【技术实现步骤摘要】
一种原子层沉积技术制备单质钯薄膜的方法
本专利技术涉及单质钯薄膜制作方法
,具体为一种原子层沉积技术制备单质钯薄膜的方法。
技术介绍
近年来,贵金属和过渡金属由于具有某些独特和卓越的物理化学特性,如高熔点、高化学稳定性、高强度、良好的延展性、抗氧化性、耐腐蚀性、高催化活性以及良好的导电性,而广泛应用于微电子、光学、电极材料、燃料电池、气敏元件和航空航天等高新技术和军工技术的各个领域。钯薄膜具有广泛的纳米级应用。例如,它们可以用作纳米电子学中的金属触点或用作储能材料。纳米级Pd的催化性能也很受关注,例如在气体传感应用中。其中许多应用可受益于ALD的保形沉积,而低温工艺通常是首选,尤其是在涉及温度敏感材料时。目前制备金属薄膜的方法一般有物理气相沉积、电化学沉积、溶胶凝胶、卤化物化学气相沉积和金属有机物化学气相沉积等。其中最常用的是物理气相沉积和化学气相沉积,然而物理气相沉积法沉积温度高,在复杂形状部件表面成膜能力差,化学气相沉积在薄膜纯度和厚度精确控制方面有缺陷。目前制备金属单质钯薄膜的方法一般有物理气相沉 ...
【技术保护点】
1.一种原子层沉积技术制备单质钯薄膜的方法,其特征在于:所述方法包括钯前驱体和肼类还原性前驱体。/n
【技术特征摘要】
1.一种原子层沉积技术制备单质钯薄膜的方法,其特征在于:所述方法包括钯前驱体和肼类还原性前驱体。
2.根据权利要求1所述的一种原子层沉积技术制备单质钯薄膜的方法,其特征在于:所述钯前驱体可采用六氟乙酰丙酮钯Pd(hfac)2。
3.根据权利要求1所述的一种原子层沉积技术制备单质钯薄膜的方法,其特征在于:所述肼类还原性前驱体可采用无水肼、甲基肼、乙基肼、丙基肼、叔丁基肼等等C1-C5的烃链还原性前驱体,所述肼类还原剂结构式为R1R2N-NR3R4,其中R1、R2、R3、R4包括氢原子、C1-C5的烃链,R1、R2、R3、R4可以相同也可以不同。
4.根据权利要求1所述的一种原子层沉积技术制备单质钯薄膜的方法,其特征在于:所述方法反应温度为50-400℃,钯源Pd(hfac)2为钯前驱体,钯源加热温度为120℃,肼类为还原性源,加热温度为30-70℃,运输管路及ALD阀门的加热温度为150-200℃,保证前驱体源在气相下运输而不发生冷凝。
5.根据权利要求...
【专利技术属性】
技术研发人员:不公告发明人,
申请(专利权)人:江苏迈纳德微纳技术有限公司,
类型:发明
国别省市:江苏;32
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