本发明专利技术提供的一种芯片引脚共面性检测装置，包括机架、工作台、检测机构、料盘、料盘定位机构和芯片搬运机构，料盘用于放置芯片，料盘设于工作台上；料盘定位机构设于料盘的周边，用于定位料盘的侧面；芯片搬运机构设于料盘的上方，包括XYZ移动组件和取放组件，取放组件与XYZ移动组件连接，XYZ移动组件用于带动取放组件将芯片放置于料盘内。本发明专利技术通过设置料盘定位机构能够实现料盘在工作台上的定位，能够避免由于料盘偏斜引起的检测偏差；通过设置芯片搬运机构，能够实现芯片自动化搬运至料盘上，自动化程度高，避免搬运中损坏芯片。
A coplanarity detection device for chip pins
【技术实现步骤摘要】
一种芯片引脚共面性检测装置
本专利技术属于集成电路检测设备
，特别是涉及一种芯片引脚共面性检测装置。
技术介绍
芯片引脚共面性是指表面组装元器件引脚垂直高度偏差，即引脚的最高脚底所成水平面与最低引脚的脚底形成的水平面之间的垂直距离。在电路板表面贴装生产工艺中，为保证贴装质量，贴装工艺对引脚的共面性提出了相当高的要求，当引脚共面性超过某一范围时，器件的某些引脚跟印刷电路板焊盘的表面不能紧密接触，可能导致虚焊、漏焊和虚接等缺陷，因此芯片引脚共面性是影响线路板组装质量的一个重要因素。现有技术中存在芯片引脚共面性检测的相关设备，但是多由人工取放芯片，极易引起芯片的损坏，且放置芯片的料盘缺少定位机构，料盘的放置易倾斜，影响成像，最终影响引脚共面性的检测结果。
技术实现思路
为解决上述技术问题，本专利技术提供一种芯片引脚共面性检测装置，能够自动取放芯片，避免芯片损坏，能够定位料盘，提高检测结果精确度。一种芯片引脚共面性检测装置，包括机架，所述机架上设有工作台，所述工作台上设有检测机构，还包括：料盘，所述料盘用于放置芯片，所述料盘设于所述工作台上；料盘定位机构，所述料盘定位机构设于所述料盘的周边，用于定位所述料盘的侧面；芯片搬运机构，所述芯片搬运机构设于所述料盘的上方，包括XYZ移动组件和取放组件，所述取放组件与所述XYZ移动组件连接，所述XYZ移动组件用于带动所述取放组件将所述芯片放置于所述料盘内。以上技术方案优选的，所述XYZ移动组件包括前后平移组件、左右平移组件和上下平移组件，所述前后平移组件的固定端设于所述机架上，所述前后平移组件的移动端与所述左右平移组件的固定端连接，所述左右平移组件的移动端与所述上下平移组件的固定端连接，所述上下平移组件的移动端与所述取放组件连接。以上技术方案优选的，所述取放组件包括吸盘、空心转轴和回转式快换接头，所述空心转轴安装于所述上下平移组件的移动端，所述空心转轴沿轴向中空，所述空心转轴的下端与所述吸盘连接，所述空心转轴的上端与所述回转式快换接头连接。以上技术方案优选的，所述空心转轴能够在所述上下平移组件的移动端上转动，所述芯片搬运机构还包括芯片位置调整组件，所述芯片位置调整组件包括电机和传动结构，所述传动结构用于将所述电机的转动转换为所述空心转轴的转动。以上技术方案优选的，所述料盘呈长方形，所述料盘定位机构包括第一定位组件、第二定位组件和第三定位组件，所述第一定位组件包括L型定位块，所述L型定位块安装在所述工作台上，且用于定位所述料盘的第一侧面和第二侧面，所述第二定位组件设于所述第一定位组件的一侧，用于定位所述料盘的第二侧面和第三侧面，所述第三侧面与所述第一侧面为相对的侧面，所述第三定位组件设于所述工作台上，用于定位所述第四侧面。以上技术方案优选的，所述第二定位组件包括底架、压杆和弹性件，所述底架包括底板和垂直连接于所述底板两端的竖直板，所述压杆呈L型，所述压杆的一端穿过所述竖直板，所述压杆的另一端设有阶梯形的定位面，所述弹性件套设于所述压杆上，所述弹性件的一端与所述竖直板连接，所述弹性件的另一端与所述压杆连接。以上技术方案优选的，所述压杆远离所述定位面的一端设有垂直于所述工作台的把手。以上技术方案优选的，所述第三定位组件包括安装套和连杆，所述安装套设于所述工作台上，所述安装套上设有连接孔，所述连接孔的轴线与所述第四侧面垂直，所述连杆的一端穿过所述连接孔，所述连杆的一端设有磁铁，所述连杆的另一端设有操作球，所述操作球的外形尺寸大于所述连接孔的孔径。以上技术方案优选的，所述传动结构为带传动结构，包括主动带轮、从动带轮和传动带，所述主动带轮与所述电机的电机轴连接，所述空心转轴与所述从动带轮的中心孔连接，所述传动带用于连接所述主动带轮和从动带轮。以上技术方案优选的，所述上下平移组件上设有垫块和带座轴承座，所述空心转轴的下端依次穿过所述从动带轮和垫块与所述吸盘连接，所述空心转轴的上端与所述回转式快换接头连接，所述回转式快换接头的回转部穿过所述带座轴承座。本专利技术具有的优点和积极效果是：本专利技术提供的一种芯片引脚共面性检测装置，包括机架、工作台、检测机构、料盘、料盘定位机构和芯片搬运机构，通过设置料盘定位机构能够实现料盘在工作台上的定位，能够避免由于料盘偏斜引起的检测偏差；通过设置芯片搬运机构，能够实现芯片自动化搬运至料盘上，自动化程度高，避免搬运中损坏芯片。附图说明图1是本专利技术一实施例所提供的芯片引脚共面性检测装置的主视图；图2是本专利技术一实施例所提供的芯片引脚共面性检测装置的俯视图；图3是本专利技术一实施例所提供的芯片引脚共面性检测装置的左视图；图4是图1中圆圈处的局部放大图；图5是本专利技术一实施例所提供的第二定位组件的结构示意图；图6是本专利技术一实施例所提供的第三定位组件的结构示意图。其中：1、机架；2、工作台；3、镜头；4、CCD相机；5、料盘；6、第一电缸；7、第一导轨；8、第二电缸；9、第三电缸；10、吸盘；11、空心转轴；12、回转式快换接头；13、电机；14、主动带轮；15、从动带轮；16、垫块；17、带座轴承座；18、L型定位块；19、第一侧面；20、第二侧面；21、第三侧面；22、第四侧面；23、底板；24、竖直板；25、压杆；26、弹簧；27、把手；28、安装套；29、连杆；30、磁铁；31、操作球；32、定位面。具体实施方式需要说明的是，在不冲突的情况下，本专利技术中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。在本专利技术的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”等的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本专利技术的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。在本专利技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以通过具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本专利技术。本专利技术一实施例提供一种芯片引脚共面性检测装置，如图1-6所示，包括机架1，机架1上设有工作台2，工作台2上设有检测机构，检测机构包括镜头3和CCD相机4；检测时，被放置在工作台本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种芯片引脚共面性检测装置，包括机架，所述机架上设有工作台，所述工作台上设有检测机构，其特征在于，还包括：/n料盘，所述料盘用于放置芯片，所述料盘设于所述工作台上；/n料盘定位机构，所述料盘定位机构设于所述料盘的周边，用于定位所述料盘的侧面；/n芯片搬运机构，所述芯片搬运机构设于所述料盘的上方，包括XYZ移动组件和取放组件，所述取放组件与所述XYZ移动组件连接，所述XYZ移动组件用于带动所述取放组件将所述芯片放置于所述料盘内。/n
【技术特征摘要】
1.一种芯片引脚共面性检测装置，包括机架，所述机架上设有工作台，所述工作台上设有检测机构，其特征在于，还包括：
料盘，所述料盘用于放置芯片，所述料盘设于所述工作台上；
料盘定位机构，所述料盘定位机构设于所述料盘的周边，用于定位所述料盘的侧面；
芯片搬运机构，所述芯片搬运机构设于所述料盘的上方，包括XYZ移动组件和取放组件，所述取放组件与所述XYZ移动组件连接，所述XYZ移动组件用于带动所述取放组件将所述芯片放置于所述料盘内。
2.根据权利要求1所述的芯片引脚共面性检测装置，其特征在于，所述XYZ移动组件包括前后平移组件、左右平移组件和上下平移组件，所述前后平移组件的固定端设于所述机架上，所述前后平移组件的移动端与所述左右平移组件的固定端连接，所述左右平移组件的移动端与所述上下平移组件的固定端连接，所述上下平移组件的移动端与所述取放组件连接。
3.根据权利要求2所述的芯片引脚共面性检测装置，其特征在于：所述取放组件包括吸盘、空心转轴和回转式快换接头，所述空心转轴安装于所述上下平移组件的移动端，所述空心转轴沿轴向中空，所述空心转轴的下端与所述吸盘连接，所述空心转轴的上端与所述回转式快换接头连接。
4.根据权利要求3所述的芯片引脚共面性检测装置，其特征在于：所述空心转轴能够在所述上下平移组件的移动端上转动，所述芯片搬运机构还包括芯片位置调整组件，所述芯片位置调整组件包括电机和传动结构，所述传动结构用于将所述电机的转动转换为所述空心转轴的转动。
5.根据权利要求1所述的芯片引脚共面性检测装置，其特征在于：所述料盘呈长方形，所述料盘定位机构包括第一定位组件、第二定位组件和第三定位组件，所述第一定位组件包括L型定位块，所述L型定位块安装在所述工作台上，且...
【专利技术属性】
技术研发人员：翁晓云，刘今越，翁黎明，
申请(专利权)人：天门进保天津科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：天津;12
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。