内侧测微计制造技术

一种内侧测微计，相对于与可轴向进退的第１测杆（１１）螺合的内侧测微计本体（１），通过有选择性地使用长度尺寸各相差一定尺寸的测砧以及设于该测砧与内侧测微计本体（１）之间的伸测环（４０），可设定调整测定区域，其特征在于，具有伸测棒（５０），该伸测棒（５０）可装脱且有选择性地安装在内侧测微计本体（１）上，并具有与所述第１测杆（１１）一起进退的第２测杆（５８）。通过在从任意的１个测砧（３０）延长的测定区域中加上伸测环（４０）的长度，再加上第２延长构件（５８）的长度部分，可减少测砧（３０）的个数。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及内侧测微计，具体涉及一种削减部件数的内侧测微计。
技术介绍
如图8所示，传统的内侧测微计具有通过测微套筒20的回转使第1测杆11进退的内侧测微计本体1、长度各相差一定尺寸的多个测砧30、设于测砧30与内侧测微计本体1之间的伸测环40。如图9所示，内侧测微计本体1包括在贯通孔3的一端侧内周形成有雌螺纹4的内筒2A、设于内筒2A的外周上的圆筒状外筒2B；由外周上具有与内筒2A的雌螺纹4螺合的雄螺纹13的筒状的第1测杆轴12和与第1测杆轴12的一端侧螺合的测头15构成的第1测杆11；以及具有贯通孔21、将内筒2A和从外筒2B的一端侧向另一端侧的途中覆盖的筒状的测微套筒20。在内筒2A的一端侧附近沿圆筒轴设有多个切缝3A，并从外侧螺合有螺母3B。又，在内筒2A的另一端侧外周螺合有头部具有旋钮部的固定螺钉5和支承旋钮6。第1测杆轴12的一端侧外周和测微套筒20的一端侧开口部21A由从一端侧向另一端侧逐渐扩径的锥形体27A加以嵌合，并通过与测头15螺合的螺母27B加以紧固。在测微套筒20的一端侧内周设有滚花28，在另一端侧外周沿圆周方向刻有刻度23。测砧30一端侧的直径与内筒2A的贯通孔3的另一端侧的直径相同，在从一端侧向另一端侧的途中具有台阶31并形成扩径状态，在测砧30的另一端侧设有测头32。在外筒2B上沿圆筒轴方向刻有刻度7。伸测环40具有与测砧30一端侧的直径相同的贯通孔41。使用时，选择与被测定对象的被测定部位长度适合的长度的测砧30，将其从内筒2A的另一端侧插入，用固定螺钉5保持。然后，使内侧测微计本体1的测微套筒20回转而使第1测杆11进退。当测砧30的测头32及第1测杆11的测头15与被测定对象抵接时，从刻度7、23读取被测定对象的被测定部位的尺寸。使用伸测环40时，在将测砧30插入伸测环40的贯通孔41之后，将其测砧30插入内侧测微计本体1。由此可将内侧测微计的测定区域延长该伸测环40部分的尺寸。实际测定时，通过根椐被测定对象在内侧测微计本体1上选择使用测砧30和伸测环40，可如附图说明图10所示设定调整内侧测微计的测定区域。例如，事先准备好内侧测微计本体1的第1测杆11的作动距离为13mm、伸测环40的长度为12mm、以及50mm用、75mm用的测砧30。在以50mm～63mm作为测定区域时，可通过将50mm用的测砧30安装在内侧测微计本体1上进行测定。在以62mm～75mm作为测定区域时，可通过在50mm用的测砧30上添加伸测环40进行测定。在以75mm～88mm作为测定区域时，只要换成75mm用的测砧30即可进行测定。以下相同，用于可通过有选择性地使用测砧30和伸测环40延长测定区域，故只要准备好长度按25mm各相差一定尺寸的测砧30，就可在连续的测定区域中进行测定。然而，这种传统的内侧测微计必需准备长度按25mm各相差一定尺寸的测砧30。例如，为了以50mm～300mm作为测定区域，必需事先准备50mm、75mm、100mm、125mm、150mm、175mm、200mm、225mm、250mm、275mm用的10个测砧30。由于必需准备许多根长的测砧30，部件数多，因此加工麻烦，成本也高。并且，由于必须具有许多测砧30，故收纳盒体大，携带不便。本
技术实现思路
本专利技术有鉴于此，其主要目的在于提供一种部件数少、成本低、携带方便的内侧测微计。本专利技术的内侧测微计的结构是，相对于具有在贯通孔的内周设有雌螺纹的圆筒状的筒体、与所述雌螺纹螺合并设成可从所述贯通孔的一端侧轴向进退的第1测杆、可与所述第1测杆一体回转并设于所述内筒的外侧的测微套筒的内侧测微计本体，通过有选择性地使用长度尺寸各相差一定尺寸、在所述筒体的贯通孔的另一端侧上可装脱的多个测砧以及具有插入所述测砧的贯通孔、并设于所述筒体的另一端侧与所述测砧之间的第1延长构件，可设定调整测定区域，其特征在于，具有第2延长构件，所述第2延长构件可装脱且有选择性地安装在所述第1测杆的一端侧，并具有与所述第1测杆一起进退的第2测杆。采用这种结构，一旦测微套筒回转，第1测杆即与测微套筒一起回转。由于第1测杆的雄螺纹与筒体的雌螺纹螺合，因此第1测杆跟随该螺纹的螺距从筒体的一端侧沿轴向进退。此时，第1测杆从筒体的一端侧向筒体的外侧可进退的距离就是内侧测微计本体的作动区域。以往是通过有选择性地使用在筒体的贯通孔的另一端侧可装脱的测砧以及设于筒体的另一端侧与测砧之间的第1延长构件，将内侧测微计的作动区域设定调整为与被测定对象长度对应的测定区域。例如，在只使用短的测砧时，可将测定区域设定为短的长度，又，通过在其上添加第1延长构件来使用，就可将测定区域增加第1延长构件部分的尺寸而向长的一方变更调整。并且，通过换成更长的测砧，可将测定区域变更调整为更长的一方，依此类推，可对测定区域进行变更调整。添加新的测砧及其有选择性地与第1延长构件一起使用的第2延长构件可获得如下的效果。如上所述，将任意长度的测砧安装在内侧测微计本体上，中间嵌装第1延长构件，在将测定范围向长的一方设定调整之后，再通过安装第2延长构件，可将测定区域向更长的一方设定调整。换言之，以往可从任意的1个测砧延长的测定区域就是该测砧与第1延长构件的长度之和，但一旦加上了第2延长构件，就可延长至该测砧与第1延长构件、第2延长构件之和。这样，可去除以往所必需长度的测砧，即在该测砧上加上了第1延长构件、第2延长构件的长度之和的测砧。此时，由于测定区域越长，可从以往所必需的测砧中去除的个数也就越多，因此使上述的效果更加明显。通过准备1个第2延长构件，可去除多个长的测砧，这不仅可减少部件数，而且在注意到长的多个测砧的尺寸及其制造时，上述测砧个数的去除可取得降低成本和减小收纳盒体尺寸的明显效果。在本专利技术中，将所述第1测杆的作动区域作为v、所述第1延长构件的长度作为k、所述第2延长构件的所述第2测杆的长度作为s、所述测砧的长度尺寸之差作为d时，最好具有k≤v、s≤v+k、d≤v+k+s的关系。采用这种结构，可用内侧测微计测定的测定区域就可成为无间隙连续的区域。安装有长度为a的测砧A的内侧测微计的测定区域S1由于内侧测微计的作动区域是V，因此用a≤S1≤a+v来表示。安装有测砧A和长度为k的第1延长构件时的测定区域S2是a+k≤S2≤a+k+v。此时，由k≤v得a+k≤a+v，故(S2的最小值)≤(S1的最大值)。由此，S1和S2至少具有交叉的区域或者连续。安装有测砧A和具有长度s的第2测杆的第2延长构件时的测定区域S3是a+s≤S3≤a+s+v。此时，由s≤k+v得a+s≤a+k+v，故(S3的最小值)≤(S2的最大值)。由此，S2和S3至少具有交叉的区域或者连续。安装有测砧A、第1延长构件和第2延长构件时的测定区域S4是a+k+s≤S4≤a+k+s+v。此时，由k≤v得a+k+s≤a+s+v，故(S4的最小值)≤(S3的最大值)。由此，S3和S4至少具有交叉的区域或者连续。若测砧A变更为长度a+d的测砧B，则测定区域S5是a+d≤S5≤a+d+v。此时，由d≤v+k+s得a+d≤a+v+k，故(S5的最小值)≤(S4的最大值)。由此，S4和S5至少具有交叉的区域或者连续。由此，采用具有上述结构的内侧本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种内侧测微计，其中，相对于具有在贯通孔的内周设有雌螺纹的圆筒状的筒体、与所述雌螺纹螺合并设成可从所述贯通孔的一端侧轴向进退的第１测杆、可与所述第１测杆一体回转并设于所述内筒的外侧的测微套筒的内侧测微计本体，通过有选择性地使用长度尺寸各相差一定尺寸、在所述筒体的贯通孔的另一端侧上可装脱的多个测砧以及具有插入所述测砧的贯通孔、并设于所述筒体的另一端侧与所述测砧之间的第１延长构件，可设定调整测定区域，其特征在于， 具有第２延长构件，所述第２延长构件可装脱且有选择性地安装在所述第１测杆的一端侧，并具有与所述第１测杆一起进退的第２测杆。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：照井胜信，小西正，柴桥稔，
申请(专利权)人：株式会社三丰，
类型：发明
国别省市：JP[日本]