【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】优先权要求本申请要求此前2003年6月19日在美国提交的国际申请第10/465,089号的优先权。背景本专利技术一般地涉及用于高温超导体(HTS)设备的低温冷却系统,更具体地涉及用于具有高电压电力用途的HTS装置的低温冷却系统。有一种使用液氮的性质进行低温冷却的HTS冷却系统。通常液氮的使用压力为1个大气压(0.1兆帕),在此压力下,其工作温度(沸点)为77K。然而。由于HTS材料的临界电流密度在低于77K的温度下会显著提高,已经开发出了方法,通过控制液氮的操作环境来降低其温度。附图说明图1是典型物质的p(压力)-T(温度)图,图中显示了该物质p,T的关系和三相(固相、液相和蒸气/气相)。对于氮,“三相点”约为12.53千帕、63.15K。这说明降低液氮的压力,其沸点可降低至大约63K,低于该温度时会形成固态氮。在美国专利第5,477,693中提供了一个使用液氮的这种性质达到更低操作温度的例子。该专利描述了一种方法,在此方法中用真空泵对包含液态氮和气态氮的制冷密封容器(低温恒温器)中的气态氮区域进行抽气。抽气减小了液氮浴的压力,从而将其温度(沸点)降至77K以下。这 ...
【技术保护点】
一种用于使低温冷却系统(10)达到并保持低温冷却的方法,所述低温冷却系统(10)具有制冷剂密封容器(18),该容器中装有处于液态的制冷剂(46、48)和气态的制冷剂(44),并具有至少一个超导体(24),该方法包括以下步骤:在制冷剂密封容器(18)中保持加压制冷剂区域(44);以及用过冷装置(20)将一部分液体制冷剂(48)的温度保持在等于或低于其沸点的温度。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
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