一种探针式电测机制造技术

技术编号:24144524 阅读:61 留言:0更新日期:2020-05-13 16:38
本实用新型专利技术公开了一种探针式电测机,包括测试头以及升降机构,所述测试头包括探针以及用于固定探针的冶具基板,所述升降机构驱动探针下压;所述探针式电测机还包括控制器,所述控制器与升降机构连接,所述探针在控制器的控制下具有多个工作位置。本实用新型专利技术的探针式电测机,探针在控制器的控制下具有多个工作位置,可以使探针移动初始下压量至第一工作位置进行第一次测试,以保证大部分产品正常测试且不会对产品造成损伤。对未通过初次测试的产品,将探针继续下压一定调整位移后,再进行第二次测试。以此来避免一次性的测试,对产品造成扎伤或者误判。

A probe type electric measuring machine

【技术实现步骤摘要】
一种探针式电测机
本技术涉及电子产品测试设备
,尤其涉及一种探针式电测机。
技术介绍
目前探针式电测机多用于电子产品的线路的电测,以方便能够及时检测出不良,从而提高良率,降低成本损耗。由于其使用探针进行测试,因而其对探针头的平整度以及电测机的测试台面要求度极高。否则在调试时为了使所有待测产品能够与测试头接触则会加大下压量,此时极易对待测产品造成扎伤。当待测产品为一种OGS结构触摸屏时,这种情况尤为明显。反之,如果下压量不够,容易造成合格产品的误判。
技术实现思路
本技术针对以上问题,提出了一种探针式电测机,包括测试头以及升降机构,所述测试头包括探针以及用于固定探针的冶具基板,所述升降机构驱动探针下压;所述探针式电测机还包括控制器,所述控制器与升降机构连接,所述探针在控制器的控制下具有多个工作位置。优选地,所述探针在升降机构的驱动下至少具有第一工作位置和第二工作位置,所述探针在第一工作位置时的高度大于所述探针在第二工作位置时的高度。优选地,所述探针式电测机包括测试台面,所述测试台面具有高度不同的多个区域;所述本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种探针式电测机,包括测试头以及升降机构,所述测试头包括探针以及用于固定探针的冶具基板,所述升降机构驱动探针下压;其特征在于,所述探针式电测机还包括控制器,所述控制器与升降机构连接,所述探针在控制器的控制下具有多个工作位置。/n

【技术特征摘要】
1.一种探针式电测机,包括测试头以及升降机构,所述测试头包括探针以及用于固定探针的冶具基板,所述升降机构驱动探针下压;其特征在于,所述探针式电测机还包括控制器,所述控制器与升降机构连接,所述探针在控制器的控制下具有多个工作位置。


2.如权利要求1所述的探针式电测机,其特征在于,所述探针在升降机构的驱动下至少具有第一工作位置和第二工作位置,所述探针在第一工作位置时的高度大于所述探针在第二工作位置时的高度。


3.如权利要求2所述的探针式电测机,其特征在于,所述探针式电测机包括测试台面,所述测试台面具有高度不同的多个区域;所述冶具基板包括多个固定板,多个固定板分别对应于测试台面高度不同的多个区域;所述探针式电测机还包括多个驱动部件,多个固定板都分别连接独立的驱动部件;所...

【专利技术属性】
技术研发人员:张杰朱雁曾一鑫
申请(专利权)人:信利光电股份有限公司
类型:新型
国别省市:广东;44

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