漏磁检测缺陷边沿识别的方法技术

本发明专利技术公开了一种漏磁检测缺陷边沿识别的方法，包括：获取不同提离值下的缺陷漏磁场切向分量；获取各组缺陷漏磁场信号的极大值以及对应的切向位置和提离值；对缺陷漏磁场信号的极大值及对应的提离值进行非线性拟合，获得缺陷漏磁场信号极大值与对应的提离值之间的关系，根据该关系推算出提离值为0时，试样表面处的漏磁场信号的极大值；对缺陷漏磁场信号的极大值及对应的切向位置进行非线性拟合，获得缺陷漏磁场信号极大值与对应的切向位置之间的关系，根据该关系以及试样表面处的漏磁场信号的极大值，得到试样表面处的漏磁场信号极大值所对应的切向位置，该位置为缺陷边沿所在位置。该方法可对每一个缺陷执行一次解算，解算出该缺陷的边沿位置。

A method of edge recognition in MFL testing

【技术实现步骤摘要】
漏磁检测缺陷边沿识别的方法
本专利技术涉及无损检测
，特别涉及一种漏磁检测缺陷边沿识别的方法。
技术介绍
就由铁磁材料建成的油气储运设施的无损检测而言，漏磁检测是最常用的在线检测技术之一。漏磁检测首先将被测试件饱和磁化，然后通过检测缺陷处的泄漏磁场的分布和大小，实现求解缺陷的尺寸信息的目的。缺陷轮廓识别和缺陷深度量化是缺陷量化的重要组成部分。因此，准确识别缺陷边沿一直是进行铁磁材料缺陷检测与评估的重点与难点。相关技术中，缺陷边沿识别的主要方法：有通过漏磁信号的峰谷值的位置来识别缺陷边沿，有通过在缺陷漏磁场信号的峰谷值之间增加阈值来识别缺陷边沿，也有借助计算机图像识别算法中的Canny算法，通过算法识别出缺陷漏磁场信号的“边沿”，并认为此为缺陷的边沿。但是，根据电磁场的基本理论以及磁偶极子模型，当提离值不为0时，缺陷漏磁场信号的峰谷值及其边沿并不一定与缺陷边沿的位置重合，所以上述直接使用漏磁场信号的峰谷值以及边沿的方法均存在理论上的误差，不能实现缺陷边沿的精确地识别。
技术实现思路
本专利技术旨在至少在一本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种漏磁检测缺陷边沿识别的方法，其特征在于，包括以下步骤：/nS1，获取不同提离值下缺陷漏磁场切向分量，其中，一个提离值的缺陷漏磁场切向分量对应为一组缺陷漏磁场信号；/nS2，获取各组缺陷漏磁场信号的极大值以及对应的切向位置和提离值；/nS3，对所述缺陷漏磁场信号的极大值以及对应的提离值进行非线性拟合，获得所述缺陷漏磁场信号的极大值与对应的提离值之间的关系；/nS4，根据所述缺陷漏磁场信号的极大值与对应的提离值之间的关系，推算出提离值为0时含缺陷的试样表面处的漏磁场信号的极大值；/nS5，对所述缺陷漏磁场信号的极大值以及对应的切向位置进行非线性拟合，获得所述缺陷漏磁场信号的极大值与对应的切...

【技术特征摘要】
1.一种漏磁检测缺陷边沿识别的方法，其特征在于，包括以下步骤：
S1，获取不同提离值下缺陷漏磁场切向分量，其中，一个提离值的缺陷漏磁场切向分量对应为一组缺陷漏磁场信号；
S2，获取各组缺陷漏磁场信号的极大值以及对应的切向位置和提离值；
S3，对所述缺陷漏磁场信号的极大值以及对应的提离值进行非线性拟合，获得所述缺陷漏磁场信号的极大值与对应的提离值之间的关系；
S4，根据所述缺陷漏磁场信号的极大值与对应的提离值之间的关系，推算出提离值为0时含缺陷的试样表面处的漏磁场信号的极大值；
S5，对所述缺陷漏磁场信号的极大值以及对应的切向位置进行非线性拟合，获得所述缺陷漏磁场信号的极大值与对应的切向位置之间的关系；
S6，根据所述缺陷漏磁场信号的极大值与对应的切向位置之间的关系以及含缺陷的试样表面处的漏磁场信号的极大值，得到含缺陷的试样表面处的漏磁场信号极大值所对应的切向位置，进而得到缺陷边沿所在的位置。


2.根据权利要求1所述的漏磁检测缺陷边沿识别的方法，其特征在于，在S1中，所述不同提离值下缺陷漏磁场切向分量包括两个极大值，三个极小值，提离值的范围为大于0mm，且小于等于4mm。


3.根据权利要求2所述的漏磁检测缺陷边沿识别的方法，其特征在于，所述缺陷漏磁场切向分量的两个极大值通过计算分别对应试样表面处的缺陷在切向方向上的两个边沿。


4.根据权利要求1所述的漏磁检测缺陷边沿识别的方法，其特征在于，所述S3进一步包括：
采用指数模型进行非线性拟合，得到的所述缺陷漏磁场信号的极大值Bxmax(d)...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄松岭，龙跃，赵伟，王珅，彭丽莎，宋小春，
申请(专利权)人：清华大学，
类型：发明
国别省市：北京;11