一种生成用于测量共相误差的数字式色散条纹的装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种生成用于测量共相误差的数字式色散条纹的装置及方法，该装置由拼接式光学系统(1)、准直透镜(2)、可调谐滤光片(3)、掩模模板(4)、微透镜阵列(5)、探测器(6)及计算机(7)组成。利用该装置，连续线性地改变可调谐滤光片的透射波长，并依次存储探测器上的光斑阵列。该方法包括：首先，从每幅光斑阵列中截取对应拼缝的光斑；然后，将对应该拼缝的所有截取光斑沿平行于拼缝的方向累加，得到一维光强分布；最后，将获得的全部一维光强分布按照对应调谐波长的大小顺序，依序并排堆叠，即可获得数字式色散条纹。本发明专利技术公开装置及方法避免了对色散元件的依赖，克服了条纹串扰问题，可一次性测量全部拼缝对应共相误差，效率高，操作便捷，创新性强。

A device and method for generating digital dispersion fringes for measuring common phase errors

【技术实现步骤摘要】
一种生成用于测量共相误差的数字式色散条纹的装置及方法
本专利技术属光电测量
，涉及一种生成用于测量共相误差的数字式色散条纹的装置及方法，适用于拼接式光学系统中拼接子镜平移误差的大量程快速检测。
技术介绍
目前，传统单镜面式光学系统受到镜面加工技术、大口径光学元件检测技术、面型控制技术、地面运输或火箭运载能力及成本等方面的限制而遭遇技术瓶颈。拼接式光学系统采用诸多小尺寸的反射镜，通过共面拼接，可获得与大口径光学镜面等效的成像效果，从根本上解决了单镜面大口径系统所面临的问题。从上世纪90年代开始，包括已运营的KECK、SALT、HET、GTC、LAMOST等，及下一代甚大望远镜，包括E-ELT、TMT、JWST、ATLAST等均采用拼接式镜面。然而，伴随而来的各子镜间共面误差的检测及控制技术更具挑战性。影响拼接镜成像质量的共面误差主要包括倾斜误差及平移误差，本
技术实现思路
将聚焦于平移误差的探测。目前，平移误差的探测方法分为两类，分别为基于远场像的传感方法及基于专用硬件的传感方法。不论哪类方案，单色光照明下最高仅能测量±λ/4的平移误差本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种生成用于测量共相误差的数字式色散条纹的装置，其特征在于：由拼接式光学系统(1)、准直透镜(2)、可调谐滤光片(3)、掩模模板(4)、微透镜阵列(5)、探测器(6)及计算机(7)组成；拼接式光学系统(1)的像方焦点与准直透镜(2)的物方焦点重合，可调谐滤光片(3)、掩模模板(4)及微透镜阵列(5)依次位于准直透镜(2)之后，探测器(6)位于微透镜阵列焦平面上。/n

【技术特征摘要】
1.一种生成用于测量共相误差的数字式色散条纹的装置，其特征在于：由拼接式光学系统(1)、准直透镜(2)、可调谐滤光片(3)、掩模模板(4)、微透镜阵列(5)、探测器(6)及计算机(7)组成；拼接式光学系统(1)的像方焦点与准直透镜(2)的物方焦点重合，可调谐滤光片(3)、掩模模板(4)及微透镜阵列(5)依次位于准直透镜(2)之后，探测器(6)位于微透镜阵列焦平面上。


2.根据权利要求1所述的一种生成用于测量共相误差的数字式色散条纹的装置，其特征在于：从拼接式光学系统(1)出射的汇聚光经准直透镜(2)变为准直光束，后经可调谐滤光片(3)的滤光及掩模模板(4)上的子孔径采样，经微透镜阵列(5)汇聚于探测器(6)，并由计算机(7)存储由探测器(6)记录的像。


3.根据权利要求1所述的一种生成用于测量共相误差的数字式色散条纹的装置，其特征在于：准直透镜(2)为消色差透镜，以确保经准直透镜(2)变换后的光束能够保持足够高的准直度。


4.根据权利要求1所述的一种生成用于测量共相误差的数字式色散条纹的装置，其特征在于：可调谐滤光片(3)有足够宽的调谐范围，且对每个调谐的波长均具有较窄线宽的特点。


5.根据权利要求1所述的一种生成用于测量共相误差的数字式色散条纹的装置，其特征在于：掩模模板(4)上包含众多用于采样对应相邻子镜拼缝处拼接波前的子孔径...

【专利技术属性】
技术研发人员：张永峰，鲜浩，
申请(专利权)人：中国科学院光电技术研究所，
类型：发明
国别省市：四川;51