一种半导体VREF基准值测试设备制造技术

本实用新型专利技术公开了一种半导体VREF基准值测试设备，涉及半导体检测技术领域，为解决现有技术中的半导体参考电压的检测程序较为繁琐，需要多种仪器配合检测计算，测试效率较低的问题。所述固定底座的上方设置有控制台，所述控制台的外表面设置有数值显示屏，所述数值显示屏的一侧设置有控制按键，所述数值显示屏的另一侧设置有第一调节旋钮，所述第一调节旋钮的一侧设置有第二调节旋钮，所述第二调节旋钮的上方设置有电源开关，所述控制台的上方设置有第一检测台，所述第一检测台的一侧设置有第二检测台，所述第一检测台和第二检测台的一侧均设置有外接放电孔，所述第一检测台和第二检测台的另一侧均设置有移动轨杆，且移动轨杆有两个。

A semiconductor VREF reference value testing equipment

【技术实现步骤摘要】
一种半导体VREF基准值测试设备
本技术涉及半导体检测
，具体为一种半导体VREF基准值测试设备。
技术介绍
半导体，指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料。半导体在收音机、电视机以及测温上有着广泛的应用。如二极管就是采用半导体制作的器件。半导体是指一种导电性可受控制，范围可从绝缘体至导体之间的材料。无论从科技或是经济发展的角度来看，半导体的重要性都是非常巨大的；而参考电压是指电路中一个与负载、功率供给、温度漂移、时间等无关，能保持始终恒定的一个电压。参考电压可以被用于电源供应系统的稳压器，模拟数字转换器和数字模拟转换器，以及许多其他测量、控制系统。参考电压的大小在不同的应用中有所不同，例如在一般的计算机电源供应系统里，参考电压误差不大于其标称值附近百分之一至百分之几间，而实验室的参考电压标准则拥有更高的、以百万分率度量的稳定性和精确度。但是，现有的半导体参考电压的检测程序较为繁琐，需要多种仪器配合检测计算，测试效率较低；因此，不满足现有的需求，对此我们提出了一种半导体VREF基准值测试设备。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种半导体VREF基准值测试设备，以解决上述
技术介绍
中提出的半导体参考电压的检测程序较为繁琐，需要多种仪器配合检测计算，测试效率较低的问题。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种半导体VREF基准值测试设备，包括固定底座，所述固定底座的上方设置有控制台，所述控制台的外表面设置有数值显示屏，所述数值显示屏的一侧设置有控制按键，所述数值显示屏的另一侧设置有第一调节旋钮，所述第一调节旋钮的一侧设置有第二调节旋钮，所述第二调节旋钮的上方设置有电源开关，所述控制台的上方设置有第一检测台，所述第一检测台的一侧设置有第二检测台，所述第一检测台和第二检测台的一侧均设置有外接放电孔，所述第一检测台和第二检测台的另一侧均设置有移动轨杆，且移动轨杆有两个，所述移动轨杆的上方设置有控制滑块，且控制滑块有两个，所述控制滑块的一侧设置有支撑轴，所述支撑轴的下方设置有调节轨道，所述调节轨道的下方设置有第一检测探针，所述第一检测探针的一侧设置有第二检测探针，所述移动轨杆的下方设置有元件检测槽，所述元件检测槽的内部设置有夹具横杆，所述夹具横杆的上方设置有元件固定块，所述元件固定块的外侧设置有元件夹板，且元件夹板有四个。优选的，所述控制台与固定底座通过螺栓连接，所述控制台与第一检测台和第二检测台固定连接。优选的，所述第一检测台和第二检测台与移动轨杆通过卡槽连接，所述移动轨杆与控制滑块通过滑槽滑动连接。优选的，所述控制滑块与支撑轴焊接连接，所述支撑轴与调节轨道通过螺栓连接。优选的，所述夹具横杆与第一检测台和第二检测台焊接连接，所述夹具横杆与元件固定块通过支架连接。优选的，所述元件固定块与元件夹板通过滑槽滑动连接，所述第一检测台和第二检测台与外接放电孔固定连接。与现有技术相比，本技术的有益效果是：本技术通过将半导体固定放置在检测台上对其进行检测，从而得出该半导体的各项电压电流的数值，最后进行计算得出该半导体的参考电压基准值，不同于以往的检测方式，无需使用万用表等仪器配合对半导体进行检测，本装置只需在半导体放置后，便会通过两端的通电探针对半导体进行电路的测试，在测试时可以调整探针的检测位置，从而得出不同基点的电压电流，并进行记录，在测试结束后，会根据所设置的参考公式进行计算，得出参考电压的数值。附图说明图1为本技术的整体主视图；图2为本技术的整体俯视图；图3为本技术的支撑轴结构示意图。图中：1、固定底座；2、控制台；3、第一检测台；4、外接放电孔；5、第二检测台；6、第一调节旋钮；7、第二调节旋钮；8、控制按键；9、电源开关；10、数值显示屏；11、移动轨杆；12、控制滑块；13、元件检测槽；14、支撑轴；15、夹具横杆；16、元件夹板；17、元件固定块；18、第一检测探针；19、第二检测探针；20、调节轨道。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。请参阅图1-3，本技术提供的一种实施例：一种半导体VREF基准值测试设备，包括固定底座1，固定底座1的上方设置有控制台2，控制台2的外表面设置有数值显示屏10，显示反馈数据，数值显示屏10的一侧设置有控制按键8，数值显示屏10的另一侧设置有第一调节旋钮6，第一调节旋钮6的一侧设置有第二调节旋钮7，调节电压以及电流的大小，第二调节旋钮7的上方设置有电源开关9，控制台2的上方设置有第一检测台3，第一检测台3的一侧设置有第二检测台5，第一检测台3和第二检测台5的一侧均设置有外接放电孔4，第一检测台3和第二检测台5的另一侧均设置有移动轨杆11，且移动轨杆11有两个，移动轨杆11的上方设置有控制滑块12，且控制滑块12有两个，控制滑块12的一侧设置有支撑轴14，支撑轴14的下方设置有调节轨道20，调节轨道20的下方设置有第一检测探针18，第一检测探针18的一侧设置有第二检测探针19，进行检测，移动轨杆11的下方设置有元件检测槽13，元件检测槽13的内部设置有夹具横杆15，夹具横杆15的上方设置有元件固定块17，元件固定块17的外侧设置有元件夹板16，且元件夹板16有四个，对半导体元件进行固定。进一步，控制台2与固定底座1通过螺栓连接，控制台2与第一检测台3和第二检测台5固定连接，增强稳定性。进一步，第一检测台3和第二检测台5与移动轨杆11通过卡槽连接，移动轨杆11与控制滑块12通过滑槽滑动连接，便于位置的移动。进一步，控制滑块12与支撑轴14焊接连接，支撑轴14与调节轨道20通过螺栓连接，便于进行安装固定。进一步，夹具横杆15与第一检测台3和第二检测台5焊接连接，夹具横杆15与元件固定块17通过支架连接，便于进行使用。进一步，元件固定块17与元件夹板16通过滑槽滑动连接，第一检测台3和第二检测台5与外接放电孔4固定连接，便于进行外接电源。工作原理：使用时，先将半导体元件放置在元件固定块17上，并通过其两侧的元件夹板16来调节对半导体元件进行固定，之后将电源插头分别与两个检测台外侧的外接放电孔4进行连接，开启电源，通过调节旋钮可以对释放的电压电流进行调节控制，然后控制移动轨杆11上的控制滑块12进行移动，使其一侧的支撑轴14移动停留在半导体元件的上方，并通过支撑轴14下方的探测针对半导体进行电路的检测，在测试的过程中使用者还可以调节轨道20通调整探针的检测位置，从而得出不同基点的电压电流，该数据会显示在数值显示屏10上，以便使用者进行观察和记录，在测试结束后，会将所有的数据根据所设置的参考公式进行计算，得出半导体的参考电压数值。对于本领域技术人员而言，显然本技术不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本技术的精神或基本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种半导体VREF基准值测试设备，包括固定底座(1)，其特征在于：所述固定底座(1)的上方设置有控制台(2)，所述控制台(2)的外表面设置有数值显示屏(10)，所述数值显示屏(10)的一侧设置有控制按键(8)，所述数值显示屏(10)的另一侧设置有第一调节旋钮(6)，所述第一调节旋钮(6)的一侧设置有第二调节旋钮(7)，所述第二调节旋钮(7)的上方设置有电源开关(9)，所述控制台(2)的上方设置有第一检测台(3)，所述第一检测台(3)的一侧设置有第二检测台(5)，所述第一检测台(3)和第二检测台(5)的一侧均设置有外接放电孔(4)，所述第一检测台(3)和第二检测台(5)的另一侧均设置有移动轨杆(11)，且移动轨杆(11)有两个，所述移动轨杆(11)的上方设置有控制滑块(12)，且控制滑块(12)有两个，所述控制滑块(12)的一侧设置有支撑轴(14)，所述支撑轴(14)的下方设置有调节轨道(20)，所述调节轨道(20)的下方设置有第一检测探针(18)，所述第一检测探针(18)的一侧设置有第二检测探针(19)，所述移动轨杆(11)的下方设置有元件检测槽(13)，所述元件检测槽(13)的内部设置有夹具横杆(15)，所述夹具横杆(15)的上方设置有元件固定块(17)，所述元件固定块(17)的外侧设置有元件夹板(16)，且元件夹板(16)有四个。/n...

【技术特征摘要】
1.一种半导体VREF基准值测试设备，包括固定底座(1)，其特征在于：所述固定底座(1)的上方设置有控制台(2)，所述控制台(2)的外表面设置有数值显示屏(10)，所述数值显示屏(10)的一侧设置有控制按键(8)，所述数值显示屏(10)的另一侧设置有第一调节旋钮(6)，所述第一调节旋钮(6)的一侧设置有第二调节旋钮(7)，所述第二调节旋钮(7)的上方设置有电源开关(9)，所述控制台(2)的上方设置有第一检测台(3)，所述第一检测台(3)的一侧设置有第二检测台(5)，所述第一检测台(3)和第二检测台(5)的一侧均设置有外接放电孔(4)，所述第一检测台(3)和第二检测台(5)的另一侧均设置有移动轨杆(11)，且移动轨杆(11)有两个，所述移动轨杆(11)的上方设置有控制滑块(12)，且控制滑块(12)有两个，所述控制滑块(12)的一侧设置有支撑轴(14)，所述支撑轴(14)的下方设置有调节轨道(20)，所述调节轨道(20)的下方设置有第一检测探针(18)，所述第一检测探针(18)的一侧设置有第二检测探针(19)，所述移动轨杆(11)的下方设置有元件检测槽(13)，所述元件检测槽(13)的内部设置有夹具横杆(15)，所述夹具横杆(15)的上方设置有元件固定块(17)，所述元件固定块(17)...

【专利技术属性】
技术研发人员：邢小亮，
申请(专利权)人：无锡世百德微电子有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32