【技术实现步骤摘要】
一种智能化探针测试平台
本技术涉及一种智能化探针测试平台。
技术介绍
在电子产品生产和测试领域，PCBA的电路通断测试和电子功能测试，需要进行扎针上电并获取产品的电子信号。针对测试行业的探针结构、老化测试机台、探针模组结构等，均有一批专利描述，利用探针接触待测产品进行电阻值测量的专用模组和设备，如一种探针寿命测试仪CN201620605608.1、探针测试装置CN02200491.2，探针使用寿命测试机CN201720702677.9以及集成电路测试探针卡的结构CN200810304545.6等。传统探针测试平台注重结构设计，针对智能设备式的控制、测试、数据采集与分析并无针对性设计。传统探针测试专利多针对探针结构、探针模组结构设计，该类创新保证了运动和扎针配合的精密性，但该类设备仅面向半自动或自动化测试要求。同时传统测试结构多用于电子产品电路板通断测试或电阻测试，测试功能相对较单一。传统探针测试设备均只能作离线数据分析，对数据分析的功能过于单一，分析结果依赖于其他数据处理软件。传统探针测试设备并未注重数据采集与分析层...
【技术保护点】
1.一种智能化探针测试平台，其特征在于：它包括测试控制箱体（1）、测试支撑架（2）、往复接触测试机构以及测试夹具（4），所述测试支撑架（2）竖直设置在所述测试控制箱体（1）上，所述往复接触测试机构设置在所述测试支撑架（2）上，所述测试夹具（4）设置在所述测试控制箱体（1）上并置于所述往复接触测试机构的下方，所述测试控制箱体（1）内设置有数据分析与控制中心，所述往复接触测试机构以及所述测试夹具（4）分别与所述数据分析与控制中心相连接。/n
【技术特征摘要】
1.一种智能化探针测试平台，其特征在于：它包括测试控制箱体（1）、测试支撑架（2）、往复接触测试机构以及测试夹具（4），所述测试支撑架（2）竖直设置在所述测试控制箱体（1）上，所述往复接触测试机构设置在所述测试支撑架（2）上，所述测试夹具（4）设置在所述测试控制箱体（1）上并置于所述往复接触测试机构的下方，所述测试控制箱体（1）内设置有数据分析与控制中心，所述往复接触测试机构以及所述测试夹具（4）分别与所述数据分析与控制中心相连接。
2.根据权利要求1所述的一种智能化探针测试平台，其特征在于：所述往复接触测试机构包括步进电机（31）、曲柄连杆（32）、升降滑动块（33）以及探针压板（34），所述步进电机（31）固定设置在所述测试支撑架（2）的背面，所述曲柄连杆（32）的转动端通过联轴器与所述步进电机（31）的输出端相连接并置于所述测试支撑架（2）的正面，所述测试支撑架（2）的正面竖直设置有竖直滑轨（21），所述升降滑动块（33）适配滑动设置在所述竖直滑轨（21）上并与所述曲柄连杆（32）的末端相连接，所述探针压板（34）固定设置在所述升降滑动块（33）的底部，所述探针压板（34）的底部设置有探针测试模组，所述步进电机（31）以及所述探针测试模组分别与...
【专利技术属性】
技术研发人员：邓章，
申请(专利权)人：珠海达明科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44
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