一种线结构光显微测量装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种线结构光显微测量装置，包括测量平台、升降架、CCD、激光器及升降机构，CCD和激光器通过对应的偏摆角调整装置装在升降架上，偏摆角调整装置包括面板、底板及弹性连接件，CCD和激光器安装在面板上，底板上在正对面板的一侧表面开设凹槽，凹槽内设有半圆旋转轴，面板或底板上设有可驱动面板绕半圆旋转轴转动的第一微调机构，依次穿过面板、半圆旋转轴和底板设有垂直于半圆旋转轴的轴孔，轴孔内设有旋转轴，面板或底板上设有可驱动面板绕旋转轴转动的第二微调机构。本发明专利技术中偏摆角调整装置具有半圆旋转轴和旋转轴，调节第一微调机构和第二微调机构可分别实现左右、前后方向的小范围偏摆，从而解决显微镜视场的微量移动的问题。

【技术实现步骤摘要】
201610290119

【技术保护点】
一种线结构光显微测量装置，其特征在于：包括测量平台、升降架、装在所述升降架上的CCD和激光器及可驱动所述升降架在测量平台上方升降的升降机构，所述CCD和激光器通过对应的偏摆角调整装置装在所述升降架上，所述偏摆角调整装置包括面板、位于所述升降架和面板间的底板及可将面板和底板拉拢的弹性连接件，所述CCD和激光器安装在面板上，所述底板上在正对面板的一侧表面开设凹槽，凹槽内设有半圆旋转轴，所述面板或底板上设有可驱动面板绕半圆旋转轴转动的第一微调机构，依次穿过所述面板、半圆旋转轴和底板设有垂直于所述半圆旋转轴的轴孔，轴孔内设有旋转轴，所述面板或底板上设有可驱动面板绕旋转轴转动的第二微调机构。

【技术特征摘要】
2015.12.31 CN 201511033768X1.一种线结构光显微测量装置，其特征在于：包括测量平台、升降架、装在所述升降架上的CCD和激光器及可驱动所述升降架在测量平台上方升降的升降机构，所述CCD和激光器通过对应的偏摆角调整装置装在所述升降架上，所述偏摆角调整装置包括面板、位于所述升降架和面板间的底板及可将面板和底板拉拢的弹性连接件，所述CCD和激光器安装在面板上，所述底板上在正对面板的一侧表面开设凹槽，凹槽内设有半圆旋转轴，所述面板或底板上设有可驱动面板绕半圆旋转轴转动的第一微调机构，依次穿过所述面板、半圆旋转轴和底板设有垂直于所述半圆旋转轴的轴孔，轴孔内设有旋转轴，所述面板或底板上设有可驱动面板绕旋转轴转动的第二微调机构。2.根据权利要求1所述的线结构光显微测量装置，其特征在于：所述面板的顶端形成凸台，凸台上设有第一螺纹孔，所述第一微调机构包括穿过所述第一螺纹孔以抵住底板的第一调节手柄，第一调节手柄转动时可驱动面板绕半圆旋转轴转动。3.根据权利要求2所述的线结构光显微测量装置，其特征在于：底板上在所述凸台的两侧设有肩部部件，所述肩部部件上设有第二螺纹孔，所述第二微调机构包括穿过第二螺纹孔以抵住凸台的第二调节手柄，第二调节手柄转动时可驱动面板绕旋转轴转动。4.根据权利要求1所述的线结构光显微测量装置，其特征在于：所述底板和面板的两侧端面上开设有与旋转轴互成夹角的斜槽，所述弹性连接件为设在所述斜槽内且两端分...

【专利技术属性】
技术研发人员：李超林，欧阳祥波，李克天，陈新，
申请(专利权)人：广东工业大学，
类型：发明
国别省市：广东;44