用于面团的测量装置制造方法及图纸

技术编号:24095388 阅读:28 留言:0更新日期:2020-05-09 10:04
本实用新型专利技术提供一种用于面团的测量装置,包括:一板、一限制部件及一挤压部件。板具有用于承载一待测物的一第一承载面;限制部件设于板上并与板定义一用于容置待测物的第一容置空间;挤压部件具有一用于承载一重力部件的第二承载面,以及自该第二承载面反向延伸的一挤压头,该挤压头配置成与第一容置空间的形状和尺寸相配合,挤压部件的至少一部分能容置于第一容置空间中以挤压待测物。本实用新型专利技术提供了一种用于面团的测量装置,其无需供电即可根据测量需求选择挤压的程度以及待测物变形的阻力,克服了电子式装置的限制,为测量提供其它的可用性。

Measuring device for dough

【技术实现步骤摘要】
用于面团的测量装置
本技术关于一种测量装置,尤其有关于食用面团的一种用于面团的测量装置。
技术介绍
食品质地在食品物理分析与评估上已被广泛用来表示食品的组织状态及口感。通过对食品质地特性的评估与检测,有助于改善产品设计与生产流程、原料或配方调整、控制储存安定性及产品品质、新产品开发、以及产品定位与商业竞争等。食品质地的评估方法可分为两种。第一种为感官分析方法,其借助人体的感官观察与反应串连,通过食品拿取、摄食过程,产生肌肉收缩与力量变化的触觉,进而评估产品的质地特性。该方法属于主观判断,由于人类个体间反应感知具有差异,不易获得精确及重复性的结果。另一种方法则是运用仪器测量食品和原料在力的作用下产生变形的状况,分析样品的力学行为,通过力与位移参数的取得,作为食品质地特性的指标,属于客观的分析方法。目前质地分析仪已在食品研究领域广泛应用,其设备元件包括主机、电脑及各式探头,主机由机座、传动系统和传感器等组成。通过电脑程序控制操作,通过专用软件运算,收集实验数据,获得变形、时间、作用力数值及测试图谱,由此评估食品质地特性。由于质地分析仪含传感器及数据采集系统,须符合特定电源及空间需求等实验室环境下操作及使用,不适合移动及携带。已知的手持式硬度计具有携带方便,可即时、线上量测的优点。然而不论食品及化工材料专用手持式硬度计均具有探头面积偏小,测量范围受限、适用特定样品的缺点,不适用于面团的测量。因此,有必要专利技术一种针对面团且没有电子式测量装置使用限制的测量装置。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种用于面团的测量装置,以解决无需电子式测量即可达到对待测物进行测量的目的。该用于面团的测量装置包括:一板,具有用于承载一待测物的一第一承载面;一限制部件,设于所述板上并与所述板定义一第一容置空间,所述第一容置空间用于容置所述待测物;及一挤压部件,具有一第二承载面,所述第二承载面用于承载一重力部件,以及自所述第二承载面反向延伸的一挤压头,所述挤压头配置成与所述第一容置空间的形状和尺寸相配合,所述挤压部件的至少一部分能容置于所述第一容置空间中以挤压所述待测物。在一具体实施例中,所述板形成有多个孔,所述多个孔贯穿所述板。在一具体实施例中,所述用于面团的测量装置还包括一用于支撑所述板的底座。在一具体实施例中,所述多个孔中的每一个孔的直径均为4.00mm至8.00mm。在一具体实施例中,所述挤压头具有一挤压面,所述多个孔的总截面积与所述挤压面的面积的比值为40.00%至70.38%。在一具体实施例中,所述多个孔为二十八个孔的排列结构,其中四个孔分布于所述排列结构的一最内径位置处,而其中十六个孔分布于所述排列结构的一最外径位置处。在一具体实施例中,所述多个孔为二十一个孔的排列结构,其中一个孔分布于所述排列结构的中心,而其中十三个孔分布于所述排列结构的一最外径位置处。在一具体实施例中,所述多个孔为四十八个孔的排列结构,所述多个孔根据一六边形定义的区域排列,其中三个孔围绕所述排列结构的中心设置。在一具体实施例中,所述多个孔为三十七个孔的排列结构,其中一个孔分布于所述排列结构的中心,各所述孔的直径均为4.5mm、5mm或5.5mm。在一具体实施例中,所述挤压头形成有用于指示所述挤压部件与所述限制部件的相对位置的标记部。本技术的用于面团的测量装置的特点及优点是:1、本技术的用于面团的测量装置,可根据测量需求选择挤压的程度以及待测物变形的阻力(孔的尺寸,如单孔截面积、多个孔的总截面积或排列形式等),克服了电子式装置的限制,为测量提供其它的可用性。2、本技术的用于面团的测量装置,至少可得到下列统计信息,包含:不同挤压程度对于待测物变形程度的影响、不同挤压程度对不同质地的待测物(如含水量不同的面团)的影响统计、不同挤压时间对于待测物变形程度的影响、不同含水量对于待测物变形程度的影响、不同测量时间对于待测物变形程度的影响等,据此建立可参考的统计信息。附图说明参照下列附图与说明,可更进一步理解本技术。非限制性与非穷举性实例是参照下列附图而描述。在附图中的构件并非必须为实际尺寸;重点在于说明结构及原理。图1是本技术一种用于面团的测量装置的结构爆炸图;图2是本技术一种用于面团的测量装置(包含面团)的使用状态图;图3A和图3B分别是本技术一种用于面团的测量装置的第一使用状态图和第二使用状态图,尤其局部显示刻度的变化;图4A至图4D分别是本技术一种用于面团的测量装置的可选择更换部件的结构图。附图标记说明:10、测量装置;101、底座;101a、框;101b、柱;101c、连接部件;101d、容置空间;101e、肩部;101f、螺纹孔;101g、螺丝;102、板;102a、第一承载面;102b、孔;103、限制部件;104、挤压部件;104a、第二承载面;104b、挤压头;104c、挤压面;104d、环;104e、标记部;200、砝码;D、待测物。具体实施方式下面将参考附图更完整说明本技术,并且通过示例显示特定的具体实施例。不过,本技术请求保护的主题可具体实施于许多不同形式,因此所涵盖或请求保护的内容并不受限于本说明书所披露的任何具体实施例;该具体实施例仅为示例性说明。同样,本技术在于为请求保护的主题提供合理的保护范围。除此之外,例如请求保护的主题可具体实施为装置或系统。本说明书内使用的词汇“在一实施例”并不必要参照相同具体实施例,且本说明书内使用的“在其它(一些/某些)实施例”并不必要参照不同的具体实施例。其目的在于例如请求保护的主题包括全部或部分具体实施例的组合。图1显示本技术用于面团(或与面团相似的原料)的测量装置10的各个主要部件,包括一底座101、一板102、一限制部件103及一挤压部件104。本技术所指面团是指面团或类似于面团具有延伸质地的其它待测物D。底座101提供测量装置10的底部支撑,底座101包含一框101a及多个柱101b。这些柱101b将框101a支撑于一高度,且这些柱101b还可通过连接部件101c相接以加强底座101的结构或调整底座101的重心。框101a形成有一容置空间101d,其配置成使框101a的上方和下方相连通(图中未示)。框101a的容置空间101d用于收容板102,且框101a的内侧还形成有肩部101e,用以为收容于框101a中的板102提供支撑。虽然显示的框101a的形状和其容置空间101d的形状为矩形,但也可以是圆形或其它形状。板102具有用于承载一待测物D的第一承载面102a,该待测物D例如为面团。板102的厚度应足够大以承受上方的挤压重力而不变形,例如,板102的厚度约为5.2mm。板102的形状和尺寸经适当选择以便放置于底座101的容置空间101d中本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于面团的测量装置,其特征在于,包括:/n一板,具有用于承载一待测物的一第一承载面;/n一限制部件,设于所述板上并与所述板定义一第一容置空间,所述第一容置空间用于容置所述待测物;及/n一挤压部件,具有一第二承载面,所述第二承载面用于承载一重力部件,以及自所述第二承载面反向延伸的一挤压头,所述挤压头配置成与所述第一容置空间的形状和尺寸相配合,所述挤压部件的至少一部分能容置于所述第一容置空间中以挤压所述待测物。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于面团的测量装置,其特征在于,包括:
一板,具有用于承载一待测物的一第一承载面;
一限制部件,设于所述板上并与所述板定义一第一容置空间,所述第一容置空间用于容置所述待测物;及
一挤压部件,具有一第二承载面,所述第二承载面用于承载一重力部件,以及自所述第二承载面反向延伸的一挤压头,所述挤压头配置成与所述第一容置空间的形状和尺寸相配合,所述挤压部件的至少一部分能容置于所述第一容置空间中以挤压所述待测物。


2.根据权利要求1所述的用于面团的测量装置,其特征在于,所述板形成有多个孔,所述多个孔贯穿所述板。


3.根据权利要求1所述的用于面团的测量装置,其特征在于,所述用于面团的测量装置还包括一用于支撑所述板的底座。


4.根据权利要求2所述的用于面团的测量装置,其特征在于,所述多个孔中的每一个孔的直径均为4.00mm至8.00mm。


5.根据权利要求2所述的用于面团的测量装置,其特征在于,所述挤压头具有一挤压面,所述多个孔的总截面积与所述挤压面的面积的比值为4...

【专利技术属性】
技术研发人员:翁丽华王怡晶
申请(专利权)人:财团法人食品工业发展研究所
类型:新型
国别省市:中国台湾;71

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