【技术实现步骤摘要】
显示面板及其测试方法
本申请涉及显示面板
,尤其涉及一种显示面板及其测试方法。
技术介绍
随着显示技术的发展,LCD显示面板得到了广泛的应用,现有TFT-LCDFullInCell显示面板中,一般是采用TFTArray侧的VCOM电极作为触控层,为了既防止静电干扰面板内液晶偏转,又不影响触控层对手指信号的侦测,会在彩膜层远离所述面制备一层去静电膜,然后通过导电胶(Ag胶)将去静电膜与接地接垫(AgPad)连接(接地接垫是接地的)。因此,若彩膜层玻璃背面有静电积累时,静电就可以依次通过去静电膜、导电胶、接地接垫接地,不会在彩膜层玻璃背侧积累静电,从而干扰液晶显示;在TFT-LCD显示面板在制作过程中,会先进行CellTest测试(即CT测试),通过治具给Panel上的测试接垫(CTPad)提供信号,测试接垫将信号传送给信号线路,由信号线路提供显示画面所需的信号,测试合格后进行模组(MOD)制作(至少包括导电胶涂布、集成电路绑定等),然后进行模组点灯测试,现有显示面板由于精细化和高集成度,测试接垫与接地接垫距离较近,在涂布导电胶使高阻膜或导电偏光片与接地接垫连接的过程中,导电胶较有可能会涂到测试接垫上,将两个或多个测试接垫短接,或测试接垫与接地接垫短接,由于CT测试和模组点灯测试所用的信号线路直接相连,从而也会导致模组点灯测试时信号短路,画面显示异常,并有大电流等现象,不仅对电路造成损坏也影响模组点灯测试的进行。
技术实现思路
本申请实施例提供一种显示面板及其测试方法,以解决由于涂布导电 ...
【技术保护点】
1.一种显示面板,其特征在于,包括显示区和非显示区;/n所述显示面板包括:/n基板;/nTFT层,设置于所述基板上,所述TFT层包括TFT阵列子层和多条信号线路,所述TFT阵列子层与所述显示区相对应设置;/n测试接垫组,设置于所述非显示区,所述测试接垫组包括多个测试接垫,多条所述信号线路一端与所述TFT阵列子层连接,多条所述信号线路另一端分别与各所述测试接垫连接;/n两接地接垫,分别设置于所述测试接垫组两侧,且位于所述非显示区;/n集成电路,设置于所述非显示区,每一所述信号线路与对应的所述测试接垫之间设有一与所述集成电路连接的测试节点,所述集成电路通过各所述测试节点分别与各所述信号线路连接;及/n开关接垫组,设置于所述非显示区,所述开关接垫组至少包括一开关接垫;/n其中,所述测试接垫组中至少部分靠近所述接地接垫的所述测试接垫通过控制开关与所述信号线路连接,每一所述控制开关的两通路端分别与对应的所述测试接垫和所述测试节点电性连接,各所述控制开关的控制端分别与所述开关接垫组和所述集成电路连接。/n
【技术特征摘要】
1.一种显示面板,其特征在于,包括显示区和非显示区;
所述显示面板包括:
基板;
TFT层,设置于所述基板上,所述TFT层包括TFT阵列子层和多条信号线路,所述TFT阵列子层与所述显示区相对应设置;
测试接垫组,设置于所述非显示区,所述测试接垫组包括多个测试接垫,多条所述信号线路一端与所述TFT阵列子层连接,多条所述信号线路另一端分别与各所述测试接垫连接;
两接地接垫,分别设置于所述测试接垫组两侧,且位于所述非显示区;
集成电路,设置于所述非显示区,每一所述信号线路与对应的所述测试接垫之间设有一与所述集成电路连接的测试节点,所述集成电路通过各所述测试节点分别与各所述信号线路连接;及
开关接垫组,设置于所述非显示区,所述开关接垫组至少包括一开关接垫;
其中,所述测试接垫组中至少部分靠近所述接地接垫的所述测试接垫通过控制开关与所述信号线路连接,每一所述控制开关的两通路端分别与对应的所述测试接垫和所述测试节点电性连接,各所述控制开关的控制端分别与所述开关接垫组和所述集成电路连接。
2.如权利要求1所述的显示面板,其特征在于,两所述接地接垫分别为第一接地接垫和第二接地接垫,所述测试接垫组包括靠近所述第一接地接垫的第一测试接垫子组、以及靠近所述第二接地接垫的第二测试接垫子组,所述开关接垫组设置于所述第一测试接垫子组与所述第二测试接垫子组之间。
3.如权利要求2所述的显示面板,其特征在于,所述第一测试接垫子组中部分靠近所述第一接地接垫的所述测试接垫通过所述控制开关与所述信号线路连接,所述第二测试接垫子组中部分靠近所述第二接地接垫的所述测试接垫通过所述控制开关与所述信号线路连接。
4.如权利要求2所述的显示面板,其特征在于,所述第一测试接垫子组中各所述测试接垫均通过所述控制开关与所述信号线路连接,所述第二测试接垫子组中各所述测试接垫均通过所述控制开关与所述信号...
【专利技术属性】
技术研发人员:郑力华,
申请(专利权)人:武汉华星光电技术有限公司,
类型:发明
国别省市:湖北;42
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