岩石表面三维形貌的测量方法技术

一种岩石表面三维形貌的测量方法，首先根据参照物的实际空间方位坐标与至少两摄像机拍摄的所述参照物图像的像点空间坐标建立像点与实际空间坐标的函数关系，然后将具有预设相位的光栅所形成的栅格投射至待测量的岩石以将所述待测量的岩石表面划分为多个测量空间，再拍摄已被划分为多个测量空间的所述待测量的岩石表面的图像，并将所拍摄的各图像的像点进行同名点的匹配以获得各测量空间在各拍摄的图像中的相应像点坐标，最后根据所述各测量空间的各像点空间坐标及所述函数关系计算相应各测量点的实际空间坐标，如此可自动快速有效的获得待测量岩石表面的三维形貌特征。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种。
技术介绍
目前测量岩石表面形貌的测量方法主要有两种，即机械接触式和激光非接触式测量方法。机械接触式测量方法为一种直接测量方法，其每次测量时先量得单个点的空间坐标，然后凭借机械装置移动测量探头来获得整个平面上多个点的空间坐标，如此可见，岩石表面的三维特征需由多个点的数据组合得到，整个测量过程既费时，又采集数据量少，同时还极易受机械结构的影响，难以直接有效的获得岩石表面上三维特征。而激光非接触式测量方法采用三角测量原理，根据选择点光源或者线光源，每次测量一个测点或者一条测线上各个点的空间坐标，然后凭借机械装置移动测头来获得整个岩石表面上多条平行测线上的数据，再将其组合获得岩石表面的三维特征，该方法相对于机械式测量方法要快，但是整个测量仍旧十分费时，而且采集的数据有限，再者，激光探头要安装在机械装置上，所以受机械结构影响也较大，同样也难以直接获得岩石表面的三维特征。因此，如何自动有效的获得岩石表面形貌特征实已成为本领域技术人员亟待解决的技术课题。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种，以实现对岩石表面形貌特征的快速测量。为了达到上述目的，本专利技术提供一种，其包括步骤1)根据参照物的实际空间方位坐标与至少两摄像机拍摄的所述参照物图像的像点空间坐标建立像点与实际空间坐标的函数关系；2)将具有预设相位的光栅所形成的栅格投射至待测量的物体以将所述待测量的岩石表面划分为多个测量空间；3)所述至少两摄像机拍摄已被分割为多个测量空间的所述待测量的岩石表面的图像；4)将所述至少两摄像机各自所拍摄的图像的像点进行同名点的匹配以获得各测量空间在所拍摄的图像中的像点坐标；5)根据所述各测量空间的像点空间坐标及所述函数关系计算相应各测量空间的实际空间坐标以获得所述待测量岩石表面的三维形貌。其中，还包括步骤(1)判断是否需要对所述待测量物体的表面重新进行测量空间的进一步细分，若是则改变所述栅格的相位，然后重复步骤3)和步骤4)，所述参照物为标定块上的标准点，所述栅格的编码信息为离散二进制编码信息。综上所述，本专利技术的通过对岩石表面的测量空间进行划分测出各测量空间的实际空间坐标，进而即可获得所述岩石表面的三维形貌特征，实现快速有效的物体形貌特征的测量。附图说明图1为本专利技术的的示意图。图2为本专利技术的的基本流程示意图。图3a至3d为本专利技术的中栅格投射至岩石表面的示意图。图4为本专利技术的中岩石表面一点在XOZ平面内与两台摄像机之间的关系示意图。图5为本专利技术的岩石表面三维形貌测量方法的光路结构的示意图。具体实施例方式请参阅图1及图2，本专利技术的为一种主动的三角测量方法，其先通过数字光栅投影装置投射，在岩石表面投射一系列连续的条纹状的结构光，被测岩石的空间信息经过结构光编码成为条纹图形，由左右摄像机即摄像头1和摄像头2记录下来，经过相位计算和匹配，根据匹配结果利用摄像机外参数求取空间点的三维坐标，将坐标带入岩石表面三维形貌参数的计算公式，获得岩石表面三维形貌参数，以下将对本专利技术的作进一步描述。首先执行步骤S10，根据参照物的实际空间方位坐标与至少两摄像机拍摄的所述参照物图像的像点空间坐标建立像点与实际空间坐标的函数关系(即获得系统内部参数，如镜头焦距等)，例如，通常采用标定块上的标准点作为参照物，由于各标准点之间的点距固定，通过对点距进行测量及所拍摄的各标准点的图像像点空间坐标，通过摄影测量学的原理计算出相关参数值，由此可建立像点空间坐标和实际空间坐标的函数关系，在本实施方式中，采用两台摄像机拍摄图像，接着执行步骤S11。在步骤S11中，将具有预设相位的光栅所形成的栅格投射至待测量的岩石以将所述待测量的岩石表面分割为多个测量空间，通常光栅采用预设(初始)相位为0度的条纹状的明暗(即黑白)格，且各明暗格分别用二进制编码1和0表示，请参见图3a，采用光栅投影装置将所述栅格投射至所述待测量的岩石表面，则所述待测量的岩石表面被分为2个测量空间，当测量人员对所述岩石表面的测量精度提高时，其可改变栅格的宽度，请参见图3b，则所述待测量的岩石表面被分为4个测量空间，图3c划分为8个测量空间，图3c划分为16个测量空间，因此本领域技术人员可根据实际精度要求采用不同宽度栅格，接着执行步骤S12。在步骤S12中，两摄像机拍摄已被分割为多个测量空间的所述待测量的岩石表面的图像，接着执行步骤S13。在所述步骤S13中，将两摄像机各自所拍摄的图像的像点进行同名点的匹配以获得各测量空间在各拍摄的图像中的相应像点坐标，即找出在同一时间和条件下，同一测量对象在左右摄像机中的对应的像点。如图4，空间中一点P在世界坐标系OWXWYWZW下坐标为P(XW，YW，ZW)。左摄像机坐标系O1X1Y1Z1，以左摄像机光心为原点O1，光轴为O1Z1轴，X1Y1面平行于左图像平面的坐标系，有效焦距为f1；右摄像机坐标系O2X2Y2Z2，以右摄像机光心为原点O2，光轴为O2Z2轴，X2Y2面平行于右图像平面的坐标系，有效焦距为f2。点P在左摄像机坐标系和右摄像机坐标系中的坐标分别为P1(X1，Y1，Z1)和P2(X2，Y2，Z2)。左图像坐标系OaXaYa是以光轴O1Z1和图像平面的交点Oa为原点，XaYa轴平行于左摄像机坐标系的X1Y1轴；右图像坐标系ObXbYb是以光轴O2Z2和图像平面的交点Ob为原点，XbYb轴平行于右摄像机坐标系的X2Y2轴。点P在左图像坐标系OaXaYa和右图像坐标系ObXbYb中的坐标分别为Pa(Xa，Ya)和Pb(Xb，Yb)。象素坐标系为计算机图像平面的坐标系，原点在屏幕左上角，以象素为单位。点P在左象素坐标系C1U1V1和右象素坐标系C2U2V2中的坐标分别为PC(U1，V1)和PC(U2，V2)。以左摄像机对应的转换为例，从世界坐标系到摄像机坐标系，有X1Y2Z3=RXwYwZw+T...(1)]]> 其中旋转矩阵R和平移矩阵T分别为R=r1r2r3r4r5r6r7r8r9,T=t1t2t3]]>从摄像机坐标系到图像坐标系，有Xa=fa·X1Z1,Ya=fa·Y1Z1...(2)]]>从图像坐标系到象素坐标系，有U1＝U01+Xa/dx V1＝V01+Ya/dy (3)式中，(U01，V01)为图像坐标系的原点在象素坐标系中的象素坐标，其近似值为图像中心象素坐标；dx，dy传感器相邻象素之间X方向和Y方向的距离。其中，R、T、fa、(U01，V01)、dx，dy均为系统的内部参数，可以在标定中获得。同理可得到世界坐标系向右摄像机坐标系的转换公式，左右得到的结果相互比较验证，完成同名点的匹配，接着执行步骤S14。在步骤S14中，根据所述各测量空间的各像点空间坐标及所述函数关系计算相应各测量点的实际空间坐标以获得所述待测量岩石表面的三维形貌，参考图5，R为参考平面，即当被测岩石表面为绝对平整的面，C为CCD摄像机镜头光心，P为投影系统镜头光心，G为投影光栅。H为被测物体上的任一点，其在参考面上的投影为H’，线段HH′的长度为h，即H的高度。A、B点分别是H点与两光心连线和参考面的交点。入射光线照射到参考平面R上的A点，放上被测物体后，该光线照射到被测岩石表本文档来自技高网...

【技术保护点】
１）一种岩石表面三维形貌的测量方法，其特征在于包括步骤：２）根据参照物的实际空间方位坐标与至少两摄像机拍摄的所述参照物图像的像点空间坐标建立像点与实际空间坐标的函数关系；３）将具有预设相位的光栅所形成的栅格投射至待测量的物体以将所述待测量的岩石表面划分为多个测量空间；４）所述至少两摄像机拍摄已被分割为多个测量空间的所述待测量的岩石表面的图像；５）将所述至少两摄像机各自所拍摄的图像的像点进行同名点的匹配以获得各测量空间在各拍摄的图像中的相应像点坐标；６）根据所述各测量点的各像点空间坐标及所述函数关系计算相应各测量空间的实际空间坐标以获得所述待测量岩石表面的三维形貌。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：夏才初，王伟，丁增志，汤渊，刘远明，顾翠莲，汪谋，曹诗定，
申请(专利权)人：同济大学，
类型：发明
国别省市：31[中国|上海]