测量物体的微小形变。
技术实现思路
本专利技术的目在于提供。实现上述目的的技术方案是,包括聚焦光源、形变物体、·透镜和角度测量仪,其中,形变物体紧靠透镜下方,聚焦光源在透镜正前方。上述的,其中,所述聚焦光源发射的光束照射到透镜上的透射点为透镜固定点,透镜可围绕透镜固定点旋转。上述的,其中,所述透镜固定点到所述形变物体和所述透镜接触点的距离为L,所述形变物体产生应变的应变量为X,形变产生作用力于所述形变物体和所述透镜接触点,使得所述透镜围绕透镜固定点旋转角度,用所述角度测量仪测量得旋转角度a,tga =X/L,可得形变物体产生应变的应变量X=LXtga。本专利技术通过测角度的方式实现测距,从而测量物体形变的微小位移,具有工具简单、方法简便的特点。附图说明图I是本专利技术的结构示意图。具体实施例方式下面将结合附图对本专利技术作进一步说明。请参阅图1,图中给出了,包括聚焦光源、形变物体、透镜和角度测量仪,其中,形变物体紧靠透镜下方,聚焦光源在透镜正前方,聚焦光源发射的光束照射到透镜上的透射点为透镜固定点,透镜可围绕透镜固定点旋转。透镜固定点到形变物体和透镜接触点的距离为L=IOcm,所述形变物体产生应变的应变量为X,形变产生作用力于所述形变物体和所述透镜接触点,使得所述透镜围绕透镜固定点旋转角度,用所述角度测量仪测量得旋转角度a =2°,tga=X/L,可得形变物体产生应变的应变量X=LXtga =0. 3cm。以上结合附图实施例对本专利技术进行了详细说明,本领域中普通技术人员可根据上述说明对本专利技术做出种种变化例。因而,实施例中的某些细节不应构成对本专利技术的限定,本专利技术将以所附权利要求书界定的范围作为本专利技术的保护范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种微小位移放大方法,其特征在于,包括聚焦光源、形变物体、透镜和角度测量仪,其中,形变物体紧靠透镜下方,聚焦光源在透镜正前方。

【技术特征摘要】
1.一种微小位移放大方法,其特征在于,包括聚焦光源、形变物体、透镜和角度测量仪,其中,形变物体紧靠透镜下方,聚焦光源在透镜正前方。2.根据权利要求I所述的一种微小位移放大方法,其特征在于,所述聚焦光源发射的光束照射到透镜上的透射点为透镜固定点,透镜可围绕透镜固定点旋转。3.根据权利要求I所述的一种...

【专利技术属性】
技术研发人员:于星光
申请(专利权)人:昆山北极光电子科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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