一种用于玻封轴向二极管高温环境试验的装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术实施例提供了一种用于玻封轴向二极管高温环境试验的装置，其特征在于，由底至上依次包括底座、基座以及固定压条；其中，所述底座为所述装置提供支撑，上面固定安装有所述基座；所述基座用于摆放轴向二极管；所述固定压条用于固定所述轴向二极管，防止所述轴向二极管由所述基座上脱落。

A device for high temperature environment test of glass sealed axial diode

The embodiment of the utility model provides a device for high temperature environmental test of glass sealed axial diode, which is characterized in that the base includes a base, a base and a fixed pressure strip from bottom to top; the base provides support for the device, and the base is fixedly installed on the top; the base is used to place the axial diode; and the fixed pressure bar is used to fix the axial two An electrode tube prevents the axial diode from falling off from the base.

【技术实现步骤摘要】
一种用于玻封轴向二极管高温环境试验的装置
本专利技术属于元器件可靠性筛选、环境筛选试验
，涉及一种用于玻封轴向二极管高温环境试验的装置。
技术介绍
大部分电子元器件均要进行高温贮存环境试验，这是由于电子元器件的失效大多数是由体内和表面的各种物理、化学变化所引起，和温度有密切的关系。温度升高以后，化学反应速度大大加快，失效过程得到加速，使有缺陷的元器件能及时暴露，加以剥除。此试验的最大优点是可大批量进行，筛选效果明显，被普遍的采用。高温环境试验在半导体分立器件上被广泛使用，它能有效剔除表面沾污、建合不良，氧化层有缺陷等失效机理的器件，通常在最高结温下贮存24-96小时进行筛选。对于半导体分立器件的筛选，温度越高（在极限贮存温度范围内），效果越好。故玻封轴向二极管均需要进行高温环境试验。玻封轴向二极管在某型号任务上，需要在175℃环境下进行高温贮存试验，且每个二极管上都需要进行编号，通过一一对应的编号，可以计算出玻封轴向二极管在环境温度试验前后的参数变化，由于通常为二极管编号所使用的编号带均为纸质材料，在进行175℃高温贮存试验后，纸质编号脆化严重，容易脱落，导致无法正常计算试验前后的参数变化，所以此任务型号任务上的器件均需外协处理。如果器件数量少的情况下，试验室对二极管进行逐一粘贴到金属盒中，并做好相应编号，进行高温贮存试验，此过程费时费力，工作效率极其低下，所以需要通过设计一种用于玻封轴向二极管环境试验的装置，来解决玻封轴向二极管高温环境试验的困境。其次，大批量的二极管在进行高温贮存试验时，器件均是堆叠放入高温贮存盒中，温度流通较差，时间短时，影响试验效果。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种用于玻封轴向二极管高温环境试验的装置，其特征在于，由底至上依次包括底座、基座以及固定压条；其中，所述底座为所述装置提供支撑，上面固定安装有所述基座；所述基座用于摆放轴向二极管；所述固定压条用于固定所述轴向二极管，防止所述轴向二极管由所述基座上脱落。优选地，还包括限位条，所述限位条用于进一步防止述轴向二极管由所述基座上脱落。优选地，所述限位条通过连接件安装于所述底座的相对两侧边。优选地，所述限位条开设有螺纹孔，所述底座的相对位置也开设有螺纹孔，所述连接件为螺钉，连接所述限位条与所述底座。优选地，所述底座为镂空型，用于提升温度的整体流动性，并且减轻所述装置的总体重量。优选地，所述固定压条采用镂空设计，用于增加大气对流。优选地，所述固定压条、所述基座、所述底座通过螺纹连接，固定为一体。优选地，还包括把手，所述把手通过连接件安装于所述底座上，便于所述装置的拿取。优选地，所述把手开设有螺纹孔，所述底座的相对位置也开设有螺纹孔，所述连接件为螺钉，连接所述把手与所述底座。优选地，所述把手和/或限位条进行“Z”字型开槽，有利于上下两块装置的叠放。通过重新设计玻封轴向二极管高温环境试验的装置，用于解决玻封轴向二极管高温环境试验，使二极管在进行试验前即可解决编号一一对应的关系，有利于器件的温度流通性，同时，该装置需经受200℃高温而不变形，且可快速、便捷的摆放轴向二极管，有效减少人员的操作时间，以及减少外协委托情况的发生。附图说明图1为本专利技术实施例的玻封轴向二极管图；图2为本专利技术实施例的用于玻封轴向二极管高温环境试验的装置的结构图；图3为本专利技术实施例的用于玻封轴向二极管高温环境试验的装置的顶视图；图4为本专利技术实施例的用于玻封轴向二极管高温环境试验的装置的侧视图；图5为本专利技术实施例的用于玻封轴向二极管高温环境试验的装置的爆炸图；图6为本专利技术实施例的“Z”字型开槽。具体实施方式为使本专利技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图1至图6和具体实施方式对本专利技术作进一步详细的说明。本专利技术提供一种用于玻封轴向二极管高温环境试验的装置，其特征在于，由底至上依次包括底座1、基座2以及固定压条3；其中，所述底座为所述装置提供支撑，上面固定安装有所述基座。根据本专利技术的一个实施例，所述底座为镂空型，如图5所示的镂空处13，用于提升温度的整体流动性，并且减轻所述装置的总体重量，有利于多块装置同时进行试验，而不超出设备的最大承重要求。所述基座用于摆放轴向二极管。由于轴向二极管的管脚直径不同，直接在金属基座上开槽，不利于器件的固定，同时，器件管脚与金属基座之间容易产生划痕，容易导致器件的外观损伤，所以在底座上重新安装基座，该基座采用聚四氟乙烯材质，该材质耐高温，有一定的延展性，不容易损伤器件管脚。在基座上每隔一段距离后开一凹槽，用于摆放器件管脚，并在基座两端各开一个螺纹孔，用于与底座之间的固定。所述固定压条用于固定所述轴向二极管，防止所述轴向二极管由所述基座上脱落。根据本专利技术的一个实施例，所述固定压条采用镂空设计，用于增加大气对流。根据本专利技术的一个实施例，装置还包括限位条4，所述限位条用于进一步防止述轴向二极管由所述基座上脱落。其中，所述限位条通过连接件安装于所述底座的相对两侧边。在本专利技术的实施例中，所述限位条开设有螺纹孔41，所述底座的相对位置也开设有螺纹孔11，所述连接件为螺钉，连接所述限位条与所述底座。根据本专利技术的一个实施例，所述固定压条、所述基座、所述底座通过螺纹连接，固定为一体，可在固定压条、所述基座、所述底座的适当位置开设有螺纹孔，如图5中，固定压条的螺纹孔31、基座的螺纹孔21以及底座的螺纹孔14配合固定。根据本专利技术的一个实施例，装置还包括把手5，所述把手通过连接件安装于所述底座上，便于所述装置的拿取。其中，所述把手开设有螺纹孔51，所述底座的相对位置也开设有螺纹孔12，所述连接件为螺钉，连接所述把手与所述底座。在本专利技术的实施例中，装置的四边分别交替设计有把手和限位条，并且手条和限位条都需进行“Z”字型开槽，有利于上下两块装置的叠放，如图6所示。通过重新设计玻封轴向二极管高温环境试验的装置，用于解决玻封轴向二极管高温环境试验，使二极管在进行试验前即可解决编号一一对应的关系，有利于器件的温度流通性，同时，该装置需经受200℃高温而不变形，且可快速、便捷的摆放轴向二极管，有效减少人员的操作时间，以及减少外协委托情况的发生。显然，本领域的技术人员可以对专利技术进行各种改动和变型而不脱离本专利技术的精神和范围。这样，倘若本专利技术的这些修改和变型属于本专利技术权利要求及其等同技术的范围之内，则本专利技术也意图包括这些改动和变型在内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于玻封轴向二极管高温环境试验的装置，其特征在于，由底至上依次包括底座、基座以及固定压条；其中，/n所述底座为所述装置提供支撑，上面固定安装有所述基座；/n所述基座用于摆放轴向二极管；/n所述固定压条用于固定所述轴向二极管，防止所述轴向二极管由所述基座上脱落。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于玻封轴向二极管高温环境试验的装置，其特征在于，由底至上依次包括底座、基座以及固定压条；其中，
所述底座为所述装置提供支撑，上面固定安装有所述基座；
所述基座用于摆放轴向二极管；
所述固定压条用于固定所述轴向二极管，防止所述轴向二极管由所述基座上脱落。


2.如权利要求1所述的用于玻封轴向二极管高温环境试验的装置，其特征在于，还包括限位条，所述限位条用于进一步防止述轴向二极管由所述基座上脱落。


3.如权利要求2所述的用于玻封轴向二极管高温环境试验的装置，其特征在于，所述限位条通过连接件安装于所述底座的相对两侧边。


4.如权利要求3所述的用于玻封轴向二极管高温环境试验的装置，其特征在于，所述限位条开设有螺纹孔，所述底座的相对位置也开设有螺纹孔，所述连接件为螺钉，连接所述限位条与所述底座。


5.如权利要求1所述的用于玻封轴向二极管高温环境试验的装置，其特征在于，所述底座...

【专利技术属性】
技术研发人员：邵麟，许瓅，顾琪乐，程强，马超，
申请(专利权)人：上海精密计量测试研究所，
类型：新型
国别省市：上海;31