薄膜电容器以及金属化薄膜制造技术

技术编号:24617181 阅读:73 留言:0更新日期:2020-06-24 03:13
本发明专利技术的薄膜电容器是具备在电介质树脂薄膜的一个面设置有金属层的金属化薄膜的薄膜电容器,其特征在于,在将上述金属化薄膜的热膨胀系数设为α

Film capacitor and metallized film

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】薄膜电容器以及金属化薄膜
本专利技术涉及薄膜电容器以及金属化薄膜。
技术介绍
作为电容器的一种,存在如下构造的薄膜电容器,即,将具有挠性的树脂薄膜用作电介质,对在电介质树脂薄膜的一个面设置有金属层的金属化薄膜进行了层叠。作为薄膜电容器用的电介质树脂薄膜,例如,在专利文献1中,记载了使用由热固化性树脂构成的电介质树脂薄膜。构成专利文献1所记载的电介质树脂薄膜的树脂组成物的特征在于,是包含第1有机材料以及第2有机材料的至少两种有机材料发生反应而得到的固化物,上述第1有机材料是多元醇,上述第2有机材料是在分子内具有多个官能团的异氰酸酯化合物、环氧树脂或蜜胺树脂,具备从亚甲基(CH2基)、芳香环以及醚基(-O-基)中选择的、包含摩尔极化率比较小的至少一种官能团的第1原子团、和从羟基(OH基)、氨基(NH基)以及羰基(C=O基)中选择的、包含摩尔极化率比较大的至少一种官能团的第2原子团,由(第1原子团的吸收带强度的总和)/(第2原子团的吸收带强度的总和)所表示的值为1.0以上。在先技术文献专利文献专利文献1:日本专利第5794380号公报
技术实现思路
专利技术要解决的课题近年来,对薄膜电容器要求能够在125℃以上的高温区域内使用的耐热性。另一方面,在金属层和树脂薄膜中热膨胀系数之差大,因此,特别地,若在高温区域反复使用薄膜电容器,则两者的热膨胀差对树脂薄膜的负荷变高。其结果,存在金属层剥落或者在金属层产生裂纹等、金属化薄膜的金属层破损的风险。根据专利文献1,通过至少两种有机材料发生反应而得到固化物,从而能够使树脂组成物的玻璃化温度为130℃以上,因此电介质树脂薄膜的耐热性变高,能够将薄膜电容器的保证温度提高至例如125℃以上。但是,在专利文献1中,关于在高温区域反复使用薄膜电容器时的耐热性并未进行研究。本专利技术正是为了解决上述的问题而完成的,其目的在于,提供一种在高温区域反复使用时的耐热性优异,可抑制金属化薄膜的金属层的破损的薄膜电容器。此外,本专利技术的目的还在于,提供一种上述薄膜电容器用的金属化薄膜。用于解决课题的手段本专利技术的薄膜电容器是具备在电介质树脂薄膜的一个面设置有金属层的金属化薄膜的薄膜电容器,其特征在于,在将上述金属化薄膜的热膨胀系数设为αP,将上述金属层的热膨胀系数设为αM时,αP/αM的值为5.1以下。在本专利技术的薄膜电容器中,上述αP/αM的值优选为1.1以上。在本专利技术的薄膜电容器中,上述αP/αM的值优选为4.3以下。此外,上述αP/αM的值更优选为1.3以上。在本专利技术的薄膜电容器中,上述电介质树脂薄膜的厚度优选超过0.5μm且不足10μm,更优选为2μm以上且6μm以下。在本专利技术的薄膜电容器中,上述金属层的厚度优选为5nm以上且40nm以下。在本专利技术的薄膜电容器中,上述金属层优选包含从由铝、钛、锌、镁、锡以及镍构成的组中选择的任意一种。在本专利技术的薄膜电容器中,上述电介质树脂薄膜优选包含具有氨基甲酸酯键以及脲键的至少一方的树脂作为主要成分。在本专利技术的薄膜电容器中,上述电介质树脂薄膜也可以包含固化性树脂作为主要成分。在本专利技术的薄膜电容器中,上述电介质树脂薄膜也可以包含异氰酸酯基以及羟基的至少一方。在本专利技术的薄膜电容器中,上述电介质树脂薄膜也可以包含热塑性树脂作为主要成分。本专利技术的金属化薄膜是具备电介质树脂薄膜、和设置在上述电介质树脂薄膜的一个面的金属层的金属化薄膜,其特征在于,在将上述金属化薄膜的热膨胀系数设为αP,将上述金属层的热膨胀系数设为αM时,αP/αM的值为5.1以下。在本专利技术的金属化薄膜中,上述αP/αM的值优选为1.1以上。在本专利技术的金属化薄膜中,上述电介质树脂薄膜的厚度优选超过0.5μm且不足10μm。专利技术效果根据本专利技术,能够提供一种在高温区域反复使用时的耐热性优异,可抑制金属化薄膜的金属层的破损的薄膜电容器。附图说明图1是示意性地示出本专利技术的薄膜电容器的一例的剖视图。图2是示意性地示出图1所示的薄膜电容器中使用的金属化薄膜的一例的立体图。具体实施方式以下,对本专利技术的薄膜电容器以及金属化薄膜进行说明。但是,本专利技术并不限定于以下的结构,能够在不变更本专利技术的主旨的范围内适当变更来应用。将在以下记载的本专利技术的各个优选结构组合两个以上的结构也还是本专利技术。[薄膜电容器]本专利技术的薄膜电容器具备在电介质树脂薄膜的一个面设置有金属层的金属化薄膜。另外,在本专利技术的薄膜电容器中使用的金属化薄膜也还是本专利技术之一。以下,作为本专利技术的薄膜电容器的一个实施方式,以第1金属化薄膜和第2金属化薄膜在被层叠的状态下被卷绕而成的卷绕型的薄膜电容器为例进行说明。另外,本专利技术的薄膜电容器也可以是第1金属化薄膜和第2金属化薄膜被层叠而成的层叠型的薄膜电容器。图1是示意性地示出本专利技术的薄膜电容器的一例的剖视图。图2是示意性地示出图1所示的薄膜电容器中使用的金属化薄膜的一例的立体图。图1所示的薄膜电容器1是卷绕型的薄膜电容器,具备卷绕状态的第1金属化薄膜11以及第2金属化薄膜12。如图2所示,第1金属化薄膜11具备:第1电介质树脂薄膜21、和设置在第1电介质树脂薄膜21的一个面的第1金属层(第1对置电极)31。同样地,第2金属化薄膜12具备:第2电介质树脂薄膜22、和设置在第2电介质树脂薄膜22的一个面的第2金属层(第2对置电极)32。如图1所示,第1金属层31以及第2金属层32夹着第1电介质树脂薄膜21或第2电介质树脂薄膜22而相互对置。薄膜电容器1还具备与第1金属层31电连接的第1外部端子电极41、以及与第2金属层32电连接的第2外部端子电极42。第1金属化薄膜11和第2金属化薄膜12在被层叠的状态下被卷绕,由此构成了薄膜电容器1。第2电介质树脂薄膜22可以具有与第1电介质树脂薄膜21不同的结构,但优选具有与第1电介质树脂薄膜21相同的结构。第1金属层31在第1电介质树脂薄膜21的一个面形成为到达一个侧缘但不到达另一个侧缘。另一方面,第2金属层32在第2电介质树脂薄膜22的一个面形成为不到达一个侧缘但到达另一个侧缘。第1金属层31以及第2金属层32例如由铝层等构成。如图1所示,第1电介质树脂薄膜21和第2电介质树脂薄膜22相互在宽度方向(图2中是W所示的方向)上被错开地层叠,使得第1金属层31中的到达第1电介质树脂薄膜21的侧缘的一侧的端部、以及第2金属层32中的到达第2电介质树脂薄膜22的侧缘的一侧的端部都从被层叠的薄膜露出。第1电介质树脂薄膜21以及第2电介质树脂薄膜22在被层叠的状态下被卷绕,由此做成为保持第1金属层31以及第2金属层32在端部露出的状态而堆积的状态。在图1所示的薄膜电容器1中,被卷绕为:第2电介质树脂薄膜22成为第1电介质树脂薄膜21的外侧,并且,关于第1电介质树脂薄膜21以及第2电介质树本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种薄膜电容器,具备在电介质树脂薄膜的一个面设置有金属层的金属化薄膜,所述薄膜电容器的特征在于,/n在将所述金属化薄膜的热膨胀系数设为α

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20171115 JP 2017-2201101.一种薄膜电容器,具备在电介质树脂薄膜的一个面设置有金属层的金属化薄膜,所述薄膜电容器的特征在于,
在将所述金属化薄膜的热膨胀系数设为αP,将所述金属层的热膨胀系数设为αM时,αP/αM的值为5.1以下。


2.根据权利要求1所述的薄膜电容器,其特征在于,
所述αP/αM的值为1.1以上。


3.根据权利要求1所述的薄膜电容器,其特征在于,
所述αP/αM的值为4.3以下。


4.根据权利要求3所述的薄膜电容器,其特征在于,
所述αP/αM的值为1.3以上。


5.根据权利要求1或2所述的薄膜电容器,其特征在于,
所述电介质树脂薄膜的厚度超过0.5μm且不足10μm。


6.根据权利要求3或4所述的薄膜电容器,其特征在于,
所述电介质树脂薄膜的厚度为2μm以上且6μm以下。


7.根据权利要求5或6所述的薄膜电容器,其特征在于,
所述金属层的厚度为5nm以上且40nm以下。


8.根据权利要求1~7中任一项所述的薄膜电容器,其特征在于,
所述金属层包含从...

【专利技术属性】
技术研发人员:市川智道稻仓智生小林真一
申请(专利权)人:株式会社村田制作所
类型:发明
国别省市:日本;JP

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