显示面板测试线路及测试方法技术

本申请实施例公开了一种显示面板测试线路及测试方法，包括：多个测试信号垫，每一所述测试信号垫均与显示面板连接；多个晶体管，多个所述晶体管与多个所述测试信号垫一一对应，每个所述晶体管的源极均与相应的信号线连接，每个所述晶体管的漏极均与相应的所述测试信号垫连接，多个所述晶体管对应一共用栅极；以及控制信号垫，所述控制信号垫与所述共用栅极连接。该方案避免了测试信号垫短路，提高了显示面板的显示效果。

Display panel test circuit and test method

【技术实现步骤摘要】
显示面板测试线路及测试方法
本申请涉及显示
，具体涉及一种显示面板测试线路及测试方法。
技术介绍
在显示面板制作过程中，需要在各个阶段对面板性能进行检测，以提高显示面板的良率。为了便于测试，一般会在基板上设置测试信号垫，用于接收外部测试信号。然而，采用激光切割技术将显示面板母板切割成多个小尺寸面板时，切割处会产生导电异物，如各小尺寸显示面板之间信号线熔融产生的金属碎屑或柔性衬底碳化产生的碳粒，从而造成测试信号垫短路，引起显示面板显示异常。
技术实现思路
本申请实施例提供一种显示面板测试线路及测试方法，以解决激光切割显示面板时产生的导电异物造成测试信号垫短路，引起显示面板显示异常的问题。本申请提供一种显示面板测试线路，包括：多个测试信号垫，每一所述测试信号垫均与显示面板连接；多个晶体管，多个所述晶体管与多个所述测试信号垫一一对应，每个所述晶体管的源极均与相应的信号线连接，每个所述晶体管的漏极均与相应的所述测试信号垫连接，多个所述晶体管对应一共用栅极；以及控制信号垫，所述控制信号垫与本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种显示面板测试线路，其特征在于，包括：/n多个测试信号垫，每一所述测试信号垫均与显示面板连接；/n多个晶体管，多个所述晶体管与多个所述测试信号垫一一对应，每个所述晶体管的源极均与相应的信号线连接，每个所述晶体管的漏极均与相应的所述测试信号垫连接，多个所述晶体管对应一共用栅极；以及/n控制信号垫，所述控制信号垫与所述共用栅极连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种显示面板测试线路，其特征在于，包括：
多个测试信号垫，每一所述测试信号垫均与显示面板连接；
多个晶体管，多个所述晶体管与多个所述测试信号垫一一对应，每个所述晶体管的源极均与相应的信号线连接，每个所述晶体管的漏极均与相应的所述测试信号垫连接，多个所述晶体管对应一共用栅极；以及
控制信号垫，所述控制信号垫与所述共用栅极连接。


2.根据权利要求1所述的显示面板测试线路，其特征在于，每一所述晶体管均包括一源漏极区域，多个所述源漏极区域间隔设置；
其中，所述共用栅极横跨多个所述源漏极区域。


3.根据权利要求2所述的显示面板测试线路，其特征在于，所述共用栅极包括多个第一栅极部以及多个第二栅极部，所述第一栅极部位于所述源漏极区域内，所述第二栅极部设置在相邻所述第一栅极部之间；
其中，所述第二栅极部的宽度等于所述第一栅极部的宽度。


4.根据权利要求3所述的显示面板测试线路，其特征在于，所述共用栅极还包括第三栅极部，所述第三栅极部用于连接所述控制信号垫。


5.根据权利要求4所述的显示...

【专利技术属性】
技术研发人员：吕林鸿，
申请(专利权)人：武汉华星光电半导体显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北;42