一种提高测试流效率的半导体自动测试设备及测试方法技术

一种提高测试流效率的半导体自动测试装置及测试方法，该方法包括建库步骤和测试步骤；建库步骤包括在数据库中建立测试项数据表和测试类型数据表，测试项数据表为以测试项为维度的存储有每个测试项数据的表，根据测试类型选择测试项模板，以新建测试类型数据表中的测试项数据；测试步骤包括接收从设备端所需测试的测试类型要求，根据测试类型所对应的测试项数据表中的测试项ID或测试项名称Name，获取所需的测试项数据；以及将测试项数据所对应指向一个信息及代码文件，发送给设备端。

【技术实现步骤摘要】
一种提高测试流效率的半导体自动测试设备及测试方法
本专利技术涉及半导体自动测试设备(AutomaticTestEquipment，简称ATE)领域，尤其涉及一种提高测试流效率的半导体自动测试设备及测试方法。
技术介绍
在半导体电子元器件(Device)的制造工艺过程中，需要各种测试试验设备，这类设备就是所谓的半导体自动测试设备ATE。半导体自动测试设备ATE存在于前道工序(FrontEnd)和后道工序(BackEnd)的各个环节，具体的取决于工艺(Process)设计的要求。半导体自动测试的测试类型通常分为几个部分，以下列出常用的几个：①.DC测试：验证被测芯片的电压及电流参数是否符合规格要求；②.Functional测试：验证芯片内部一系列逻辑功能操作的正确性；③.AC测试：保证芯片能在特定的时间约束内完成逻辑操作。在半导体自动化测试中，测试项是基础，所有的测试内容都依赖于测试工程中的各个测试项内容。然而，目前创建新测试项代码文件的方式有两种，一种为提供一个固定内容的单一测试项模板，基于该模板生成测试项对应的代码文件。而本领域技术人员清楚，一个测试工程包含了大量的测试项，每个测试项包含了大量的测试内容点，用一个模板生成测试项的内容单一，且需要去重新实现每个测试项，花费大量的精力去编写大量的代码，代码编写工作量大，且所有的代码需要重新验证，测试内容多，后续还要重新验证这个测试项是否可。在半导体自动化测试中，还有一种创建新测试项生成代码文件的方式。该种方式了单一模板，根据测试类型的不同，可以选择不同的模板生成测试项，但是该种方式还是存在上述文中所提到的单一模板问题，即虽然模板扩展至几种，但模板提供的信息还是相对来说比较少，每个测试项还是需要编写大量代码。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种提高测试流效率的半导体自动测试设备及测试方法，其通过使用已存在的测试项，减少测试项代码编写量，降低代码编写难度，减少测试验证时间，解决半导体自动化测试中生成测试项的代码文件内容单一的问题。为实现上述目的，本专利技术的技术方案如下：一种提高测试流效率的半导体自动测试装置，其包括：设备端，包括多个分布式板卡；数据库，至少包括测试项数据表和测试类型数据表，所述测试项数据表为以测试项为维度的存储有每个测试项数据的表，所述测试类型数据表用于存储测试类型ID和测试类型名称Name的数据；其中，每个测试项数据包括测试项ID、测试项名称Name和测试类型的数据；测试流工具，分别与设备端和数据库相连，用于根据设备端所需测试的测试类型要求，管理存储于所述数据库中的测试项数据以完成发送给所述设备端的所述测试项的代码文件，其包括：常规功能模块，用于根据所述测试类型选择测试项模板，以新建所述测试类型数据表中的测试项数据；扩展功能模块，其包括提取单元，所述提取单元根据所述测试类型所对应的所述测试项数据表中的所述测试项ID或测试项名称Name，获取所需的测试项数据；生成模块，用于将所述测试项数据所对应指向一个信息及代码文件，发送给所述设备端。进一步地，所述扩展功能模块还包括更新单元，所述更新单元支持将已存在所述数据库中的所述测试项数据表中的所述测试项数据和/或所述测试类型数据表中的内容进行更新，然后再保存到数据库表中。进一步地，所述扩展功能模块还包括删除单元，所述删除单元支持将已存在所述数据库中的所述测试项数据表中的所述测试项数据进行删除。进一步地，所述测试类型包括AC测试类型、DC测试类型和Functional测试类型。为实现上述目的，本专利技术又一技术方案如下：一种采用上述提高测试流效率的半导体自动测试装置的测试方法，其包括建库步骤和测试步骤：所述建库步骤包括：步骤S11：在数据库中建立测试项数据表和测试类型数据表，所述测试项数据表为以测试项为维度的存储有每个测试项数据的表，所述测试类型数据表用于存储测试类型ID和测试类型名称Name的数据；其中，每个测试项数据包括测试项ID、测试项名称Name和测试类型的数据；步骤S12：根据所述测试类型选择测试项模板，以新建所述测试类型数据表中的测试项数据；所述测试步骤包括：步骤S21：接收从设备端所需测试的测试类型要求；步骤S22：根据所述测试类型所对应的所述测试项数据表中的所述测试项ID或测试项名称Name，获取所需的测试项数据；步骤S23：将所述测试项数据所对应指向一个信息及代码文件，发送给所述设备端。进一步地，所述建库步骤还包括步骤S13，将已存在所述数据库中的所述测试项数据表中的所述测试项数据和/或所述测试类型数据表中的内容进行更新，然后再保存到数据库表中。进一步地，所述建库步骤还包括步骤S14，将已存在所述数据库中的所述测试项数据表中的所述测试项数据进行删除。从上述技术方案可以看出，本专利技术的解决方案可以快速的完成测试项的代码实现，避免每次新建一个工程，需要重新编写所有测试项的代码，并且使用已测试过的测试项代码，可以提高测试效率，保证代码质量。附图说明图1所示为本专利技术实施例中一种改善测试数据流的半导体自动测试装置的示意图图2所示为本专利技术实施例中数据库的示意图图3所示为本专利技术实施例中一种改善测试数据流的半导体自动测试方法的流程示意图图4所示为本专利技术实施例中测试流工具与数据库交互的示意图具体实施方式下面结合附图1-4，对本专利技术的具体实施方式作进一步的详细说明。请参阅图1，图1所示为本专利技术实施例中一种改善测试数据流的半导体自动测试装置的示意图。如图1所示，该种改善测试数据流的半导体自动测试装置包括测试流工具和数据库，测试流工具模块分别与设备端和数据库模块相连，用于生成和管理测试项以完成测试项的代码实现。在本专利技术的实施例中，设备端包括多个分布式板卡；在设备端，分布式板卡可能是低压测试多通道类型的资源板卡，可能是高压测试的单通道类型的资源板卡，也可能是非测试通道类型的控制板卡，板卡的插槽中插有(例如，CPU、CPLD和FPGA等)多种固件。请参阅图2，图2所示为本专利技术实施例中数据库的示意图。该数据库可以至少包括测试项数据表和测试类型数据表，所述测试项数据表为以测试项为维度的存储有每个测试项数据的表，所述测试类型数据表用于存储测试类型ID和测试类型名称Name的数据；其中，每个测试项数据包括测试项ID、测试项名称Name和测试类型的数据。在本专利技术的实施例中，数据库中的测试项数据表(TestItemsTable)默认存有少量的测试项数据，这些测试项数据都是半导体测试所包含的基本的测试内容，每条数据都指向一个测试项包含的信息及文件，供最初使用，后续根据测试流工具添加测试项数据到数据库中丰富测试项的数据量。如图2所示，该数据库所包括的以测试项为维度的保存有每个测试项数据的表，表结构中包含序号ID、名称Name、测本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种提高测试流效率的半导体自动测试装置，其特征在于，包括：/n设备端，包括多个分布式板卡；/n数据库，至少包括测试项数据表和测试类型数据表，所述测试项数据表为以测试项为维度的存储有每个测试项数据的表，所述测试类型数据表用于存储测试类型ID和测试类型名称Name的数据；其中，每个测试项数据包括测试项ID、测试项名称Name和测试类型的数据；/n测试流工具，分别与设备端和数据库相连，用于根据设备端所需测试的测试类型要求，管理存储于所述数据库中的测试项数据以完成发送给所述设备端的所述测试项的代码文件，其包括：/n常规功能模块，用于根据所述测试类型选择测试项模板，以新建所述测试类型数据表中的测试项数据；/n扩展功能模块，其包括提取单元，所述提取单元根据所述测试类型所对应的所述测试项数据表中的所述测试项ID或测试项名称Name，获取所需的测试项数据；/n生成模块，用于将所述测试项数据所对应指向一个信息及代码文件，发送给所述设备端。/n

【技术特征摘要】
1.一种提高测试流效率的半导体自动测试装置，其特征在于，包括：
设备端，包括多个分布式板卡；
数据库，至少包括测试项数据表和测试类型数据表，所述测试项数据表为以测试项为维度的存储有每个测试项数据的表，所述测试类型数据表用于存储测试类型ID和测试类型名称Name的数据；其中，每个测试项数据包括测试项ID、测试项名称Name和测试类型的数据；
测试流工具，分别与设备端和数据库相连，用于根据设备端所需测试的测试类型要求，管理存储于所述数据库中的测试项数据以完成发送给所述设备端的所述测试项的代码文件，其包括：
常规功能模块，用于根据所述测试类型选择测试项模板，以新建所述测试类型数据表中的测试项数据；
扩展功能模块，其包括提取单元，所述提取单元根据所述测试类型所对应的所述测试项数据表中的所述测试项ID或测试项名称Name，获取所需的测试项数据；
生成模块，用于将所述测试项数据所对应指向一个信息及代码文件，发送给所述设备端。


2.根据权利要求1所述的提高测试流效率的半导体自动测试装置，其特征在于，所述扩展功能模块还包括更新单元，所述更新单元支持将已存在所述数据库中的所述测试项数据表中的所述测试项数据和/或所述测试类型数据表中的内容进行更新，然后再保存到数据库表中。


3.根据权利要求1所述的提高测试流效率的半导体自动测试装置，其特征在于，所述扩展功能模块还包括删除单元，所述删除单元支持将已存在所述数据库中的所述测试项数据表中的所述测试项数据进行删除。


4.根据权利要求1所述的提高测试流效率的半导体自动测试装置，...

【专利技术属性】
技术研发人员：曾海燕，
申请(专利权)人：上海御渡半导体科技有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31