托盘及包含其的芯片测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种托盘及包含其的芯片测试装置。所述托盘用于放置芯片，所述托盘的表面设置一凹槽，所述凹槽的侧面设有多个台阶部，多个所述台阶部位于同一平面上。该芯片测试装置包括：测试箱，所述测试箱用于测试芯片；如上所述的托盘；传送机构，所述传送机构用于将所述托盘传送到所述测试箱中；以及扫码器，所述扫码器设于所述测试箱中；其中，所述芯片上设有条形码或二维码，所述扫码器能够扫描所述条形码或二维码。托盘中的多个台阶部能够较好地托住芯片，从而使得芯片在测试过程中稳定放置。芯片测试装置可以稳定地传送芯片并且测试芯片。

【技术实现步骤摘要】
托盘及包含其的芯片测试装置
本专利技术涉及一种托盘及包含其的芯片测试装置。
技术介绍
芯片属于非常精密的构件，在对其进行检测时，反复地拿取芯片可能会对芯片造成损害，因此，自动化的芯片检测流程是优选的。但是芯片的稳定放置仍然是一个问题。而且，如何将所检测的芯片与检测结构相对应也是一个问题。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是为了克服现有技术不能稳定放置芯片的缺陷，提供一种可稳定放置芯片的托盘及包含其的芯片测试装置。本专利技术是通过下述技术方案来解决上述技术问题：一种托盘，所述托盘用于放置芯片，所述托盘的表面设置一凹槽，所述凹槽的侧面设有多个台阶部，多个所述台阶部位于同一平面上。优选地，所述凹槽的底面设有通孔。这样芯片放置时不会有空气阻力。优选地，所述凹槽为四边形结构，所述台阶部设于所述凹槽的四个角上。四边形结构适配芯片的形状，而台阶部设于四个角上，芯片放置时更稳定。优选地，所述凹槽的底面设有八边形的通孔，所述凹槽为四边形结构，所述台阶部设于所述凹槽的四个角上并形成所述通孔的四条边本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种托盘，其特征在于，所述托盘用于放置芯片，所述托盘的表面设置一凹槽，所述凹槽的侧面设有多个台阶部，多个所述台阶部位于同一平面上。/n

【技术特征摘要】
1.一种托盘，其特征在于，所述托盘用于放置芯片，所述托盘的表面设置一凹槽，所述凹槽的侧面设有多个台阶部，多个所述台阶部位于同一平面上。


2.如权利要求1所述的托盘，其特征在于，所述凹槽的底面设有通孔。


3.如权利要求1所述的托盘，其特征在于，所述凹槽为四边形结构，所述台阶部设于所述凹槽的四个角上。


4.如权利要求1所述的托盘，其特征在于，所述凹槽的底面设有八边形的通孔，所述凹槽为四边形结构，所述台阶部设于所述凹槽的四个角上并形成所述通孔的四条边。


5.如权利要求1所述的托盘，其特征在于，所述凹槽为四边形结构，所述凹槽的侧面设有向内凹进的第一凹陷...

【专利技术属性】
技术研发人员：王建祥，欧阳志武，
申请(专利权)人：希姆通信息技术上海有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31