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本发明公开一种众核芯片的测试方法、装置及测试设备。其中，该方法包括：向待测试的众核芯片的各个内核输入相同的测试向量，其中，众核芯片的内核包括m个内核组，m个内核组中的每个内核组包含n个内核，m个内核组中物理实现相同的内核具有相同的组内标识，...
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