一种众核芯片的测试方法、装置及测试设备制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种众核芯片的测试方法、装置及测试设备。其中，该方法包括：向待测试的众核芯片的各个内核输入相同的测试向量，其中，众核芯片的内核包括m个内核组，m个内核组中的每个内核组包含n个内核，m个内核组中物理实现相同的内核具有相同的组内标识，且同一内核组中的n个内核的组内标识互不相同，其中，m为大于2的整数，n为大于1的整数；判断m个内核组中具有相同组内标识的内核的输出的测试结果向量是否完全相同；如果m个内核组中所有具有相同组内标识的内核输出的测试结果向量都相同，则确定待测试的众核芯片无故障。通过本发明专利技术，可以节省测试时间。

【技术实现步骤摘要】
一种众核芯片的测试方法、装置及测试设备
本专利技术涉及芯片测试领域，尤其是涉及一种众核芯片的测试方法、装置及测试设备。
技术介绍
芯片制造出来后，需要测试是否在制造过程中存在缺陷故障(Manufacturingdefect)。为了进行这种测试，在芯片设计的时候，设置专门的测试电路(StructuredDesignforTestability(可测试性设备，DFT))，并通过专门的测试电子设计自动化(ElectronicsDesignAutomation，EDA)软件产生测试向量(Testpattern)以及期待值。在实际测试时，将测试向量作为芯片的输入激励，同时比较芯片的输出结果与期待值是否相符。如图1所示，相关技术中芯片的每一个内核都要依次进行故障排查，每个芯片也都需要进行测试，这样就需要占用比较多的芯片管脚用于加载测试向量以及比较输出结果。在芯片管脚总数受限的情况下，只能将芯片划分为多个子模块，不同子模块之间复用芯片管脚，但是需要依次串行地进行测试，这样就增加了测试时间，从而增加了芯片成本。
技术实现思路
本专利技术实施方式的目的在于提供一种众核芯片的测试方法、装置及测试设备。为了解决上述技术问题，本专利技术示例一方面提供一种众核芯片的测试方法，包括：向待测试的众核芯片的各个内核输入相同的测试向量，其中，所述众核芯片的内核包括m个内核组，所述m个内核组中的每个内核组包含n个内核，所述m个内核组中物理实现相同的内核具有相同的组内标识，且同一内核组中的所述n个内核的组内标识互不相同，其中，m为大于2的整数，n为大于1的整数；判断所述m个内核组中具有相同组内标识的内核的输出的测试结果向量是否完全相同；如果所述m个内核组中所有所述具有相同组内标识的内核输出的测试结果向量都相同，则确定所述待测试的所述众核芯片无故障。可选地，判断所述m个内核组中所述具有相同组内标识的内核的输出的测试结果向量是否完全相同，包括：比较所述m个内核组中的每两个内核组中具有相同组内标识的内核的输出的测试结果向量是否相同。可选地，在所述m个内核组中的每两个内核组中的组内标识相同的内核输出的测试结果向量不完全相同的情况下，所述方法还包括：步骤1，比较所述m个内核组中的m-1个内核组中所有组内标识相同的内核的输出的测试结果向量是否相同，如果完全相同，则确定所述m-1个内核组中的各个内核无故障，且所述m个内核组中除所述m-1个内核组之外的另一个内核组为故障组；如果不完全相同，执行步骤2；步骤2，判断m-1是否等于2，如果是，则确定所述m-1个内核组为故障组，否则，继续比较所述m-1个内核组的m-2个内核组中所有组内标识相同的内核的输出的测试结果向量是否相同，直到确定出故障组。可选地，在确定出故障组之后，所述方法还包括：将所述故障组中每个内核的测试结果向量分别输出到芯片管脚，与所述测试向量的期待值进行比较，根据比较结果判断所述故障组中的所述每个内核是否出现故障。可选地，判断所述m个内核组中所述具有相同组内标识的内核的输出的测试结果向量是否完全相同，包括：从所述m个内核组中选取第一内核组，比较所述第一内核组与其余m-1个内核组的各个内核组中具有相同组内标识的两个内核的输出的测试结果向量是否都相同。可选地，如果所述第一内核组与所述其余m-1个内核组中的各个内核组中组内标识相同的两个内核输出的所述测试结果向量不完全相同，所述方法还包括：将所述第一内核组中的每个内核输出的测试结果向量与所述测试向量的期待值进行比较，如果所述第一内核组中每个内核输出的测试结果向量与所述测试向量的期待值不一致，则确定所述第一内核组为故障组。可选地，如果所述第一内核组中的所述每个内核输出的测试结果向量与所述测试向量的期待值一致，所述方法还包括：确定所述第一内核组中的各个内核无故障；将所述其余m-1个内核组作为待判定内核组；如果待判定内核组中只有一个内核组，则确定所述待判定内核组为故障组；否则，从所述待判定内核组中选取的第二内核组，将所述第二内核组分别与所述m-1个内核组中除所述第二内核组之外m-2个内核组进行比较；如果所述第二内核组与所述m-2个内核组的组内标识相同的内核进行两两相比的结果不完全相同，则将所述第二内核组中的每个内核输出的测试结果向量与所述测试向量的期待值比较，如果比较结果不一致，则确定所述第二内核组为故障组，如果比较结果一致，则确定所述第二内核组为非故障组，将所述待判定内核组中的除所述第二内核组之外的其余m-2个内核组作为新的待判定内核组，继续进行判断，直到所述m个内核组全部判断完毕。可选地，在确定出故障组之后，所述方法还包括：将所述故障组中每个内核的测试结果向量分别输出到所述芯片管脚，与所述测试向量的期待值进行比较，根据所述比较的结果判断所述故障组中的每个内核是否出现故障。可选地，所述判断所述m个内核组中所述具有相同组内标识的内核的输出的测试结果向量是否完全相同包括：将具有相同组内标识的两个内核的输出的测试结果向量进行逻辑异或运算，如果所述运算的结果为0，则所述两个内核的输出的测试结果向量相同。本专利技术示例另一方面提供一种众核芯片的测试装置，包括：输入模块，用于向待测试的众核芯片的各个内核输入相同的测试向量，其中，所述众核芯片的内核包括m个内核组，所述m个内核组中的每个内核组中包含n个内核，所述m个内核组中物理实现相同的内核具有相同的组内标识，且同一内核组中的各个内核的组内标识不相同，其中，m为大于2的整数，n为大于1的整数；判断模块，判断所述m个内核组中所述具有相同组内标识的内核的输出的测试结果向量是否完全相同；确定模块，用于在m个内核组中所有所述具有相同组内标识的内核的输出的测试结果向量都相同的情况下，确定所述待测试的众核芯片无故障。本专利技术示例又一方面提供一种一种测试设备，包括处理器和存储器，其中，所述存储器用于存储支持信息处理装置执行上述的测试方法的程序；所述处理器被配置为用于执行所述存储器中存储的程序。根据本专利技术实施提供的技术方案，通过对众核芯片进行分为多个内核组，每个内核组包括多个内核，各个内核组中物理实现相同的内核具有相同的组内标识，且同一内核组中的各个内核的组内标识不相同，通过判断各个内核组中具有相同组内标识的内核的输出的测试结果向量是否完全相同来判断是否有内核出现故障，而无需将所有内核的测试结果向量都输出到芯片管脚上，与外部测试向量期待值进行比较，减少了测试占用的管脚数，从而节省了测试时间，降低芯片测试成本。附图说明图1为现有技术中的测试系统示意图；图2为本专利技术实施例1提供的一种众核芯片的测试流程图图3为本专利技术实施例2涉及的测试系统示意图；图4为本专利技术实施例4提供的一种众核芯片的测试装置的结构示意图；图5为本专利技术实施例5提供的一种测试设备的结构示意图。具体实施方式以下结合附图对本专利技术的实施例进行详细说明，但是本专利技术可以由权利要求限定和覆盖的多种不同方式实施。实施例1：以下借助图2对本发本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种众核芯片的测试方法，其特征在于，包括：/n向待测试的众核芯片的各个内核输入相同的测试向量，其中，所述众核芯片的内核包括m个内核组，所述m个内核组中的每个内核组包含n个内核，所述m个内核组中物理实现相同的内核具有相同的组内标识，且同一内核组中的所述n个内核的组内标识互不相同，其中，m为大于2的整数，n为大于1的整数；/n判断所述m个内核组中具有相同组内标识的内核的输出的测试结果向量是否完全相同；/n如果所述m个内核组中所有所述具有相同组内标识的内核输出的测试结果向量都相同，则确定所述待测试的所述众核芯片无故障。/n

【技术特征摘要】
1.一种众核芯片的测试方法，其特征在于，包括：
向待测试的众核芯片的各个内核输入相同的测试向量，其中，所述众核芯片的内核包括m个内核组，所述m个内核组中的每个内核组包含n个内核，所述m个内核组中物理实现相同的内核具有相同的组内标识，且同一内核组中的所述n个内核的组内标识互不相同，其中，m为大于2的整数，n为大于1的整数；
判断所述m个内核组中具有相同组内标识的内核的输出的测试结果向量是否完全相同；
如果所述m个内核组中所有所述具有相同组内标识的内核输出的测试结果向量都相同，则确定所述待测试的所述众核芯片无故障。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，判断所述m个内核组中所述具有相同组内标识的内核的输出的测试结果向量是否完全相同，包括：
比较所述m个内核组中的每两个内核组中具有相同组内标识的内核的输出的测试结果向量是否相同。


3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在所述m个内核组中的每两个内核组中的组内标识相同的内核输出的测试结果向量不完全相同的情况下，所述方法还包括：
步骤1，比较所述m个内核组中的m-1个内核组中所有组内标识相同的内核的输出的测试结果向量是否相同，如果完全相同，则确定所述m-1个内核组中的各个内核无故障，且所述m个内核组中除所述m-1个内核组之外的另一个内核组为故障组；如果不完全相同，执行步骤2；
步骤2，判断m-1是否等于2，如果是，则确定所述m-1个内核组为故障组，否则，继续比较所述m-1个内核组的m-2个内核组中所有组内标识相同的内核的输出的测试结果向量是否相同，直到确定出故障组。


4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在确定出故障组之后，所述方法还包括：
将所述故障组中每个内核的测试结果向量分别输出到芯片管脚，与所述测试向量的期待值进行比较，根据比较结果判断所述故障组中的所述每个内核是否出现故障。


5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，判断所述m个内核组中所述具有相同组内标识的内核的输出的测试结果向量是否完全相同，包括：
从所述m个内核组中选取第一内核组，比较所述第一内核组与其余m-1个内核组的各个内核组中具有相同组内标识的两个内核的输出的测试结果向量是否都相同。


6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，如果所述第一内核组与所述其余m-1个内核组中的各个内核组中组内标识相同的两个内核输出的所述测试结果向量不完全相同，所述方法还包括：
将所述第一内核组中的每个内核输出的测试结果向量与所述测试向量的期待值进行比较，如果所述第一内核组中每个内核输出的测试结果向量与所...

【专利技术属性】
技术研发人员：孟樑，阎亚茹，
申请(专利权)人：北京灵汐科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11