测试装置制造方法及图纸

本申请公开了一种测试装置，包括活动板、底座、控制杆、承载座。底座包括嵌合座设置于对称的两组容置槽之间，每一个容置槽设置有穿孔，两组容置槽中的穿孔的位置对应两个凹槽，每一容置槽分别装设有承载组件，承载组件穿过穿孔抵触至活动板的对称的两个凹槽中，且承载组件上设置有导电组件。底座安装于所述活动板上。承载座安装于底座，承载座包括至少一个开口。控制杆连接活动板，用以控制活动板移动以连动容置于两组对称两个容置槽中的承载组件进行分离或闭合。

testing device

【技术实现步骤摘要】
测试装置
本申请涉及测试被动组件的电性能参数值的
，尤其涉及一种测试装置。
技术介绍
随着无线充电电子产品的迅速发展，无线充电线圈的应用越来越广泛，对于精确测试无线充电线圈的电性能参数要求也越来越高，测试方法就变得尤为重要，普通的二线法测试会因测试线本身电阻的影响，导致测试精度偏低。故采用四线法(也叫开尔文法)测量因应而生，四线法测量电阻能够避免接触电阻和导线电阻的影响，所以灵敏度高，测量准确，使用方便且对电源稳定性要求不高，目前已广泛应用于线圈(Coil)的电性能测试中。以现有的四线测试法在线圈性能的测试应用中会用探针探到线圈的引线沾锡导体部分，来测试线圈的交流/直流电阻、电感和品质因数。现有的四线测试法来测试线圈电性能参数方式一般有两种，第一种方法是，四个探针都探到线圈沾锡导体的一个面，第二种方法是，两根探针探到沾锡导体的一个面，两根探到沾锡导体的另一面。线圈的两个导体上各扎两个探针，通过四线测试法测试被测线圈的电性能参数，对于测试所用探针线径(OD)大于被测线圈的导体长度时，第一种方法将不再实用，第二种方法可测试，但是上下探本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试装置，其特征在于，包括：/n活动板，包括对称的两个凹槽；/n底座，安装于所述活动板上，所述底座包括两组对称的两个容置槽及嵌合座，所述嵌合座设置于两组所述容置槽之间，每一个所述容置槽设置有穿孔，每一个所述容置槽分别装设有承载组件，每一个所述承载组件的底部穿过所述穿孔抵触至所述凹槽中，且每一个所述承载组件上分别设置有导电组件；/n承载座，安装于所述底座，所述承载座包括至少一个开孔；/n控制杆，连接所述活动板，所述控制杆用以控制所述活动板移动以连动容置于两组对称所述两个容置槽中的所述承载组件进行分离或闭合。/n

【技术特征摘要】
1.一种测试装置，其特征在于，包括：
活动板，包括对称的两个凹槽；
底座，安装于所述活动板上，所述底座包括两组对称的两个容置槽及嵌合座，所述嵌合座设置于两组所述容置槽之间，每一个所述容置槽设置有穿孔，每一个所述容置槽分别装设有承载组件，每一个所述承载组件的底部穿过所述穿孔抵触至所述凹槽中，且每一个所述承载组件上分别设置有导电组件；
承载座，安装于所述底座，所述承载座包括至少一个开孔；
控制杆，连接所述活动板，所述控制杆用以控制所述活动板移动以连动容置于两组对称所述两个容置槽中的所述承载组件进行分离或闭合。


2.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述承载座还包括承载槽、开口、档块、承载孔，所述承载槽连通于所述开口，所述开孔位于所述承载槽中，且所述开孔位置对应所述导电组件，所述嵌合座穿设至所述承载孔中，所述档块设置于所述承载槽与所述开口之间，所述档块将所述承载槽与所述开口分隔成两个连通通道。


3.如权利要求1或2所述的测试装置，其特征在于，所述凹槽是连续折弯形状凹槽，所述凹槽包括二个弯折段。


4.如权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述凹槽的每一所述弯折段具有相对的第一端以及第二端，所述第一端...

【专利技术属性】
技术研发人员：黎超，张新，
申请(专利权)人：昆山联滔电子有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32