一种测量器，执行：预先设定处理，根据来自操作部的指令，使检测单元检测位移量，使检测到的位移量作为测量基准值（Ｘ↓［ｃ］）存储在存储部中；以及测量值计算处理，根据当前的位移量和存储部中存储的测量基准值（Ｘ↓［ｃ］）的差，计算测量值，预先设定处理具有判断处理，该判断处理在每隔规定时间（Ｔ↓［１］）由检测单元检测到的位移量的变动量在允许范围内的状态持续了一定时间的情况下，判断为可动部件相对于固定部件静止，在判断处理中，在判断为可动部件相对于固定部件静止的情况下，使位移量作为测量基准值（Ｘ↓［ｃ］）存储在存储部中。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及测量可动部件相对于固定部件的位移量的测量器。
技术介绍
作为测量被测量物的尺寸等的数字式测量器，已知有卡尺、测微计、指示器(indicator )、试验指示器(test indicator )、测高计、刻度尺(scale)等。 在这样的测量器中包括固定部件；相对于固定部件可移动地构成的可动部 件；检测可动部件相对于固定部件的位移量的检测单元；显示由检测单元检 测到的可动部件相对于固定部件的位移量的显示单元。例如，如图1所示，试验指示器1包括主体10;触针11,贯穿主体 IO设置，能够以被支撑部111为中心摇动地被支撑；编码器12，包括被设 置在触针11的主体IO侧的端部的电极121、以及设置在主体10上，与电极 121静电耦合而检测触针11的位移量的检测头122;显示部14,对由编码器 12检测到的触针11相对于主体10的位移量进行数字显示；以及操作部15， 用于进行所谓预先设定处理。这样的试验指示器1,是用于根据使设置在触针11的一端的接触部112 接触到被测量物2时的触针11的位移量来测量被测量物2的测量部位的高度 等的测量器。而且，试验指示器1可以通过实施预先设定处理，进行多个对象物等的 比较等。在进行两个对象物的高度的比较时，首先使触针11的接触部112接触一 个对象物的上面，操作操作部15。由此，存储这时的触针11的位移量作为 测量基准值。接着，使触针11的接触部112接触另一个对象物的上面。这样， 这时的触针11的位移量和先前被存储的测量基准值的差被显示在显示部14 上，可以比较两个对象物的高度。作为这样的试验指示器，例如公开了以下试验指示器(文献实公平 2-45762号公报)具有检测部件，以电方式取出由于触针的位移而产生的莫尔条紋，可以进行正确的测量。但是，在如上述文献中记载的以往的试验指示器中，用于进行预先设定 处理的操作部被设置在主体上，所以存在不能正确地决定测量基准值的问题。利用图5~图7说明该问题。在图5~图7中，横轴表示时间，纵轴表示触针的位移量。曲线表示在 预先设定处理时产生的触针的位移。在该曲线的下面，用时序图表示了操作 部的操作状况和测量基准值的存储。图5表示在以往的试验指示器1中实施了预先设定处理时的触针ll的位移量。在预先设定处理时，首先使触针11的接触部112与对象物接触等从而使 触针11静止。这是to的时刻。接着，操作主体IO的操作部15。这是t,时刻。如图5的曲线所示，从to到t,中，由于触针11静止，所以位移量保持为 yo而不变化。在t,,如果操作主体10的操作部15,则力还传到与操作部15 一体的主体10，主体10振动。这里，由于编码器12检测的是触针11相对 于主体10的位移量，所以主体10的振动作为触针11的位移量被^r测。测量基准值的存储与操作部15的操作对应来进行，但是在与进行了操作部15的操作的时刻t!相比多少延迟了的时刻t2进行。由于t2是在进行了操作部15的操作之后，所以主体10较大地振动，作为测量基准值存储的触针11 的位移量是与实际静止位置下的位移量yo不同的yi。因此，在被存储的测量 基准值中，含有yt-yo的误差。为了防止这样的测量基准值的误差，已知有在操作部15的操作和测量基 准值的存储之间设置时滞的方法。在图6中表示实施了附带时滞的预先设定处理的情况下的触针11的位移 量、操作部15从操作状况和测量基准值的存储的定时。图6仅在t,和t2间设置有大的时滞T这一点与图5的情况不同。由于在 经过了大的时滞T的12时刻主体10的振动收敛，所以可以将实际的静止位置 的位移量yo作为测量基准值存储。但是，在设置这样的时滞的方法中，需要将时滞设定得比直至主体10 的振动收敛的时间长。由于主体10的振动由于环境条件等而变化，所以如图 6所示，有时相对于振动持续的时间TQ，时滞T过长。这时，T-Tq部分的 时间变得浪费，在作业效率方面不好。而且，相反，如图7所示，有时相对于振动持续的时间To,时滞T过短。 这时，由于在t2的时刻主体10的振动还未收敛，所以作为测量基准值存储的 触针11的位移量成为与实际的静止位置下的位移量yo不同的y2,产生y2-y0的误差。这样的测量基准值的误差不仅在试验指示器中发生，也在主体中具有用 于预先设定处理的操作部的各种测量器中发生。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供测量器，可以有效地排除在预先设定处理中产生测 量基准值的误差。本专利技术的测量器包括固定部件；可动部件，被构成为相对于所述固定 部件可移动；；险测单元，检测所述可动部件相对于所述固定部件的位移量； 运算部，根据由所述检测单元检测到的所述位移量计算测量值；显示部，显 示所述运算部计算出的所述测量值；以及操作部，对所述运算部提供指令， 所述运算部具有存储由所述检测单元检测到的所述位移量的存储部，并且 所述运算部执行预先设定处理，根据来自所述操作部的指令，使由所述检 测单元检测到的所述位移量作为测量基准值存储在所述存储部中；以及测量 值计算处理，根据当前的所述位移量和所述存储部中存储的所述测量基准值 的差，计算所述测量值，所述预先设定处理执行判断处理，该判断处理在每 隔规定时间由所述检测单元检测到的所述位移量的变动量在允许范围内的状 态持续了 一定时间的情况下，判断为所述可动部件相对于所述固定部件静止， 在所述判断处理中，在判断为所述可动部件相对于所述固定部件静止的情况 下，使所述位移量作为所述测量基准值存储在所述存储部中。按照本专利技术，预先设定处理执行判断处理，该判断处理在每隔规定时间 由所述检测单元检测到的位移量的变动量在允许范围内的状态持续了 一定时 间的情况下，判断为可动部件相对于固定部件静止，在判断处理中，在判断 为可动部件相对于固定部件静止的情况下，使位移量作为测量基准值存储在 存储部中，所以不会在可动部件已相对于规定部件静止后，直至存储测量基 准值为止存在无用时间、或者在可动部件相对于固定部件静止之前存储测量 基准值，可以有效地排除预先设定处理中的测量基准值的误差的产生。在本专利技术中，优选所述判断处理执行以下处理暂定基准值设定处理，根据来自所述操作部的指令，使由所述检测单元检测到的所述位移量作为暂定基准值存储在所述存储部中；继续检测处理，在所述暂定基准值设定处理 之后，每隔所述规定时间，使所述^r测单元检测所述位移量；判别处理，判 别在所述继续检测处理中检测到的所述位移量和所述暂定基准值的差的绝对 值的随时间变动值是否在预先设定的允许范围内；以及变量变更处理，根据 在所述判别处理中进行的判别来变更判断时间变量，所述变量变更处理在所 述判别处理中，判别出所述随时间变动值在所述允许范围内的情况下，对所 述判断时间变量计数一单位，在判别出所述随时间变动值不在所述允许范围 内的情况下，将这时的所述位移量作为新的暂定基准值存储在所述存储部中， 同时使所述判断时间变量返回预先设定的初始值，所述判断时间变量在达到 预先设定的值时，判断为所述可动部件相对于所述固定部件静止，并且将所 述暂定基准值作为所述测量基准值。按照这样的结构，在判断处理中，在判断时间变量达到预先设定的数值 之前的期间，在随时间变动值在允许范围内的状态持续时，判断为可动部件 相对于本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种测量器，其特征在于， 该测量器包括： 固定部件； 可动部件，被构成为相对于所述固定部件可移动； 检测单元，检测所述可动部件相对于所述固定部件的位移量； 运算部，根据由所述检测单元检测到的所述位移量计算测量值； 显示部，显示所述运算部计算出的所述测量值；以及 操作部，对所述运算部提供指令， 所述运算部具有：存储由所述检测单元检测到的所述位移量的存储部， 并且所述运算部执行： 预先设定处理，根据来自所述操作部的指令，使由所述检测单元检测到的所述位移量作为测量基准值存储在所述存储部中；以及 测量值计算处理，根据当前的所述位移量和所述存储部中存储的所述测量基准值的差，计算所述测量值， 所述预先设定处理执行判断处理，该判断处理在每隔规定时间由所述检测单元检测到的所述位移量的变动量在允许范围内的状态持续了一定时间的情况下，判断为所述可动部件相对于所述固定部件静止， 在所述判断处理中，在判断为所述可动部件相对于所述固定部件静止的情况下，使所述位移量作为所述测量基准值存储在所述存储部中。
【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：佐佐木康二，
申请(专利权)人：三丰株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]
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