一种二极管测试座制造技术

本实用新型专利技术公开了一种二极管测试座，包括基座，基座的下表面固定连接有支撑腿，多个支撑腿在基座的下表面呈矩形阵列分布，基座的上表面分别开设有第一安装孔和第二安装孔，第一安装孔和第二安装孔均在基座的上表面呈矩形阵列分布，基座的背面设置有测试装置，且测试装置包括有连接块，连接块的正面与基座的背面固定连接。该二极管测试座，通过设置基座的背面设置有测试装置，且测试装置包括有连接块，连接块的正面与基座的背面固定连接，从而具有质检人员在需要对不同尺寸的二极管本体进行测试时，通过使用本装置来有效提高质检人员对二极管本体测试效率的特点。

【技术实现步骤摘要】
一种二极管测试座
本技术涉及半导体
，更具体地说，它涉及一种二极管测试座。
技术介绍
二极管电子元件当中，一种具有两个电极的装置，只允许电流由单一方向流过，许多的使用是应用其整流的功能，而变容二极管则用来当作电子式的可调电容器，大部分二极管所具备的电流方向性我们通常称之为“整流”功能，二极管最普遍的功能就是只允许电流由单一方向通过，反向时阻断，因此，二极管可以想成电子版的逆止阀。二极管在制作完成后，还需要经过质检人员对二极管进行抽样质检，而现有的质检人员对二极管的测试方法，通常都是质检人员先在制作完成的二极管中进行抽取，再通过万用表对其进行分批次测试，但是，此测试方法不仅测试效率低，而且质检人员在对二极管进行测试的过程中，易因操作失误造成二极管出现损坏。
技术实现思路
针对现有技术存在的不足，本技术的目的在于提供一种二极管测试座，其具有在对不同尺寸的二极管进行测试时，提高质检人员测试效率的特点。为实现上述目的，本技术提供了如下技术方案：一种二极管测试座，包括基座，基座的下表面固定连接有支撑腿，多个支撑腿在基座的下表面呈矩形阵列分布，基座的上表面分别开设有第一安装孔和第二安装孔，第一安装孔和第二安装孔均在基座的上表面呈矩形阵列分布，基座的背面设置有测试装置，且测试装置包括有连接块，连接块的正面与基座的背面固定连接。进一步地，连接块的上表面分别开设有第一放置槽和第二放置槽，第一放置槽和第二放置槽的截面均呈半圆形状，多个第一放置槽和第二放置槽均在连接块的上表面呈矩形阵列分布。进一步地，第一放置槽的内壁活动连接有正表笔，第二放置槽的内壁活动连接有负表笔，基座的背面分别开设有第一安装槽和第二安装槽，多个第一安装槽和第二安装槽均在基座的背面呈矩形阵列分布；通过上述技术方案，正表笔与第一放置槽配合使用，负表笔与第二放置槽配合使用，便于分别对正表笔和负表笔进行支撑固定，有效提高质检人员的检测效率。进一步地，第一安装孔的内壁和第二安装孔的内壁均滑动套接有二极管本体，第一安装槽的内底壁和第二安装槽的内底壁均固定连接有接触棒，正表笔的背面和负表笔的背面均设置有万用表，正表笔和负表笔均与万用表电性连接；通过上述技术方案，不同位置的第一安装孔和第二安装孔对应不同尺寸的二极管本体，从而便于质检人员对不同尺寸的二极管本体进行测试。进一步地，接触棒的材质为银材料制成，接触棒的外表面开设有半圆孔，半圆孔的内壁与二极管本体的外表面滑动套接，接触棒的背面开设有卡槽，卡槽的截面呈圆锥形状；通过上述技术方案，接触棒由银材质制成，因为银具有良好的导电性。进一步地，半圆孔的内壁与二极管的外表面相适配，正表笔的外表面和负表笔的外表面均与卡槽的内壁卡接；通过上述技术方案，正表笔和负表笔与卡槽卡接，从而便于质检人员对二极管本体进行测试。进一步地，第一安装孔、第一安装槽、卡槽和第一放置槽的轴线均位于同一轴线上，正表笔的外表面和负表笔的外表面均与卡槽的内壁相适配；通过上述技术方案，第一安装孔、第一安装槽、卡槽和第一放置槽的轴线均位于同一轴线上，从而保证了同心度。综上所述，本技术具有以下有益效果：通过设置基座的背面设置有测试装置，且测试装置包括有连接块，连接块的正面与基座的背面固定连接，从而具有质检人员在需要对不同尺寸的二极管本体进行测试时，通过使用本装置来有效提高质检人员对二极管本体测试效率的特点。附图说明图1为本技术结构示意图；图2为本技术基座结构剖视图；图3为本技术基座结构俯视图；图4为本技术基座结构后视图；图5为本技术接触棒结构立体图。图中：1、基座；2、支撑腿；3、第一安装孔；4、第二安装孔；5、连接块；51、第一放置槽；52、第二放置槽；53、正表笔；54、负表笔；55、第一安装槽；56、第二安装槽；57、二极管本体；58、接触棒；59、万用表；510、半圆孔；511、卡槽。具体实施方式实施例：以下结合附图1-5对本技术作进一步详细说明。一种二极管测试座，如图1-4所示，包括基座1，基座1的下表面固定连接有支撑腿2，多个支撑腿2在基座1的下表面呈矩形阵列分布，基座1的上表面分别开设有第一安装孔3和第二安装孔4，第一安装孔3和第二安装孔4均在基座1的上表面呈矩形阵列分布，基座1的背面设置有测试装置，且测试装置包括有连接块5，连接块5的正面与基座1的背面固定连接。如图1-3所示，进一步地，连接块5的上表面分别开设有第一放置槽51和第二放置槽52，第一放置槽51和第二放置槽52的截面均呈半圆形状，多个第一放置槽51和第二放置槽52均在连接块5的上表面呈矩形阵列分布；如图1-4所示，进一步地，第一放置槽51的内壁活动连接有正表笔53，第二放置槽52的内壁活动连接有负表笔54，基座1的背面分别开设有第一安装槽55和第二安装槽56，多个第一安装槽55和第二安装槽56均在基座1的背面呈矩形阵列分布；如图1-5所示，进一步地，第一安装孔3的内壁和第二安装孔4的内壁均滑动套接有二极管本体57，第一安装槽55的内底壁和第二安装槽56的内底壁均固定连接有接触棒58，正表笔53的背面和负表笔54的背面均设置有万用表59，正表笔53和负表笔54均与万用表59电性连接；如图1-5所示，进一步地，接触棒58的材质为银材料制成，接触棒58的外表面开设有半圆孔510，半圆孔510的内壁与二极管本体57的外表面滑动套接，接触棒58的背面开设有卡槽511，卡槽511的截面呈圆锥形状；如图1-5所示，进一步地，半圆孔510的内壁与二极管的外表面相适配，正表笔53的外表面和负表笔54的外表面均与卡槽511的内壁卡接；如图1-5所示，进一步地，第一安装孔3、第一安装槽55、卡槽511和第一放置槽51的轴线均位于同一轴线上，正表笔53的外表面和负表笔54的外表面均与卡槽511的内壁相适配；如图1-4所示，进一步地，通过设置基座1的背面设置有测试装置，且测试装置包括有连接块5，连接块5的正面与基座1的背面固定连接，从而具有质检人员在需要对不同尺寸的二极管本体57进行测试时，通过使用本装置来有效提高质检人员对二极管本体57测试效率的特点；工作原理：步骤一，准备工作，质检人员需要对制作完成的二极管本体57进行测试时，质检人员先从制作完成的二极管本体57中随机抽取，质检人员控制万用表59开始工作，再将正表笔53和负表笔54与接触棒58上的卡槽511进行卡接，设置第一放置槽51和第二放置槽52便于对正表笔53和负表笔54进行固定；步骤二，测试开始，质检人员将需要的二极管本体57插入第一安装孔3和第二安装孔4的内部，与接触棒58上的半圆孔510进行接触，此时质检人员从万用表59处观察测试结果，设置第一安装孔3和第二安装孔4便于第一质检人员根据不同位置的第一安装孔3和第二安装孔本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种二极管测试座，包括基座(1)，其特征在于：所述基座(1)的下表面固定连接有支撑腿(2)，多个所述支撑腿(2)在基座(1)的下表面呈矩形阵列分布，所述基座(1)的上表面分别开设有第一安装孔(3)和第二安装孔(4)，所述第一安装孔(3)和第二安装孔(4)均在基座(1)的上表面呈矩形阵列分布，所述基座(1)的背面设置有测试装置，且测试装置包括有连接块(5)，所述连接块(5)的正面与基座(1)的背面固定连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种二极管测试座，包括基座(1)，其特征在于：所述基座(1)的下表面固定连接有支撑腿(2)，多个所述支撑腿(2)在基座(1)的下表面呈矩形阵列分布，所述基座(1)的上表面分别开设有第一安装孔(3)和第二安装孔(4)，所述第一安装孔(3)和第二安装孔(4)均在基座(1)的上表面呈矩形阵列分布，所述基座(1)的背面设置有测试装置，且测试装置包括有连接块(5)，所述连接块(5)的正面与基座(1)的背面固定连接。


2.根据权利要求1所述的二极管测试座，其特征在于：所述连接块(5)的上表面分别开设有第一放置槽(51)和第二放置槽(52)，所述第一放置槽(51)和第二放置槽(52)的截面均呈半圆形状，多个所述第一放置槽(51)和第二放置槽(52)均在连接块(5)的上表面呈矩形阵列分布。


3.根据权利要求2所述的二极管测试座，其特征在于：所述第一放置槽(51)的内壁活动连接有正表笔(53)，所述第二放置槽(52)的内壁活动连接有负表笔(54)，所述基座(1)的背面分别开设有第一安装槽(55)和第二安装槽(56)，多个所述第一安装槽(55)和第二安装槽(56)均在基座(1)的背面呈矩形阵列分布。


4.根据权利要求3所述的二...

【专利技术属性】
技术研发人员：江俊，
申请(专利权)人：常州顺烨电子有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32