表面形状的测量制造技术

一种确定有关诸如工件之类的物体的表面形状的信息的方法，该方法包括：使用相对于参考基准可移动的因而可跟踪该表面的检测装置检测该表面，在表面和检测装置之间实现绕一转动轴的相对转动，并且使用由检测装置进行的测量确定有关表面形状的信息，其特征在于：使用由检测装置在转动轴周围等角度分开的至少两个位置进行的测量来补偿该参考基准的任何误差。（*该技术在2016年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及表面形状的测量方法，本专利技术特别适用于测量诸如工件之类的物体的径向形状或柱面形状。径向形状和物体的圆度有关，并且给出它偏离圆的指示。柱面形状提供物体的表面形状接近一个正圆柱体的程度的度量。在现有的用于测量柱面形状的设备中，例如本申请人的TalyrondTR 200(商标)测量设备，在一转动支架或转台上安装一个要测量的大致圆柱形的工件。例如按本申请人的EP-A-0240150中描述的方式(这里参照引用了该申请的内容)确定该转动支架的中心和水平，使工件的柱面轴与转台的主轴重合，转台的主轴确定了一个转动轴基准。通过一个支柱确定一个轴向平直基准，所说支柱偏离该转动轴基准但和该转动轴基准平行。支柱携带一个探针臂，所说探针臂可沿支柱横向移动，使探针臂携带的一个触针能接触工件的表面。旋转转台并且测量触针相对于轴向平直基准的位移，从而可测出工件的径向形状或柱面形状。因为柱体的轴与转动轴基准对齐，所以触针相对于轴向平直基准的位移就可给出在转动支架转动期间在每个角测量位置的半径的测量值。于是就可确定工件的横截面距圆形横截面的偏差值或径向形状。此外，沿轴向平直基准移动探针臂，在工件的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员：P·瑟顿，M·米尔斯，P·J·斯科特，R·G·怀特，D·R·怀特勒，
申请(专利权)人：泰勒·霍布森有限公司，
类型：发明
国别省市：