【技术实现步骤摘要】
一种高增益有源区及一种VCSEL
本技术涉及半导体
,尤其涉及一种高增益有源区及一种VCSEL。
技术介绍
半导体器件的有源区通常包括一个或多个量子阱垒层,量子阱垒层一般由InGaAs/GaAs、InGaAs/AlGaAs、InGaAs/GaAsP或InAlGaAs/AlGaAs组成。然而,由于压应变,导致空穴难以进入有源区,复合几率低。并且,由于电子浓度较高,其迁移速率较高,而空穴的迁移速率较低(相差约10倍以上),因此,空穴与电子的复合集中在靠近P型的一侧,增加深能级产生几率。另一方面,量子阱垒层的串联电阻高也是急需解决的问题。
技术实现思路
有鉴于此,本技术的目的为:提供一种能够提高空穴注入和降低串联电阻的高增益有源区,以及一种具有高增益有源区的VCSEL。本技术采用的技术方案为:一种高增益有源区,包括至少一个量子阱垒层,所述量子阱垒层包括层叠的垒层和阱层,所述垒层包括依次层叠的未掺杂第一垒层、P型掺杂第二垒层和未掺杂第三垒层,所述P型掺杂第二垒层远离所述阱层设置。可选的, ...
【技术保护点】
1.一种高增益有源区,包括至少一个量子阱垒层,所述量子阱垒层包括层叠的垒层和阱层,其特征在于,所述垒层包括依次层叠的未掺杂第一垒层、P型掺杂第二垒层和未掺杂第三垒层,所述P型掺杂第二垒层远离所述阱层设置。/n
【技术特征摘要】
1.一种高增益有源区,包括至少一个量子阱垒层,所述量子阱垒层包括层叠的垒层和阱层,其特征在于,所述垒层包括依次层叠的未掺杂第一垒层、P型掺杂第二垒层和未掺杂第三垒层,所述P型掺杂第二垒层远离所述阱层设置。
2.根据权利要求1所述的高增益有源区,其特征在于,所述P型掺杂第二垒层包括依次层叠的低掺第一子层、高掺第二子层和低掺第三子层。
3.根据权利要求1所述的高增益有源区,其特征在于,所述量子阱垒层的数量为1-5个。
4.根据权利要求1所述的高增益有源区,其特征在于,所述量子阱垒层的数量为3个。
5.根据权利要求1所述的高增益有源区,其特征在于,所述量子阱垒层的数量为多个。
6.根据权利要求1所述的高增益有源区,其特征在于,所述垒层为AlGaAs垒层,所述未掺杂第一垒层、P型掺杂第二垒层和未掺杂第三垒层的厚度分别为1-5nm。
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【专利技术属性】
技术研发人员:田宇,杜石磊,韩效亚,吴真龙,
申请(专利权)人:厦门乾照半导体科技有限公司,
类型:新型
国别省市:福建;35
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