显示面板的检测设备制造技术

本发明专利技术公开了一种显示面板的检测设备，包括：多组检测探针，所述检测探针用于在与待测显示面板的信号输入端电性连接时将检测信号输入至所述信号输入端；多个侦测电路，所述侦测电路与所述检测探针电性连接，用于检测与所述信号输入端电性连接的任意两个所述检测探针的电阻值；警报装置，所述警报装置与所述侦测电路电性连接，用于根据所述侦测电路的检测结果发出警报。本发明专利技术实施例提供的显示面板的检测设备用于避免检测探针在检测过程中由于发生扎针偏移而造成的检测的成功率偏低的问题。

【技术实现步骤摘要】
显示面板的检测设备
本专利技术涉及显示
，尤其涉及一种显示面板的检测设备。
技术介绍
阵列工艺是显示面板制造过程中的一个阶段，在阵列工艺中，需要在玻璃基板上形成薄膜晶体管阵列电路，薄膜晶体管阵列电路的优劣直接决定了显示面板的品质，对于阵列电路的检测也就成为制造流程中的重要环节。目前，采用探针与显示面板接触的检测方式对显示面板进行测试，该检测方法的工作原理是通过探针将信号加到与薄膜晶体管阵列电路中的信号输入端上，再利用VIOS(VoltageImagingOpticalSubsystem)系统对显示面板进行检测。然而，随着显示面板检测自动化的提升，显示面板的检测采用自动检测代替人工检测，当检测探针偏移未造成点灯画面异常时，异常状况无法被及时侦测到，从而影响检测过程，降低检测的成功率。故，有必要提出一种新的技术方案，以解决上述技术问题。
技术实现思路
本专利技术实施例提供一种显示面板的检测设备，用于避免检测探针在检测过程中由于发生扎针偏移而造成的检测的成功率偏低的问题。本专利技术实施例提供一种显示面板的检测设备，包括：多组检测探针，所述检测探针用于在与待测显示面板的信号输入端电性连接时将检测信号输入至所述信号输入端；多个侦测电路，所述侦测电路与所述检测探针电性连接，用于检测与所述信号输入端电性连接的任意两个所述检测探针的电阻值；警报装置，所述警报装置与所述侦测电路电性连接，用于根据所述侦测电路的检测结果发出警报。在本专利技术实施例提供的显示面板的检测设备中，所述显示面板的检测设备还包括波形输出装置，所述波形输出装置与所述侦测电路电性连接，用于输出所述侦测电路形成的电信号的波形图。在本专利技术实施例提供的显示面板的检测设备中，所述警报装置用于接收所述侦测电路所侦测的任意两个所述检测探针之间的电阻值，并用于将接收的所述电阻值与预先设定电阻值比较，以及用于当所述电阻值小于所述预先设定电阻值时，发出警报。在本专利技术实施例提供的显示面板的检测设备中，所述显示面板的检测设备还包括：检测台，所述检测台用于放置待测的所述显示面板；固定构件，所述固定构件设置在所述检测台上，用于固定所述检测探针。在本专利技术实施例提供的显示面板的检测设备中，所述显示面板的检测设备还包括移动构件，所述移动构件设置在所述检测台上，并与所述固定构件相连，用于移动所述固定构件。在本专利技术实施例提供的显示面板的检测设备中，所述移动构件包括滑动块和滑槽，所述滑块设置于所述滑槽内，所述固定构件设置于所述滑块上。在本专利技术实施例提供的显示面板的检测设备中，所述移动构件在所述测试台上沿第一方向水平移动。在本专利技术实施例提供的显示面板的检测设备中，所述检测探针包括与所述信号输入连接端连接的第一端和与所述侦测电路连接的第二端，所述第一端裸露于所述检测台上。在本专利技术实施例提供的显示面板的检测设备中，所述报警装置包括声音警报器或者光警报器。在本专利技术实施例提供的显示面板的检测设备中，所述检测探针的数量大于或等于与其接触的所述信号输入端的数量。相较于现有技术，在本专利技术实施例提供的显示面板的检测设备中，通过在检测探针上接入侦测电路，通过检测到的检测探针的电阻值判断检测探针的扎针位置是否发生偏移，并且在侦测电路上设置警报装置，可以实现实时检测，避免了检测探针在检测过程中由于发生扎针偏移而造成的检测的成功率偏低的问题。另外，本专利技术实施例中的显示面板的检测设备还包括沿第一方向水平移动的移动构件，用于提高显示面板的检测效率。为让本专利技术的上述内容能更明显易懂，下文特举优选实施例，并配合所附图式，作详细说明如下。附图说明图1为本专利技术实施例提供的显示面板的检测设备的示意图；图2为本专利技术实施例提供的显示面板的检测设备的另一示意图；图3为本专利技术实施例提供的显示面板的检测设备的结构示意图。具体实施方式为了使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本专利技术作进一步地详细描述，请参照附图中的图式，其中相同的组件符号代表相同的组件，以下的说明是基于所示的本专利技术具体实施例，其不应被视为限制本专利技术未在此详述的其他具体实施例。本说明书所使用的词语“实施例”意指实例、示例或例证。在本申请的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。在本申请的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。请参考图1，本专利技术实施例提供一种显示面板的检测设备，包括：多组检测探针R、多个侦测电路11和警报装置12，其中，所述检测探针R用于在与待测显示面板2的信号输入端211电性连接时将检测信号输入至所述信号输入端211；所述侦测电路11与所述检测探针R电性连接，用于检测与所述信号输入端211电性连接的任意两个所述检测探针11的电阻值；所述警报装置12与所述侦测电路11电性连接，用于根据所述侦测电路11的检测结果发出警报。其中，检测探针R包括与显示面板2的信号输入端211电性连接的第一检测探针R1、第二检测探针R2、第三检测探针R3、第四检测探针R4和第N检测探针Rn。侦测电路11是通过外接导线14与相邻两个检测探针电性连接以及薄膜晶体管的阵列电路电性连接形成的，例如，第一检测探针R1、第二检测探针R2通过导线14连接形成侦测电路11；第三检测探针R3、第四检测探针R4通过导线14连接形成侦测电路11；以此类推，第N检测探针Rn-1、第N检测探针Rn通过导线14连接形成侦测电路11。本专利技术的附图只是其中一种示意，侦测电路11还包括其他检测探针的组合方式，例如，第一检测探针R1、第四检测探针R4通过导线14连接形成侦测电路11；第二检测探针R2、第三检测探针R3通过导线14连接形成侦测电路11。应该理解的是，形成完整的侦测电路11还包括电源和其他组件，该技术属于公知常识，在此不再赘述。可选的，本专利技术实施例中的各侦测电路11还本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种显示面板的检测设备，其特征在于，包括：/n多组检测探针，所述检测探针用于在与待测显示面板的信号输入端电性连接时将检测信号输入至所述信号输入端；/n多个侦测电路，所述侦测电路与所述检测探针电性连接，用于检测与所述信号输入端电性连接的任意两个所述检测探针的电阻值；/n警报装置，所述警报装置与所述侦测电路电性连接，用于根据所述侦测电路的检测结果发出警报。/n

【技术特征摘要】
1.一种显示面板的检测设备，其特征在于，包括：
多组检测探针，所述检测探针用于在与待测显示面板的信号输入端电性连接时将检测信号输入至所述信号输入端；
多个侦测电路，所述侦测电路与所述检测探针电性连接，用于检测与所述信号输入端电性连接的任意两个所述检测探针的电阻值；
警报装置，所述警报装置与所述侦测电路电性连接，用于根据所述侦测电路的检测结果发出警报。


2.根据权利要求1所述的显示面板的检测设备，其特征在于，所述显示面板的检测设备还包括波形输出装置，所述波形输出装置与所述侦测电路电性连接，用于输出所述侦测电路形成的电信号的波形图。


3.根据权利要求1所述的显示面板的检测设备，其特征在于，所述警报装置用于接收所述侦测电路所侦测的任意两个所述检测探针之间的电阻值，并用于将接收的所述电阻值与预先设定电阻值比较，以及用于当所述电阻值小于所述预先设定电阻值时，发出警报。


4.根据权利要求1所述的显示面板的检测设备，其特征在于，所述显示面板的检测设备还包括：
检测台，所述检测台用于放置待测的所述显示面板；
固定构件，所...

【专利技术属性】
技术研发人员：王文，
申请(专利权)人：深圳市华星光电半导体显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44