阵列基板检测方法及系统技术方案

本申请涉及一种阵列基板检测方法及系统。通过所述阵列基板检测方法可以确定所述阵列基板是否存在Mura现象。进一步的，由于所述第一测试块与所述第二测试块对位形成多个平行板电容器。从所述测试基板读取的所述多个输出电压中，每一个输出电压对应所述测试基板的一个位置，同时也对应所述阵列基板的一个位置。根据所述多个输出电压可以判断所述阵列基板是否存在Mura现象。当检测判断得出存在与所述阵列基板输入的检测信号不同的输出电压时，则认为所述与所述阵列基板输入的检测信号不同的输出电压所在的位置为所述阵列基板中存在Mura的位置。所述阵列基板检测方法还可以确认Mura所在的位置，找到存在Mura的具体区域，便于实现对所述阵列基板的修复工作。

Array substrate detection method and system

【技术实现步骤摘要】
阵列基板检测方法及系统
本申请涉及显示
，特别是涉及一种阵列基板检测方法及系统。
技术介绍
有机发光二极管(OrganicLightEmittingDiode，简称OLED)显示器是当今显示器研究领域的热点之一。与液晶显示器(LiquidCrystalDisplay，简称LCD)相比，有机发光二极管OLED显示器具有低能耗、生产成本低、自发光、宽视角及响应速度快等优点。目前，OLED显示面板可以利用氧化物(Oxide)的薄膜晶体管(TFT)工艺技术来制作。一般来说，采用氧化物的薄膜晶体管工艺技术所制作出来的OLED显示面板，其像素驱动电路中的薄膜晶体管的型态可以为P型或N型，但无论是选择P型还是N型薄膜晶体管来实现像素驱动电路，有机发光二极管的电流均会随着驱动晶体管的阈值电压偏移有所变化，使得OLED显示面板产生显示亮度不均匀Mura现象，进而影响OLED显示面板的亮度均匀性与亮度恒定性。目前，通过人为的观察显示面板上的OLED的发光情况才能检测到显示面板是否存在Mura现象，这样会存在很大的主观性，给显示面板的品质管控带来很大的困扰。
技术实现思路
基于此，有必要针对人为的观察显示面板上的OLED的发光情况判断是否存在Mura现象，会存在很大的主观性的问题，提供一种阵列基板检测方法及系统。一种阵列基板检测方法，包括以下步骤：提供阵列基板，所述阵列基板包括多个间隔设置的第一测试块；提供测试基板，所述测试基板包括多个第二测试块；将所述测试基板与所述阵列基板平行间隔第一距离设置以使所述第一测试块与所述第二测试块对位；向所述阵列基板输入检测信号，并从所述测试基板读取多个输出电压，根据所述多个输出电压判断所述阵列基板是否存在Mura现象。在一个实施例中，所述根据所述多个输出电压判断所述阵列基板是否存在Mura现象的步骤，包括：根据所述多个输出电压按照每个所述第一测试块在所述阵列基板上的位置生成测试电压等值线图；判断所述测试电压等值线图中是否存在测试电压突变的点；若在所述测试电压等值线图，存在测试电压突变的点，则确定所述阵列基板存在Mura现象。在一个实施例中，所述根据所述多个输出电压判断所述阵列基板是否存在Mura现象的步骤，包括：提供阈值电压，运算每一个所述输出电压减去所述阈值电压之差的绝对值，得到多个运算结果；判断所述多个运算结果中是否存在不在第一范围内的运算结果；若所述多个运算结果中存在不在所述第一范围内的运算结果，则记录所述不在所述第一范围内的运算结果所对应的输出电压；根据所述不在所述第一范围内的运算结果所对应的输出电压，查找在所述阵列基板中对应的所述第一测试块所在的位置，以确定对应所述不在所述第一范围内的运算结果所对应的输出电压的所述第一测试块所在的位置存在Mura现象。在一个实施例中，以第一频率向所述阵列基板输入检测信号；以第二频率从所述测试基板读取多个输出电压；所述第一频率大于或等于所述第二频率。在一个实施例中，所述第一测试块包括至少一个阳极块，所述阳极块用于驱动像素点亮；一个所述第二测试块与至少一个阳极块对位形成一个平行板电容器。在一个实施例中，所述第一距离小于或者等于50微米。在一个实施例中，将所述测试基板与所述阵列基板平行间隔第一距离设置，以使得所述第一测试块与所述第二测试块对位的步骤，包括：在所述阵列基板上设置第一对位结构，在所述测试基板设置第二对位结构；提供对位装置，拍摄所述第一对位结构的位置信息，并根据所述位置信息沿第一方向和第二方向调整所述测试基板的位置，所述第一方向和所述第二方向垂直；沿着所述第一方向和/或所述第二方向移动所述测试基板，以使得所述第一对位结构和所述第二对位结构完成对位，以使所述第一测试块与所述第二测试块对位形成多个平行板电容器。一种阵列基板检测系统，包括：阵列基板，所述阵列基板包括：多个间隔设置的第一测试块；信号输入模块，分别与所述多个第一测试块电连接；测试基板，所述测试基板包括：多个间隔设置的第二测试块；信号检测模块，分别与所述多个第二测试块电连接；所述测试基板与所述阵列基板平行间隔第一距离设置，以使得所述第一测试块与所述第二测试块对位；以及控制模块，与所述信号输入模块电连接，用于向所述阵列基板输入检测信号；所述控制模块与所述信号检测模块电连接，用于从所述测试基板读取多个输出电压，形成用于判断所述阵列基板是否存在Mura现象的数据。在一个实施例中，所述控制模块包括：图像生成单元，与所述信号检测模块电连接，用于将所述多个输出电压按照每个所述第一测试块在所述阵列基板上的位置生成测试电压等值线图；第一判断单元，与所述图像生成单元电连接，用于根据所述测试电压等值线图中是否存在测试电压突变的点，判断所述阵列基板是否存在Mura现象。在一个实施例中，所述控制模块包括：运算单元，与所述信号检测模块电连接，用于提供阈值电压，并运算每一个所述输出电压减去所述阈值电压之差的绝对值，得到多个运算结果；第二判断单元，与所述运算单元电连接，用于判断所述多个运算结果中是否存在不在第一范围内的运算结果；若所述多个运算结果中存在不在所述第一范围内的运算结果，则记录所述不在所述第一范围内的运算结果所对应的偏差输出电压；根据所述偏差输出电压，查找在所述阵列基板中对应所述偏差输出电压的所述第一测试块所在的位置，以确定对应所述偏差输出电压的所述第一测试块所在的位置存在Mura现象。本申请中提供一种阵列基板检测方法及系统。通过所述阵列基板检测方法可以确定所述阵列基板是否存在Mura现象。进一步的，由于所述第一测试块与所述第二测试块对位形成多个平行板电容器。从所述测试基板读取的所述多个输出电压中，每一个输出电压对应所述测试基板的一个位置，同时也对应所述阵列基板的一个位置。根据所述多个输出电压可以判断所述阵列基板是否存在Mura现象。当检测判断得出存在与所述阵列基板输入的检测信号不同的输出电压时，则认为所述与所述阵列基板输入的检测信号不同的输出电压所在的位置为所述阵列基板中存在Mura的位置。所述阵列基板检测方法还可以确认Mura所在的位置，找到存在Mura的具体区域，便于实现对所述阵列基板的修复工作。附图说明图1为本申请一个实施例中提供的阵列基板检测方法的步骤流程示意图；图2为本申请一个实施例中提供的阵列基板检测系统的剖面结构示意图；图3为本申请一个实施例中提供的阵列基板检测系统中一个检测回路的原理示意图；图4为本申请一个实施例中提供的阵列基板检测系统的结构示意图；图5为本申请一个实施例中提供的阵列基板的部分剖面结构示意图；图6为本申请一个实施例中提供的阵列基板检测系统的结构示意图；图7为本申请一个实施例中提供的阵列基板检测系统的结构示意图；本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种阵列基板检测方法，其特征在于，包括以下步骤：/n提供阵列基板(10)，所述阵列基板(10)包括多个间隔设置的第一测试块(11)；/n提供测试基板(20)，所述测试基板(20)包括多个第二测试块(21)；/n将所述测试基板(20)与所述阵列基板(10)平行间隔第一距离，以使第一测试块(11)与所述第二测试块(21)对位；/n向所述阵列基板(10)输入检测信号，并从所述测试基板(20)读取多个输出电压，根据所述多个输出电压判断所述阵列基板(10)是否存在Mura现象。/n

【技术特征摘要】
1.一种阵列基板检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
提供阵列基板(10)，所述阵列基板(10)包括多个间隔设置的第一测试块(11)；
提供测试基板(20)，所述测试基板(20)包括多个第二测试块(21)；
将所述测试基板(20)与所述阵列基板(10)平行间隔第一距离，以使第一测试块(11)与所述第二测试块(21)对位；
向所述阵列基板(10)输入检测信号，并从所述测试基板(20)读取多个输出电压，根据所述多个输出电压判断所述阵列基板(10)是否存在Mura现象。


2.根据权利要求1所述的阵列基板检测方法，其特征在于，所述根据所述多个输出电压判断所述阵列基板(10)是否存在Mura现象的步骤，包括：
根据所述多个输出电压按照每个所述第一测试块(11)在所述阵列基板(10)上的位置生成测试电压等值线图；
判断所述测试电压等值线图中是否存在测试电压突变的点；
若在所述测试电压等值线图中，存在测试电压突变的点，则确定所述阵列基板(10)存在Mura现象。


3.根据权利要求1所述的阵列基板检测方法，其特征在于，所述根据所述多个输出电压判断所述阵列基板(10)是否存在Mura现象的步骤，包括：
提供阈值电压，运算每一个所述输出电压减去所述阈值电压之差的绝对值，得到多个运算结果；
判断所述多个运算结果中是否存在不在第一范围内的运算结果；
若所述多个运算结果中存在不在所述第一范围内的运算结果，则记录所述不在所述第一范围内的运算结果所对应的输出电压；
根据所述不在所述第一范围内的运算结果所对应的输出电压，查找在所述阵列基板(10)中对应的所述第一测试块(11)所在的位置，以确定对应所述不在所述第一范围内的运算结果所对应的输出电压的所述第一测试块(11)所在的位置存在Mura现象。


4.根据权利要求2或者3所述的阵列基板检测方法，其特征在于，
以第一频率向所述阵列基板(10)输入检测信号；
以第二频率从所述测试基板(20)读取多个输出电压；
所述第一频率大于或等于所述第二频率。


5.根据权利要求1所述的阵列基板检测方法，其特征在于，所述第一测试块(11)包括至少一个阳极块(103)，所述阳极块(103)用于驱动像素点亮；一个所述第二测试块(21)与至少一个阳极块(103)对位形成一个平行板电容器。


6.根据权利要求1所述的阵列基板检测方法，其特征在于，所述第一距离小于或者等于50微米。


7.根据权利要求1所述的阵列基板检测方法，其特征在于，将所述测试基板(20)与所述阵列基板(10)平行间隔第一距离设置，以使所述第一测试块(11)与所述第二测试块(21)对位的步骤，包括：

【专利技术属性】
技术研发人员：王彦磊，
申请(专利权)人：云谷固安科技有限公司，
类型：发明
国别省市：河北;13