【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于集成电路(ic)自动测试机(automatic test equipment，简称ate)，涉及一种低成本内建自测(built-in self test，简称bist)测试装置及方法。
技术介绍
1、随着ate测试技术的发展，大规模的bist测试系统中，需要大量电子管脚(pinelectronic，简称pe)和可编程器件电源dps。特别是为了提高测试效率，多待测设备(device under test，简称dut)同时测试，需要更多的电子管脚和数字电源资源，就意味着机台需要更高的成本，难以实现芯片测试降低成本(cost down)。
2、请参阅图1，图1所示为采用现有技术的bist测试机示意图。如图1所示，可编程器件电源dps模块给待测设备dut提供电源供应，pe驱动模块给待测设备dut提供输入输出io管脚驱动，做功能测试。
3、请参阅图2，2所示为现有技术中bist测试装置中io管脚驱动模块原理框图。如图2所示，如果一个待测设备dut具有n+1个输入输出io管脚，io管脚驱动模块需包括n+1个pe芯片，用于在处理计算模块的控制下驱动相对应的输入输出io管脚。
4、请参阅图3，图3所示为现有技术中bist测试装置中电源dps模块原理示意图。如图3所示，如果一个待测设备dut具有n+1个vout输入电源，电源dps模块需包括n+1个dps芯片，用于在处理计算模块的控制下输出相对应的电源电压。
5、例如，对于测试1024个待测设备dut的bist简易测试机，通常每个待测设
技术实现思路
1、为解决的上述技术问题，本专利技术提出一种低成本的bist测试装置，用于检测n个待测dut模块，所述待测dut模块包括n个待测dut单元，所述待测dut模块包括n个电源输入接口(电源输入0,电源输入1,…电源输入n)和n个io输入接口(io输入0,io输入1,…io输入n)，每个所述待测dut单元包括一个电源输入接口和一个io输入接口；其包括处理计算模块cvp、da模块、驱动模块和电源模块；所述处理计算模块cvp包括一个通讯接口和一个控制io接口；所述da模块包括n个ad单元(ad_0,ad_1,…ad_n)和一个通讯接口，每一个ad单元包括一个输出接口vout；所述电源模块包括n个track输入接口(track输入0,track输入1…track输入n)和n个电源输出接口(电源输入0,电源输入1,…电源输入n)；所述驱动模块包括n个io输出接口(驱动io输出0,驱动io输出1,…驱动io输出n)、bank调压接口和通讯接口；所述n个ad单元(ad_0,ad_1,…ad_n)的输出vout分别连接所述电源模块的n个track输入接口(track输入0,track输入1…track输入n)，以及所述驱动模块的bank调压接口；
2、所述待测dut模块的n个电源输入接口(电源输入0,电源输入1,…电源输入n)分别和所述电源模块的n个输出接口(输出0,输出1,…输出n)相连，所述待测dut模块的n个io输入接口(io输入0,io输入1,…io输入n)分别连接所述驱动模块的n个io输出接口(驱动io输出0,驱动io输出1,…驱动io输出n)；其中，所述驱动模块给待测dut模块提供驱动信号，所述电源模块给待测dut模块提供供电电源；所述da模块的控制io接口与处理计算模块cvp的控制io接口相连，用于通过所述ad单元传递pattern信号给驱动模块和电源模块，控制所述驱动模块发出驱动信号给待测dut和控制电源模块给待测dut供电；所述驱动模块的通讯接口与处理计算模块cvp的通讯接口相连，所述处理计算模块cvp根据测试结果对比判断所述待测dut模块中的n个待测dut是否通过测试。
3、进一步地，所述的bist测试装置，其还包括电源电压保护模块，所述电源电压保护模块包括n个比较器(comp_0,comp_1,…comp_n)，所述比较器(comp_0,comp_1,…comp_n)的一端分别接电压上下阈值电压(low_limit/hi_limit)，另一端接所述电源模块的n个输出接口(输出0,输出1,…输出n)；所述比较器(comp_0,comp_1,…comp_n)的输出端接所述处理计算模块cvp。
4、进一步地，所述的bist测试装置；其还包括驱动电压保护模块，所述驱动电压保护模块包括1个比较器，所述比较器的一端分别接电压上下阈值电压(low_limit/hi_limit)，另一端接所述驱动模块的bank调压的电压输入端；所述比较器的输出端接所述处理计算模块cvp。
5、为实现上述目的，本专利技术的另一种技术方案如下：
6、所述的bist测试装置的检测方法，其包括如下步骤：
7、步骤s1：分别设定所述n个待测dut模块包括n个电源输入接口(电源输入0,电源输入1,…电源输入n)所需接入的电源电压值，设定所述电源模块的n个电源输出接口(电源输入0,电源输入1,…电源输入n)的电压上下阈值电压(low_limit/hi_limit)和所述驱动模块的电压上下阈值电压(low_limit/hi_limit)；
8、步骤s2：将所述bist测试装置接上电源，所述处理计算模块cvp上电初始化；
9、步骤s3：打开自检程序，确认所述驱动模块和电源模块无异常后，检测所述电源模块的n个电源输出接口(电源输入0,电源输入1,…电源输入n)电压是否超过电压上下阈值电压(low_limit/hi_limit)和所述驱动模块的bank调压电压是否超过电压上下阈值电压；如果自检正常，所述n个ad单元(ad_0,ad_1,…ad_n)的输出vout分别控制所述电源模块的n个track输入接口(track输入0,track输入1…track输入n)和所述驱动模块的bank调压接口上电；
10、步骤s4：所述处理计算模块通过所述控制io接口下发pattern信号给所述da模块的通讯接口，对所述待测dut模块进行测试，测试完成后返回测试结果给上位机。
11、从上述技术方案可以看出，本专利技术中的bist测试装置及其测试方法具有如下有益效果：
12、(1)对1024个dut的bist简易测试机，如果采用本专利技术的低成本方案，只需要16个低成本驱动单元，大大降低了系统成本；
13、(2)本专利技术通过需要更少的低成本驱动单元，降低了系统复杂度，减少了研发、生产、测试以及后期维护等环节中的时间。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种BIST测试装置，用于检测N个待测DUT模块，所述待测DUT模块包括N个待测DUT单元，所述待测DUT模块包括N个电源输入接口(电源输入0,电源输入1,…电源输入N)和N个IO输入接口(IO输入0,IO输入1,…IO输入N)，每个所述待测DUT单元包括一个电源输入接口和一个IO输入接口；其特征在于，包括处理计算模块CVP、DA模块、驱动模块和电源模块；
2.根据权利要求1所述的BIST测试装置，其特征在于，还包括电源电压保护模块，所述电源电压保护模块包括N个比较器
3.根据权利要求1所述的BIST测试装置；其特征在于，还包括驱动电压保护模块，所述驱动电压保护模块包括1个比较器，所述比较器的一端分别接电压上下阈值电压(LOW_LIMIT/HI_LIMIT)，另一端接所述驱动模块的BANK调压的电压输入端；所述比较器的输出端接所述处理计算模块CVP。
4.一种采用权利要求1-3任意一个所述的BIST测试装置的检测方法，其特征在于，包括如下步骤：
【技术特征摘要】
1.一种bist测试装置，用于检测n个待测dut模块，所述待测dut模块包括n个待测dut单元，所述待测dut模块包括n个电源输入接口(电源输入0,电源输入1,…电源输入n)和n个io输入接口(io输入0,io输入1,…io输入n)，每个所述待测dut单元包括一个电源输入接口和一个io输入接口；其特征在于，包括处理计算模块cvp、da模块、驱动模块和电源模块；
2.根据权利要求1所述的bist测试装置，其特征在于，还包括电源电压保护...
【专利技术属性】
技术研发人员：王魁，
申请(专利权)人：上海御渡半导体科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。