一种电脑主板测试治具控制方法技术

本发明专利技术公开了一种电脑主板测试治具控制方法，适用于AT电源与ATX电源，包括以下步骤：A1、上电，治具进入等待状态；A2、判断是否进行参数设定，若是，进入下一步，若否，转A4；A3、选择工作模式，在各模式下进行参数设定，转A5；A4、调用已存储参数；A5、进入工作状态。本申请通过对于不同的主板电源，分别设置各自的测试参数，同时记录开关机次数、及开机成功与失败的次数，实现对电脑主板的开关机次数与寿命的测试，对不同的主机电源选择不同的工作模式，保证的测试治具控制的通用性。

A control method of computer mainboard test fixture

【技术实现步骤摘要】
一种电脑主板测试治具控制方法
本专利技术涉及电脑主板测试
，尤其是涉及一种电脑主板测试治具控制方法。
技术介绍
目前电脑主板在完成后都要进行测试，以确保主板的运行正常，对于主板的测试包括功能测试治具2.ict测试治具3.BGA测试治具，其中，ICT测试治具即IntegratedCircuitTester集成电路测试仪器治具的缩写，就是在线检测、测试治具。是对在线元器件的电性能及电气连接进行测试来检查生产制造缺陷及元器件不良的一种标准测试设备。功能测试治具是一种用来测试半成品/成品或生产环节中的某一个工序，以此来判断被测对象是否达到了初始设计者目的的机械辅助设备，功能测试治具应用于模拟、数字、存储器、RF和电源电路，针对每一形式需要相对应的功能测试治具。BGA是IC中的一种封装，BGA测试治具是一种IC需要验正是否OK的IC中的一种封装。以上各种测试测试了主板的各种功能，但是，对于主板的寿命长短，主板反复开关机的次数是否能够达到设计要求，也是需要进行测试的，因此，设计对于主板的开关机的测试方法是目前亟待解决的问题。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种电脑主板测试治具控制方法，通过对于不同的主板电源，分别设置各自的测试参数，同时记录开关机次数、及开机成功与失败的次数，实现对电脑主板的开关机次数与寿命的测试。本专利技术的上述专利技术目的通过以下技术方案得以实现：一种电脑主板测试治具控制方法，适用于AT电源与ATX电源，包括以下步骤：A1、上电，治具进入等待状态；A2、判断是否进行参数设定，若是，进入下一步，若否，转A4；A3、选择工作模式，在各模式下进行参数设定，转A5；A4、调用已存储参数；A5、进入工作状态。本专利技术进一步设置为：步骤A3中，包括以下步骤：B1、判断是否为AT模式，若是，进入下一步，若否，转ATX模式；B2、判断是否接收字符串，若是，进入下一步，若否，转B4；B3、设置未确认开机前的暂停参数；B4、设置关机断电时长；B5、设置开机上电时长；B6、设置测试次数设定值；B7、判断是否进入工作状态，若否，进入下一步，若是，转B9；B8、判断是否修改设定参数，若是，转B2，若否，进入下一步；B9、进入AT模式工作状态。本专利技术进一步设置为：ATX模式参数设定，包括以下步骤：C1、判断是否接收字符串，若是，进入下一步，若否，转C3；C2、设置未确认开机前的暂停参数；C3、设置电源键开机保持时间；C4、设置电源键关机保持时间；C5、设置关机断电时长；C6、设置开机上电时长；C7、设置测试次数设定值；C8、判断是否进入工作状态，若否，进入下一步，若是，转C10；C9、判断是否修改设定参数，若是，转C1，若否，进入下一步；C10、进入ATX模式工作状态。本专利技术进一步设置为：设置未确认开机前的暂停参数，是在未确认开机前，是否需要暂停，若需要暂停，则暂停参数设置为是，若不需要暂停，则暂停参数设置为否。本专利技术进一步设置为：在AT模式工作状态，包括以下步骤：D1、接通AC电源；D2、判断是否需要检查开机成功，若是，进入下一步，若否，转D4；D3、判断是否收到开机成功信号，若是，进入下一步，若否，转D5；D4、记录启动次数，更新显示信息，转D7；D5、判断是否需要暂停，若否，进入下一步，若是，转D9；D6、记录失败次数，更新显示信息；D7、关闭PC电源；D8、判断测试次数是否等于测试次数设定值，若否，转D1，若是，进入下一步；D9、暂停。本专利技术进一步设置为：在步骤D1接通AC电源后，保持设定的OS保持时长，再进入到步骤D2；在步骤D7中，关闭PC电源后，保持设定的关机保持时长后，再转D1。本专利技术进一步设置为：在ATX模式工作状态，包括以下步骤：E1、打开电源，电源键开机保持时间等于开机保持时间设定值；E2、判断是否检查开机成功，若是，进入下一步，若否，转E4；E3、判断是否收到开机成功信号，若是，进入下一步，若否，转E5；E4、记录启动次数，更新显示信息，转E7；E5、判断是否需要暂停，若否，进入下一步，若是，转E9；E6、记录失败次数，更新显示信息；E7、关闭电源，关机保持时间等于关机保持时间设定值；E8、判断测试次数是否等于测试次数设定值，若否，转E1，若是，进入下一步；E9、暂停。本专利技术进一步设置为：在步骤E1打开电源后，保护设定的OS保持时长，再进入到步骤E2。本专利技术进一步设置为：收到开机成功信号之后，记录启动时间，即从电源键开机保持时间结束之后到收到开机成功信号之间的时间。本专利技术进一步设置为：采用WIFI、BLUETOOTH远程对治具进行控制，包括在开始工作前进行参数配置；进入工作模式后，获取治具工作状态；控制治具停止、重新进行参数配置、重新开始工作。与现有技术相比，本专利技术的有益技术效果为：1.本申请对不同的主机电源选择不同的工作模式，保证的测试治具控制的通用性；2.进一步地，本申请在不同模式时设置不同的开关机参数，保证了对不同主机电源采用不同开关机方式，实现了主板的区别对待；3.进一步地，本申请通过记录开关机成功与失败次数，实现了对主机开关机寿命的测试，保证主板的使用寿命达到要求；4.进一步地，本申请通过记录开机启动时间，实现了对主板开机时长的统计，保证开机时间满足要求。附图说明图1是本专利技术的一个具体实施例的控制流程示意图；图2是本专利技术的一个具体实施例的AT模式参数设定流程示意图；图3是专利技术的一个具体实施例的ATX模式参数设定流程示意图；图4是本专利技术的一个具体实施例的AT模式工作流程示意图；图5是本专利技术的一个具体实施例的ATX模式工作流程示意图；图6是本专利技术的一个具体实施例的测试治具电路结构示意图；图7是本专利技术的又一个具体实施例的测试治具电路结构示意图；图8是本专利技术的一个具体实施例的AT模式电源电路结构示意图；图9是本专利技术的一个具体实施例的ATX模式电源电路结构示意图。具体实施方式以下结合附图对本专利技术作进一步详细说明。具体实施方式一本专利技术的一种电脑主板测试治具控制方法，如图1所示，包括以下步骤：A1、上电，治具进入等待状态；A2、判断是否进行参数设定，若是，进入下一步，若否，转A4；A3、选择工作模式，在各模式下进行参数设定，转A5；A4、调用已存储参数；A5、进入工作状态。具体地，在治具进入等待状态时，步骤A2中，通过选择是进行参数设定还是选用已存储参数，当选择参数设定时，进入步骤A3，当选本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电脑主板测试治具控制方法，适用于AT电源与ATX电源，其特征在于：包括以下步骤：/nA1、上电，治具进入等待状态；/nA2、判断是否进行参数设定，若是，进入下一步，若否，转A4；/nA3、选择工作模式，在各模式下进行参数设定，转A5；/nA4、调用已存储参数；/nA5、进入工作状态。/n

【技术特征摘要】
1.一种电脑主板测试治具控制方法，适用于AT电源与ATX电源，其特征在于：包括以下步骤：
A1、上电，治具进入等待状态；
A2、判断是否进行参数设定，若是，进入下一步，若否，转A4；
A3、选择工作模式，在各模式下进行参数设定，转A5；
A4、调用已存储参数；
A5、进入工作状态。


2.根据权利要求1所述的电脑主板测试治具控制方法，其特征在于：步骤A3中，包括以下步骤：
B1、判断是否为AT模式，若是，进入下一步，若否，转ATX模式；
B2、判断是否接收字符串，若是，进入下一步，若否，转B4；
B3、设置未确认开机前的暂停参数；
B4、设置关机断电时长；
B5、设置开机上电时长；
B6、设置测试次数设定值；
B7、判断是否进入工作状态，若否，进入下一步，若是，转B9；
B8、判断是否修改设定参数，若是，转B2，若否，进入下一步；
B9、进入AT模式工作状态。


3.根据权利要求2所述的电脑主板测试治具控制方法，其特征在于：ATX模式参数设定，包括以下步骤：
C1、判断是否接收字符串，若是，进入下一步，若否，转C3；
C2、设置未确认开机前的暂停参数；
C3、设置电源键开机保持时间；
C4、设置电源键关机保持时间；
C5、设置关机断电时长；
C6、设置开机上电时长；
C7、设置测试次数设定值；
C8、判断是否进入工作状态，若否，进入下一步，若是，转C10；
C9、判断是否修改设定参数，若是，转C1，若否，进入下一步；
C10、进入ATX模式工作状态。


4.根据权利要求2或3所述的电脑主板测试治具控制方法，其特征在于：设置未确认开机前的暂停参数，是在未确认开机前，是否需要暂停，若需要暂停，则暂停参数设置为是，若不需要暂停，则暂停参数设置为否。


5.根据权利要求1所述的电脑主板测试治具控制方法，其特征在于：在AT模式工作状态，包括以下步骤：
D1、接通AC电源；
D2、判断是否需要检查开...

【专利技术属性】
技术研发人员：李福松，杜亚松，赵海建，孙海伟，
申请(专利权)人：芯发威达电子上海有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31