【技术实现步骤摘要】
一种焊接密封系统及焊接密封工艺
本专利技术涉及焊接封装
,具体涉及一种焊接密封系统及焊接密封工艺。
技术介绍
目前,电子元器件广泛应用于通讯、医疗、信息存储、国防军事等不同领域。为了满足不同应用场景,对电子元器件的质量和可靠性又提出了新的要求。在电子元器件的失效模式中,内部水汽含量超标导致的器件失效占了较高比例。根据GJB597A-96《半导体集成电路总规范》及GJB5548A-96《微电子器件实验方法和程序》方法中规定:微电子器件的内部水汽含量不得超过5000*10-6。水汽含量5000*10-6对应的露点温度为-2℃。若电子元器件封装后内部的水汽含量较高,当电子元器件在温度低于露点温度的条件下工作或贮存时,水汽会在器件内表面凝露引起电参数飘移,严重时还会导致器件内金属部件腐蚀失效,引发频率飘移、继电器接触不良、电子器件性能劣化甚至丧失功能等情况。因此,电子元器件封装后内部的水汽含量直接影响了器件的灵敏度及使用寿命与可靠性。对于某些高精度要求的器件(例如,MEMS传感器等),或者应用场景要求较高的密封器件(例如,军用装备器件),则需要更加严格的内部水汽限制。目前,电子元器件的封装一般是向手套箱内通入惰性的工艺气体,在工艺气体氛围保护下,以平行封焊、储能焊等方式对待密封件进行气密性封装。然而,在现有的封装过程中,焊接系统内部水汽以及待密封的元器件表面吸附的水汽难以被有效去除,且待密封器件在焊接系统内转移的过程中易发生二次吸附水汽,使密封后电子元器件内部残留较高的水汽含量,影响了电子元器件的性能、使用寿命 ...
【技术保护点】
1.一种焊接密封系统,其特征在于,包括:/n填气模块(1),包括用于提供工艺气体的供气单元(11),和连接所述供气单元的冷凝单元(12),所述冷凝单元(12)用于吸附所述工艺气体中的杂质气体;/n烘烤模块(2),包括预处理单元(21),与所述预处理单元(21)相连的烘烤单元(22),以及分别连接所述预处理单元(21)和所述烘烤单元(22)的第一抽气单元(23);所述预处理单元(21)具有接收待密封件的预处理腔室(211),所述烘烤单元(22)用于对所述预处理腔室(211)输出的待密封件进行烘烤处理,所述烘烤单元(22)和所述预处理单元(21)分别通过工艺气体管路连接所述冷凝单元(12);/n焊接模块(3),包括用于焊接所述待密封件的焊接单元(31),与所述待密封件相连的出料单元(32),和与所述焊接单元(31)相连的第二抽气单元(33);所述焊接单元(31)接收由所述烘烤单元(22)输出的所述待密封件,所述出料单元(32)接收由所述焊接单元(31)输出的密封件;所述焊接单元(31)通过工艺气体管路连接所述冷凝单元(12);/n传送模块(4),包括位于所述预处理单元(21)与所述烘烤机构 ...
【技术特征摘要】
1.一种焊接密封系统,其特征在于,包括:
填气模块(1),包括用于提供工艺气体的供气单元(11),和连接所述供气单元的冷凝单元(12),所述冷凝单元(12)用于吸附所述工艺气体中的杂质气体;
烘烤模块(2),包括预处理单元(21),与所述预处理单元(21)相连的烘烤单元(22),以及分别连接所述预处理单元(21)和所述烘烤单元(22)的第一抽气单元(23);所述预处理单元(21)具有接收待密封件的预处理腔室(211),所述烘烤单元(22)用于对所述预处理腔室(211)输出的待密封件进行烘烤处理,所述烘烤单元(22)和所述预处理单元(21)分别通过工艺气体管路连接所述冷凝单元(12);
焊接模块(3),包括用于焊接所述待密封件的焊接单元(31),与所述待密封件相连的出料单元(32),和与所述焊接单元(31)相连的第二抽气单元(33);所述焊接单元(31)接收由所述烘烤单元(22)输出的所述待密封件,所述出料单元(32)接收由所述焊接单元(31)输出的密封件;所述焊接单元(31)通过工艺气体管路连接所述冷凝单元(12);
传送模块(4),包括位于所述预处理单元(21)与所述烘烤机构之间的第一传送机构(41),位于所述烘烤机构与所述焊接机构之间的第二传送机构(42),和位于所述焊接机构与所述出料机构之间的第三传送机构(43);所述第一传送机构(41)、所述第二传送机构(42)和所述第三传送机构(43)具有使相邻的两个单元在连通和封闭之间转换的传送阀门。
2.根据权利要求1所述的焊接密封系统,其特征在于,
所述烘烤单元(22)包括接收所述待密封件的第一操作腔室(221),和设置于所述第一操作腔室(221)外部的加热器(222);所述第一操作腔室(221)连通所述冷凝单元(12)和所述第一抽气单元(23);
所述焊接单元(31)内设有放置所述待密封件的第二操作腔室(311),所述第二操作腔室(311)连通所述冷凝单元(12)和所述第二抽气单元(33);所述第二操作腔室(311)连通所述冷凝单元(12)的工艺气体管路上设有压力控制器(34);
优选地,所述第一操作腔室(221)为石英真空腔室,所述第二操作腔室(311)为焊接真空腔室。
3.根据权利要求2所述的焊接密封系统,其特征在于,所述预处理腔室(211)的外部设有压力检测件,所述第一操作腔室(221)的外部设有压力检测件,所述第二操作腔室(311)的外部设有露点检测件;
优选地,所述压力检测件为真空规,所述露点检测件为露点仪。
4.根据权利要求1-3任一项所述的焊接密封系统,其特征在于,所述冷凝单元(12)包括提供冷凝介质的第一罐体(121)和接收所述第一罐体(121)内冷凝介质的第二罐体(122),所述第一罐体(121)连接送气机构(131),所述第二罐体(122)的气体入口连通所述供气单元(11),所述第二罐体(122)的气体出口连通所述预处理单元(21)、所述烘烤单元(22)和所述焊接单元(31);
优选地,所述第一罐体(121)为液氮杜瓦,所述第二罐体(122)为液氮冷阱。
5.根据权利要求4所述的焊接密封系统,其特征在于,
连通所述气体入口的工艺气体管...
【专利技术属性】
技术研发人员:陶硕,裴志强,朱京,梁立兴,张琳琳,廖兴才,
申请(专利权)人:北京晨晶电子有限公司,
类型:发明
国别省市:北京;11
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