【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及几何量光学测量
，具体是指一种激光扫描直径测量方法及系统。
技术介绍
已有的激光扫描直径测量系统由激光光源、准直镜、反射转镜、扫描物镜、接收物镜和光电器件依次相互连接组成，光电接收器还通过信号线与计算机相连接。系统工作时，激光光源发出的光线经准直镜准直，投射在偏转镜上成为偏转光线，再经扫描物镜后扫描被测工件，扫描光线被待测量工件遮挡形成阴影，该阴影宽度与工件直径相对应，系统数据处理单元根据式(1)得出被测物件直径值d，式中K为常数，θ为扫描工件偏转角。d＝K·θ已有测量方法及系统在实践应用中，存在以下问题1.测量系统的精度很大程度上取决于线性扫描物镜的精度，而该物镜的制造和安装都比较困难，测量时受温度影响较大；2.测量系统的测量范围受扫描物镜口径限制，当用于大尺寸测量场合时，制造成本大幅度增加；3.对于大尺寸或中等测量精度(比如允差10微米以上)的应用而言，已有测量方法及系统的制造和使用成本显得比较高，当用于大尺寸测量时，实现起来比较困难，性能价格比低，限制了该类非接触测量技术的推广使用。
技术实现思路
本专利技术的目的就是为了解决上述现有技术...
【技术保护点】
一种激光扫描直径测量方法，其特征是，将激光光源发出的准直激光束通过非对称扫描转镜偏转、形成扫描光束，扫描光束扫描待测工件后，通过接收物镜，由光电接收器接收，采用下式测量得到工件外径ｄ： ｄ＝２.ｔ.ｓｉｎ（θ↓［２］／２）.ｓｉｎ（θ↓［３］／２）／（ｓｉｎ（θ↓［３］／２）－ｓｉｎ（θ↓［２］／２）） 其中：ｔ是一个常数，为非对称扫描转镜两反射面到转镜旋转中心的距离之差，θ↓［２］、θ↓［３］分别为非对称扫描转镜两反射面对待测工件的扫描角。
【技术特征摘要】
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