【技术实现步骤摘要】
一种传感器及传感器多点变形同步检测方法
本专利技术涉及工程监测
,尤其是涉及一种传感器及传感器多点变形同步检测方法。
技术介绍
现阶段工程变形监测方法主要有水准测量、静力水准测量、全站仪测量、卫星导航定位测量。水准测量是在被测物体(点)上立好专用标尺,水准仪通过读取标尺来获取被测物体(点)的高程值,通过本次高程值与前面高程值的差值计算获得被测物体(点)的沉降值。水准测量仅能用于沉降监测,不可对水平位移进行监测。静力水准测量由1个参考点和多个监测点组成。监测点随被测物体上升或者下沉,通过参考点与监测点水压不同而换算出不同的测点沉降值。静力水准测量仅能用于沉降监测,不可对水平位移进行监测。全站仪测量可应用于沉降监测与水平位移监测,全站仪通过设备发出一束光束,到达物体表面或反射面后反射回设备接收器,根据光的传播时间和光的速度得到全站仪与监测点的距离,在通过水平角度与垂直角度获取被测物体(点)的两方位角,得出该测点的坐标值,通过本次测量与前面测量的坐标值可以得出被测物体(点)的水平变化与沉降变化。全站仪测量方法仅能单次单点测量 ...
【技术保护点】
1.一种传感器,其特征在于,包括:外框架、支撑架、第一刻度盘、第二刻度盘、反射物、水平调节装置和竖直调节装置,所述支撑架连接所述外框架一端面,所述第一刻度盘和所述第二刻度盘设置在所述外框架相邻的两侧面,所述反射物设置在所述外框架内,所述水平调节装置和所述竖直调节装置设置在所述外框架内,调节所述反射物的角度,使从所述第一刻度盘入射的光能够从所述第二刻度盘反射出。/n
【技术特征摘要】
1.一种传感器,其特征在于,包括:外框架、支撑架、第一刻度盘、第二刻度盘、反射物、水平调节装置和竖直调节装置,所述支撑架连接所述外框架一端面,所述第一刻度盘和所述第二刻度盘设置在所述外框架相邻的两侧面,所述反射物设置在所述外框架内,所述水平调节装置和所述竖直调节装置设置在所述外框架内,调节所述反射物的角度,使从所述第一刻度盘入射的光能够从所述第二刻度盘反射出。
2.根据权利要求1所述的传感器,其特征在于,所述外框架与所述支撑架之间设置有活动球节点。
3.根据权利要求1所述的传感器,其特征在于,所述竖直调节装置包括水平杆和竖直杆,所述竖直杆连接所述外框架,所述水平杆设置在所述竖直杆上且能够沿所述竖直杆滑动,所述反射物设置在所述水平杆上。
4.根据权利要求3所述的传感器,其特征在于,所述水平杆和所述竖直杆垂直相交。
5.根据权利要求3所述的传感器...
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