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本申请涉及一种阵列基板检测方法及系统。通过所述阵列基板检测方法可以确定所述阵列基板是否存在Mura现象。进一步的，由于所述第一测试块与所述第二测试块对位形成多个平行板电容器。从所述测试基板读取的所述多个输出电压中，每一个输出电压对应所述测试...
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