【技术实现步骤摘要】
一种利用热型原子层沉积技术制备单质铜、钴、镍薄膜的方法
本专利技术涉及单质铜、钴、镍薄膜相关制备方法
,具体为一种利用热型原子层沉积技术制备单质铜、钴、镍薄膜的方法。
技术介绍
集成电路中随着互补金属氧化物半导体晶体管的尺寸不断缩小,单位面积中的晶体管数量急剧增加。使得使用材料的厚度降低至几个纳米数量级。镍薄膜具有电阻率低、连续、均匀等突出优点,传统的Ni薄膜都是采用物理气相沉积技术沉积一层镍金属。当器件尺寸持续缩小到16纳米及以下技术节点时,传统的PVD方法已不能满足需求,相比于物理气相沉积,化学气相沉积(CVD)与原子层沉积(ALD)将是进行薄膜金属或者金属化合物沉积最有应用前景的两种方法。CVD工艺是前驱体与反应物同时存在于反应腔室,在一定的反应条件下,发生于气相或者基底表面的沉积过程。严格说来,ALD属于CVD技术,与传统的CVD不同的是,该技术通过重复两个或多个半反应来实现薄膜一层一层的生长。ALD反应腔中每一个半反应的前驱体单独存在,各半反应之间用惰性气体进行吹洗,并且ALD中的各半反应周期内,前驱体与基底 ...
【技术保护点】
1.一种利用热型原子层沉积技术制备单质铜、钴、镍薄膜的方法,其特征在于:所述方法包括氨基醇类和肼类,氨基醇类为金属前驱体,肼类为还原性前驱,利用热型原子层沉积技术即可沉积连续均匀的单质薄膜。/n
【技术特征摘要】
1.一种利用热型原子层沉积技术制备单质铜、钴、镍薄膜的方法,其特征在于:所述方法包括氨基醇类和肼类,氨基醇类为金属前驱体,肼类为还原性前驱,利用热型原子层沉积技术即可沉积连续均匀的单质薄膜。
2.根据权利要求1所述的一种利用热型原子层沉积技术制备单质铜、钴、镍薄膜的方法,其特征在于:所述氨基醇类金属前驱体如式1结构的化合物:
其中M为铜、钴、镍,其中R1、R2、R3、R4为C1-C10的烃链或者三甲基硅基,R1、R2、R3、R4四者相同或者不同。
3.根据权利要求1所述的一种利用热型原子层沉积技术制备单质铜、钴、镍薄膜的方法,其特征在于:所述肼类还原性前驱如式2结构的化合物:
其中,R5、R6、R7、R8为C1-C10的烃链或三甲基硅基中的一种,R5、R6、R7、R8四者相同或者不同。
4.根据权利要求1所述的一种利用热型原子层沉积技术制备单质铜、钴、镍薄膜的方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:
...
【专利技术属性】
技术研发人员:不公告发明人,
申请(专利权)人:江苏迈纳德微纳技术有限公司,
类型:发明
国别省市:江苏;32
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