一种半导体分立器件的半自动检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种半导体分立器件的半自动检测装置，属于半导体分立器件的封装检测设备领域。包括工作台、放大镜、卷盘、过渡辊和支撑辊，所述工作台包括中间的检测台面，以及和检测台面一体相连的左侧的放卷架与右侧的收卷架，所述放卷架和收卷架上分别设有卷轴，所述卷盘安装在卷轴上，卷轴一端设有马达驱动，所述过渡辊安装在检测台面侧面的拐角处，所述放大镜位于检测台面中部，支撑辊安装在放大镜两侧；本实用新型专利技术通过两侧的马达独立控制左侧的卷盘自动放卷和右侧卷盘自动收卷，使得半导体分立器件的编带放卷、收卷方便，提高了检测效率，而且由支撑辊支撑编带位于放大镜下方的高度一致，确保了检测准确度。

A semi-automatic detection device for semiconductor discrete devices

【技术实现步骤摘要】
一种半导体分立器件的半自动检测装置
本技术属于半导体分立器件的封装检测设备领域，具体涉及一种半导体分立器件的半自动检测装置。
技术介绍
在半导体分立器件制造行业中，一般地分立器件都是采用编带封装。在封装前，需要对编带及其贮格内的分立器件外观进行100%检测是否合格。例如器件的引脚错位、镀层脱落、引脚毛刺、主体不良、印字不良、编带不良等等现象。现有企业中采用人工目测的方法检测，将器件产品编带好放到放大镜下面进行检测，挑出不良的部分并补齐良品，然后将检测后的编带放到卷盘中人工收卷。这种方法虽然检测成本低，但是人力劳动强度大，检测效率低下，工作中，编带放置散乱，而且人工将编带放置到放大镜的下方高度无法保持一致，无法确保检测准度，易出错。
技术实现思路
针对现有技术中缺陷与不足的问题，本技术提出了一种半导体分立器件的半自动检测装置，通过两侧的马达独立控制左侧的卷盘自动放卷和右侧卷盘自动收卷，使得半导体分立器件的封装编带放卷、收卷方便，提高了检测效率，而且由支撑辊支撑编带位于放大镜下方的高度一致，确保了检测准确度。本技术解决其技术问题所采用的技术方案为：一种半导体分立器件的半自动检测装置,包括工作台、放大镜、卷盘、过渡辊和支撑辊，所述工作台包括中间的检测台面，以及和检测台面一体相连的左侧的放卷架与右侧的收卷架，所述放卷架和收卷架上分别设有卷轴，所述卷盘安装在卷轴上，卷轴一端设有马达驱动，所述过渡辊安装在检测台面侧面的拐角处，所述放大镜位于检测台面中部，支撑辊安装在放大镜两侧。进一步的，所述放卷架和收卷架分别设有置物台和箱座，箱座与检测台面高度平齐。进一步的，所述箱座上设有控制卷盘的操作按钮，操作按钮包括电源开关、调速开关和暂停开关。进一步的，所述马达采用变频马达，马达位于箱座内。进一步的，所述检测台面上设有两挡辊，挡辊布置在左侧的支撑辊右侧且位于编带的两侧。进一步的，所述放大镜通过可调支座固定。进一步的，所述卷盘上设有三个可拆卸的隔环。本技术具有如下有益效果：本技术可同时对两组编带进行检测，放卷、收卷可独立控制，速度可控，操作方便；放大镜通过可调支座对放大镜到编带之间的距离可进行调节，支撑辊使得编带位于放大镜下方高度一致，确保检测准度；挡辊可以防止编带传输过程中跑偏；本技术节省了人力，提高了半导体分立器件的检测效率和准确性。附图说明图1为本技术结构主视图；图2为本技术结构俯视图。具体实施方式下面结合附图对本技术的具体实施方式进行详细说明。如图1所示，一种半导体分立器件的半自动检测装置,包括工作台1、放大镜2、卷盘3、过渡辊4和支撑辊5，所述工作台1包括中间的检测台面11，以及和检测台面11一体相连的左侧的放卷架12与右侧的收卷架13，所述放卷架12和收卷架13上分别设有卷轴31，所述卷盘3安装在卷轴31上，卷轴31一端设有马达32驱动，所述过渡辊4安装在检测台面11侧面的拐角处，所述放大镜2位于检测台面11中部，支撑辊5安装在放大镜2两侧。所述放卷架12和收卷架13分别设有置物台14和箱座15，箱座15与检测台面11高度平齐，确保工作台1的设计更整洁，方便工人检测工作。所述箱座15上设有控制卷盘的操作按钮33，操作按钮33包括电源开关、调速开关和暂停开关，控制操作方便。所述马达32采用变频马达，方便调整卷盘3放卷或收卷的速度。马达32位于箱座15内，起到保护马达15的作用。所述检测台面11上还设有两挡辊51，挡辊51布置在左侧的支撑辊5右侧且位于编带101的两侧，用以防止编带101输送过程中出现跑偏。所述放大镜2通过可调支座固定，可以根据需要调节放大镜2与编带101之间的距离。所述卷盘3上设有三个可拆卸的隔环，用以间隔安装两组编带101，同时进行检测，提高了工作效率。本技术节省了人力，提高了半导体分立器件的检测效率和准确性。以上显示和描述了本技术的基本原理、主要特征和本技术的优点。本技术不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本技术的原理，在不脱离本技术精神和范围的前提下本技术还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本技术的范围内。本技术要求保护范围由所附的权利要求书及其等同物界定。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种半导体分立器件的半自动检测装置，其特征在于为：包括工作台、放大镜、卷盘、过渡辊和支撑辊，所述工作台包括中间的检测台面，以及和检测台面一体相连的左侧的放卷架与右侧的收卷架，所述放卷架和收卷架上分别设有卷轴，所述卷盘安装在卷轴上，卷轴一端设有马达驱动，所述过渡辊安装在检测台面侧面的拐角处，所述放大镜位于检测台面中部，支撑辊安装在放大镜两侧。/n

【技术特征摘要】
1.一种半导体分立器件的半自动检测装置，其特征在于为：包括工作台、放大镜、卷盘、过渡辊和支撑辊，所述工作台包括中间的检测台面，以及和检测台面一体相连的左侧的放卷架与右侧的收卷架，所述放卷架和收卷架上分别设有卷轴，所述卷盘安装在卷轴上，卷轴一端设有马达驱动，所述过渡辊安装在检测台面侧面的拐角处，所述放大镜位于检测台面中部，支撑辊安装在放大镜两侧。


2.如权利要求1所述的一种半导体分立器件的半自动检测装置，其特征在于：所述放卷架和收卷架分别设有置物台和箱座，箱座与检测台面高度平齐。


3.如权利要求2所述的一种半导体分立器件的半自动检测装置，其特征在于：所述箱座上...

【专利技术属性】
技术研发人员：汪良恩，田孝强，
申请(专利权)人：安徽安美半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：安徽;34