一种用于轴瓦测量的调节式假轴及测量方法技术

本发明专利技术公开了一种用于轴瓦测量的调节式假轴，包括轴体，轴体包括公轴以及由多个轴块拼合成的轴套，公轴和轴套共同设置成公轴在内、轴套在外的同轴结构，公轴的外壁呈圆锥面设置，轴套内壁与公轴外壁配合相连，轴套外壁呈圆柱面设置，公轴轴向截面小的一端设有螺杆，螺杆设有调节螺母。本发明专利技术还公开了一种用于轴瓦测量的测量方法，步骤如下：一、将多个轴块围住公轴拼合成同轴设置的公轴和轴套，将调节螺母与螺杆螺纹连接；二、将假轴插入轴瓦形成的轴瓦环内；三、向公轴一侧旋转调节螺母，直至轴套外壁与轴瓦环内壁相抵靠，量取轴瓦环内径尺寸。本发明专利技术具有工艺简单、规格少、成本低、后期保养简单的特点，可以广泛应用于离心机检修领域。

An adjustable dummy shaft and its measuring method for bearing bush measurement

【技术实现步骤摘要】
一种用于轴瓦测量的调节式假轴及测量方法
本专利技术涉及离心机检修领域，特别是涉及一种用于轴瓦测量的调节式假轴及测量方法。
技术介绍
离心机的检修流程中轴瓦的间隙测量是关键步骤，随着技术的发展，新型机组使用的轴瓦多为可倾瓦，目前测量最常用的方法是假轴法，然而目前的测量方法精确性不高。存在问题：1、假轴法测量，需要重新加工假轴，目前离心机组较多，轴直径规格较多，需要准备的假轴规格较多；2、假轴的加工成本偏高，后期保管和保养较为麻烦。3、使用阶梯轴假轴，还存在加工工艺较复杂，测量精确度不太高，测量范围偏小的问题，如果需要提高精度，一个区间的阶梯数会较多，需要加工的假轴长度会很长。
技术实现思路
本专利技术的目的是为了克服上述
技术介绍
的不足，提供一种用于轴瓦测量的调节式假轴及测量方法，使其具有工艺简单、规格少、成本低、后期保养简单的特点。本专利技术提供的一种用于轴瓦测量的调节式假轴，包括轴体，所述轴体包括公轴以及由多个轴块拼合成的轴套，所述公轴和轴套共同设置成公轴在内、轴套在外的同轴结构，所述本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于轴瓦测量的调节式假轴，包括轴体，其特征在于：所述轴体包括公轴(1)以及由多个轴块(2.1)拼合成的轴套(2)，所述公轴(1)和轴套(2)共同设置成公轴(1)在内、轴套(2)在外的同轴结构，所述公轴(1)的外壁呈圆锥面设置，所述轴套(2)内壁与公轴(1)外壁配合相连，所述轴套(2)外壁呈圆柱面设置，所述公轴(1)轴向截面小的一端设有螺杆(3)，所述螺杆(3)上设有调节螺母(4)；所述公轴(1)轴向截面小的一端直径为T，所述公轴(1)轴向截面大的另一端直径为D，当各个轴块(2.1)紧密拼合成轴套(2)时轴套(2)内径大的一端的内径尺寸为d，且D＞d＞T；所述调节螺母(4)外径为H，所述...

【技术特征摘要】
1.一种用于轴瓦测量的调节式假轴，包括轴体，其特征在于：所述轴体包括公轴(1)以及由多个轴块(2.1)拼合成的轴套(2)，所述公轴(1)和轴套(2)共同设置成公轴(1)在内、轴套(2)在外的同轴结构，所述公轴(1)的外壁呈圆锥面设置，所述轴套(2)内壁与公轴(1)外壁配合相连，所述轴套(2)外壁呈圆柱面设置，所述公轴(1)轴向截面小的一端设有螺杆(3)，所述螺杆(3)上设有调节螺母(4)；所述公轴(1)轴向截面小的一端直径为T，所述公轴(1)轴向截面大的另一端直径为D，当各个轴块(2.1)紧密拼合成轴套(2)时轴套(2)内径大的一端的内径尺寸为d，且D＞d＞T；所述调节螺母(4)外径为H，所述当各个轴块(2.1)紧密拼合成轴套(2)时轴套(2)内径小的一端的内径尺寸为h，且H＞h。


2.根据权利要求1所述的用于轴瓦测量的调节式假轴，其特征在于：所述公轴(1)外壁与轴线之间的夹角α≤1°。


3.根据权利要求1或2所述的用于轴瓦测量的调节式假轴，其特征在于：所述公轴(1)轴向截面大的一端设有多棱体握把(5)。


4.根据权利要求3所述的用于轴瓦测量的调节式假轴，其特征在于：所述轴套(2)由四块大小、形状相同的轴块(2.1)组成。


5.一种用于轴瓦测量的测量方法，其特征在于：具有如下步骤：
步骤一、将多个轴块(2.1)围住公轴(1)拼合成同轴设置的公轴(1)和轴套(2)，将调节螺母(4)与螺杆(3)螺纹连接；
步骤二、将轴块(2.1)、公轴(1)、螺杆(3)与调节螺母(4)形成的假轴...

【专利技术属性】
技术研发人员：沈拥军，许国亮，张艳，龚凯，
申请(专利权)人：武汉检安石化工程有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北;42